本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试探针及相应的测试装置，包含测试箱、压合组件及探针组件，所述测试箱的上表面一侧设有压合组件，且测试箱中等距地固定安装有探针组件，所述测试箱的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件，本实用新型专利技术针对夹持位置的调整方式作出了改进，利用卡条的卡接控制齿条的逐齿滑动和有效防松动，在保证调节精度的同时，在调节完成后不容易松动，避免了采用电气驱动结构带来的装置复杂，体积庞大，成本较高的一系列不适用的问题，另外转移组件中导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，避免经过第二弹簧，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试探针及相应的测试装置
本技术涉及集成电路测试领域，具体为一种集成电路测试探针及相应的测试装置。
技术介绍
集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。现有的集成电路测试往往是通过特定的探针来进行的，探针的一侧与集成电路的引脚进行对接，另一侧与检测终端相连接，在进行检测时，需要对装有集成电路的PCB板先进行夹持，再压合使其与探针接触，而PCB板的大小不一，所以夹持作用需要一定的调节结构，但现有的机械式调节结构很难保证调节精度，同时在调节完成后不容易松动，采用电气驱动结构虽然可以很好地完成上述要求，但是电气驱动要求的装置复杂，体积庞大，成本较高，不是十分适用。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种通过自动止停结构来使得装置的夹持组件在位置调整后具有难以松动的特性，并且调节的距离具有均衡的尺度，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试探针，包含外筒、内筒、卡槽、转移组件、触头、隔离柱、第二弹簧及卡头，所述外筒中滑动插接有内筒，且内筒的外壁上开设有卡槽，所述外筒与内筒间设有转移组件，且转移组件远离内筒的一侧设有触头，所述转移组件远离触头的一侧设有隔离柱，所述内筒中设有第二弹簧，所述第二弹簧一端与隔离柱固定连接，且第二弹簧另一端插接在卡头中，所述卡头与卡槽相配合，在进行测试时，触头与集成电路的引脚相接触，在受到压合作用时，在第二弹簧的作用下，转移组件、触头及隔离柱会相对内筒筒壁进行滑动，卡头与卡槽的配合为滑动作用提供限位。优选的，所述转移组件包括导通环、传输线、固定块及电容，所述隔离柱远离第二弹簧的一侧固定安装有导通环，且导通环中固定插接有触头，所述导通环的外壁上对称地固定连接有传输线，所述固定块对称地固定安装在隔离柱的外壁上，且传输线与固定块穿插连接，所述固定块远离导通环的一侧设有电容，且电容固定穿插在传输线上，在原有的探针结构中，触头与第二弹簧直接相连接，由于第二弹簧具有导电性，且呈螺旋状，导致整个探针组件的自感较大，因此导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，通过固定块的限位作用，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。优选的，所述测试箱、压合组件及探针组件，所述测试箱的上表面一侧设有压合组件，且测试箱中等距地固定安装有探针组件，所述测试箱的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件。优选的，所述压合组件包括限位框、电动推杆、顶盖及压板，所述测试箱上表面探针组件的外侧固定安装有限位框，且测试箱四角处均固定安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端与顶盖的下表面固定连接，所述顶盖的下表面上固定安装有压板，在进行测试时先将集成电路的引脚部位与限位框中探针组件的位置对齐，然后使用夹持组件对集成电路的安装部位进行夹持，再通过电动推杆的收缩使顶盖下移，压板对集成电路进行挤压，使得集成电路的引脚部位与探针组件的感应端挤压接触并通电即可。优选的，所述夹持组件包括基座、挡板、滑槽、齿条、夹头、半齿轮、扳手、卡条及第一弹簧，所述测试箱的一侧对称地固定安装有基座，且基座远离测试箱的一侧固定安装有挡板，所述基座上表面开设有滑槽，且滑槽中滑动连接有齿条，所述齿条远离挡板的一端固定安装有夹头，所述基座靠近齿条的一侧转动连接有半齿轮，且半齿轮的上表面固定连接有扳手，所述半齿轮一侧与齿条啮合，所述基座远离半齿轮的一侧转动连接有卡条，所述卡条远离的挡板一侧与齿条啮合，且卡条的另一侧通过第一弹簧与挡板弹性连接，在夹持时，首先将装有集成电路的PCB板插接在一侧的夹头中，然后摆动另一侧的扳手，使得半齿轮逐齿转动，齿条逐齿滑动伸长，直至将PCB板稳定插接即可，另外齿条远离半齿轮一侧的卡条在第一弹簧的弹力作用下，会不断对卡条形成卡接，这样，当齿条停止滑动时，卡条的卡接作用会有效地防止齿条的松动。优选的，所述滑槽的底部槽面上固定安装有弹性橡胶垫，且橡胶垫与齿条下表面挤压接触，为压合组件的压合作用提供一定的配合。优选的，所述夹头远离齿条的一端内侧对称地固定安装有海绵块，既可以绝缘又可以在测试时保护集成电路的安装部位免受损伤。优选的，所述基座与测试箱的外壁间固定安装有加强筋，提高夹持组件的结构强度，保证精确的调节效果。优选的，所述扳手远离半齿轮一侧的外壁上均匀分布有网状斜纹，增加扳手与人手接触面的摩擦力，更加方便人手的反复提拉。