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本实用新型公开了一种高分子材料损坏原位测试装置，包括设备外壳，所述设备外壳底部固定安装有放置底座，所述放置底座上表面放置有测试材料，所述测试材料上表面位于一端边缘处安装有激光发射器，所述设备外壳顶部固定安装有挤压机构，所述设备外壳顶部位于挤...
该专利属于深圳市天月明包装制品有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市天月明包装制品有限公司授权不得商用。

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