【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及检测位于检测面上的指示体的位置检测装置，尤其涉及在摄像部分中使用了区域(area)图像传感器的位置检测装置。
技术介绍
检测位于检测面上的指示体的位置检测装置有电磁感应式、压敏式、光学式等各种形式。电磁感应阈值检测装置是根据指示体自身所发射电磁波的发射强度的平面分布来求出2维坐标的装置。在该方式中，需要发射电磁波的专用的指示体，而无法利用手指等进行输入。压敏式位置检测装置是在检测面上配置有电阻覆盖膜等，通过该电阻覆盖膜等检测指示体的指示位置并输出指示位置坐标的装置。然而，在压敏式位置检测装置中，存在如果使用尖端锐利的指示体会划破检测面的问题。另外，在用于与显示装置组合在一起的所谓触摸面板显示装置的情况下，由于是隔着电阻覆盖膜等来观察显示画面，所以存在显示变暗等问题。特开昭62-5428号公报以及特开平11-85377号公报等所公开的光学式位置检测装置是利用2个摄像部分从2个位置对安置于检测面上的指示体进行拍摄，通过三角测量的原理求出指示体的指示坐标位置的装置。该装置是通过图像识别等来检测指示体的形状并输出指示位置坐标的装置、或在指示体或检测面的周...
【技术保护点】
一种检测位于检测面上的指示体的位置检测装置，其特征在于：具有一对摄像部分、选择装置、和图像处理装置，所述一对摄像部分包括将感光元件呈二维排列的区域图像传感器和成像透镜，从所述检测面侧的２个部位以某一视野对所述检测面上进行拍摄并输出图 像信号；所述选择装置以所述图像信号作为输入信号，从所述感光元件中选择出与所述某一视野内的特定视野相对应的特定像素；所述图像处理装置将与所述选择装置选择的所述特定像素相对应的特定图像信号作为输入进行图像处理，并输出所述指示体指 示的在检测面上的指示位置的坐标。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2003-5-19 139860/20031.一种检测位于检测面上的指示体的位置检测装置，其特征在于具有一对摄像部分、选择装置、和图像处理装置，所述一对摄像部分包括将感光元件呈二维排列的区域图像传感器和成像透镜，从所述检测面侧的2个部位以某一视野对所述检测面上进行拍摄并输出图像信号；所述选择装置以所述图像信号作为输入信号，从所述感光元件中选择出与所述某一视野内的特定视野相对应的特定像素；所述图像处理装置将与所述选择装置选择的所述特定像素相对应的特定图像信号作为输入进行图像处理，并输出所述指示体指示的在检测面上的指示位置的坐标。2.权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于，所述摄像部分还具有沿检测面上发光的光源，该光源配置在所述成像透镜的附近。3.权利要求2所述的位置检测装置，其特征在于，还具有将所述光进行向后反射的向后反射部件。4.权利要求3所述的位置检测装置，其特征在于，所述向后反射部件设置在所述指示体上。5.权利要求3所述的位置检测装置，其特征在于，所述向后反射部件设置在所述检测面的至少周围3个边上。6.权利要求5所述的位置检测装置，其特征在于，对应于所述特定像素的所述特定视野是包含所述向后反射部件的像的一部分或者全部的区域。7.权利要求1～4的任一项所述的位置检测装置，其特征在于，还具有作为对所述摄像部分拍摄的所述特定视野进行划定的基准的标记装置，以所述标记装置为基准，所述选择装置从所述感光元件中选择出与所述特定视野相对应的特定像素。8.权利要求7所述的位置检测装置，其特征在于，所述标记装置配置在所述检测面的至少4个部位。9.权利要求7或8所述的位置检测装置，其特征在于，所述标记装置是构成为使反射像成为特征形状的向后反射部件。10.权利要求7或8所述的位置检测装置，其特征在于，所述标记装置是发射光线的发光部分。11.权利要求10所述的位置检测装置，其特征在于，所述标记装置是构成为使发光像为特征形状的发光部分。12.权利要求10或11所述的位置检测装置，其特征在于，所述发光部分仅在划定所述特定视野时发光。13.权利要求1～12中任一项所述的位置检测装置，其特征在于，还具有校准装置，该校准装置自动地以规定的间隔或者以手动方式任意地使所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：小川保二，恒崎贤仁，
申请(专利权)人：株式会社伊特，株式会社施乐库，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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