与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术在分析现有的集成电路相关的测试步骤后，针对夹持位置的调整方式作出了改进，利用卡条的卡接控制齿条的逐齿滑动和有效防松动，在保证调节精度的同时，在调节完成后不容易松动，避免了采用电气驱动结构带来的装置复杂，体积庞大，成本较高的一系列不适用的问题，另外转移组件中导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，避免经过第二弹簧，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。附图说明图1为本技术整体结构示意图；图2为本技术夹持组件第一结构示意图；图3为本技术夹持组件第二结构示意图；图4为图1中A处结构放大示意图。图中：1、测试箱；2、压合组件；21、限位框；22、电动推杆；23、顶盖；24、压板；3、夹持组件；31、基座；32、挡板；33、滑槽；34、齿条；35、夹头；36、半齿轮；37、扳手；38、卡条；39、第一弹簧；4、探针组件；41、外筒；42、内筒；43、卡槽；44、转移组件；441、导通环；442、传输线；443、固定块；444、电容；45、触头；46、隔离柱；47、第二弹簧；48、卡头。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，图示中的一种集成电路测试探针及相应的测试装置，包含测试箱1、压合组件2及探针组件4，所述测试箱1的上表面一侧设有压合组件2，且测试箱1中等距地固定安装有探针组件4，所述测试箱1的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件3。请参阅图1，所述压合组件2包括限位框21、电动推杆22、顶盖23及压板24，所述测试箱1上表面探针组件4的外侧固定安装有限位框21，且测试箱1四角处均固定安装有电动推杆22，所述电动推杆22的输出端与顶盖23的下表面固定连接，所述顶盖23的下表面上固定安装有压板24，在进行测试时先将集成电路的引脚部位与限位框21中探针组件4的位置对齐，然后使用夹持组件3对集成电路的安装部位进行夹持，再通过电动推杆22的收缩使顶盖23下移，压板24对集成电路进行挤压，使本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试探针，其特征在于：包含外筒(41)、内筒(42)、卡槽(43)、转移组件(44)、触头(45)、隔离柱(46)、第二弹簧(47)及卡头(48)，所述外筒(41)中滑动插接有内筒(42)，且内筒(42)的外壁上开设有卡槽(43)，所述外筒(41)与内筒(42)间设有转移组件(44)，且转移组件(44)远离内筒(42)的一侧设有触头(45)，所述转移组件(44)远离触头(45)的一侧设有隔离柱(46)，所述内筒(42)中设有第二弹簧(47)，所述第二弹簧(47)一端与隔离柱(46)固定连接，且第二弹簧(47)另一端插接在卡头(48)中，所述卡头(48)与卡槽(43)相配合。/n
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试探针，其特征在于：包含外筒(41)、内筒(42)、卡槽(43)、转移组件(44)、触头(45)、隔离柱(46)、第二弹簧(47)及卡头(48)，所述外筒(41)中滑动插接有内筒(42)，且内筒(42)的外壁上开设有卡槽(43)，所述外筒(41)与内筒(42)间设有转移组件(44)，且转移组件(44)远离内筒(42)的一侧设有触头(45)，所述转移组件(44)远离触头(45)的一侧设有隔离柱(46)，所述内筒(42)中设有第二弹簧(47)，所述第二弹簧(47)一端与隔离柱(46)固定连接，且第二弹簧(47)另一端插接在卡头(48)中，所述卡头(48)与卡槽(43)相配合。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试探针，其特征在于：所述转移组件(44)包括导通环(441)、传输线(442)、固定块(443)及电容(444)，所述隔离柱(46)远离第二弹簧(47)的一侧固定安装有导通环(441)，且导通环(441)中固定插接有触头(45)，所述导通环(441)的外壁上对称地固定连接有传输线(442)，所述固定块(443)对称地固定安装在隔离柱(46)的外壁上，且传输线(442)与固定块(443)穿插连接，所述固定块(443)远离导通环(441)的一侧设有电容(444)，且电容(444)固定穿插在传输线(442)上。
3.一种使用权利要求1-2中任一所述集成电路测试探针的测试装置，其特征在于：包含测试箱(1)、压合组件(2)及探针组件(4)，所述测试箱(1)的上表面一侧设有压合组件(2)，且测试箱(1)中等距地固定安装有探针组件(4)，所述测试箱(1)的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件(3)。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述压合组件(2)包括限位框(21)、电动推杆(22)、顶盖(23...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘文锋，
申请(专利权)人：深圳市海芯微迅半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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