一种地膜残留样本采集的辅助装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种地膜残留样本采集的辅助装置，包括至少一个限位框和一个测距仪，其中，限位框用于限制选取地块的长宽尺寸，测距仪用于在一边开挖、一边取土过程中测量已经开挖的土壤层的深度。本发明专利技术公开的提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，通过对开挖地膜残留样本过程中选取地块的长宽尺寸和挖掘深度的控制，简化了操作，提高了地膜残留样本采集的效率，减少了对人工的依赖，系统上降低了不同正方体样方或正方体坑槽长宽深度的差异，提高了地膜残留样本采集的标准化水平，从而降低了地膜残留样本处理结果的系统误差。

【技术实现步骤摘要】
一种地膜残留样本采集的辅助装置
本专利技术涉及采取土壤样品的设备，具体涉及一种地膜残留样本采集的辅助装置。
技术介绍
为了防止害虫侵袭作物和某些微生物引起的病害等以促进植物生长，越来越多的农田地面开始覆盖地膜。地膜即地面覆盖薄膜，通常是透明或黑色PE薄膜，也有绿、银色薄膜，用于地面覆盖，以提高土壤温度，保持土壤水分，维持土壤结构。随着近几十年设施农业的发展，我国地膜使用情况呈现出以下特点：(1)使用范围广，地膜在西北、东北、华北、华南等区域的农作物上普遍使用；(2)使用年代长，我国从上世纪80年代初引入地膜覆盖栽培技术，距今已有40年，地膜年复一年地残留在土壤内，对土壤的污染年代较长；(3)种类繁多，目前市面上的地膜按照作用机理及材质，可分为农用地膜、生物可降解地膜、覆盖地膜、电热地膜、液态地膜、塑料地膜、环保地膜、工程地膜、无纺布地膜，按照使用的农作物对象来分，又可分为大蒜地膜、草莓地膜、果树地膜、花生地膜、玉米地膜等。虽然地膜在我国农业生产中发挥重要的作用，但随着地膜使用量的不断增加，地膜残留污染逐渐凸显。为此，开展长期的、系统的农田土壤地膜残留污染监测与预警，对防治地膜残留污染，保护耕地质量尤为重要。开展地膜残留监测，就需要以地膜覆盖作物土壤为监测对象，对其进行地膜残留样本采集及处理。地膜残留样本采集首先需要选取较为平坦且具有地膜残留代表性的地块，目前地膜残留样本采集方法主要分为外挖法和内挖法两种，其中，外挖法要求先用铁丝围成一个“回”字形，在从该“回”字形内挖掘环形槽，以形成由环形槽围成的正方体样方，该环形槽类似于“护城河”，其中外圈为110cm×110cm、内圈为100cm×100cm，然后分层挖掘该正方体样方表面30cm土壤层并将其作为样品，最后过筛等处理后测定该样品的地膜残留量。内挖方省去环形槽的开挖，直接从选取的地块的中心区域向四周开挖，一边开挖，一边将取出的土壤作为样品并对其进行过筛等处理，同时测定开挖深度，直至开挖坑槽满足深度至30cm、长宽100cm×100cm为止。然而，无论是外挖法和内挖法，都要形成水平截面为正方形、高度或深度为30cm的正方体样方或正方体坑槽，目前的环形槽或正方体坑槽的挖掘对直尺的依赖过大，需要时常依靠直尺复合长宽尺寸和挖掘深度，不仅操作繁琐，降低了地膜残留样本采集的效率，而且容易导致不同正方体样方或正方体坑槽长宽深度的差异，无疑偏离样方或坑槽的设计标准，降低了地膜残留样本采集的标准化程度，增大了地膜残留样本处理结果的系统误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，用以解决现有地膜残留样本采集过程中采集效率低、地膜残留样本采集系统误差大等问题。本专利技术提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，包括至少一个限位框、一个水平杆和一个测距仪，所述限位框的形状为正方形，由四根相同长度的限位杆首尾连接围成；所述水平杆的两端设置于所述限位框的其中两根限位杆上，且能在所述限位框所在的平面移动；所述测距仪活动设置于所述水平杆上且能在所述水平杆上沿着所述水平杆长度方向自由移动；其中，所述限位框用于限制选取的较为平坦且具有地膜残留代表性的地块的长宽尺寸，所述测距仪用于在一边开挖、一边取土过程中测量已经开挖的土壤层的深度。优选地，所述限位杆上沿长度方向设置有滑槽，所述水平杆的一端为枢接端，另一端为自由度，所述水平杆设置有枢轴，所述枢轴设置于所述限位杆的滑槽内且能沿着所述限位杆的长度方向滑动。优选地，同一个所述限位框的相邻限位杆之间可拆卸连接。优选地，所述限位杆上沿长度方向设置有滑槽，且该滑槽延伸至所述限位杆的两端端部，同一个所述限位框的相邻限位杆相互垂直时，相邻限位杆的滑槽的重合部分形成连接孔，相邻限位杆的连接孔设置有螺栓以实现两者的可拆卸连接。优选地，所述水平杆上沿长度方向设置有测距仪滑槽，所述测距仪配置有测距仪滑块，所述测距仪通过所述测距仪滑块滑动设置于所述测距仪滑槽上。优选地，所述限位杆的长度为1m。优选地，当所述限位杆的长度为0.5m时，所述地膜残留样本采集的辅助装置包括四个限位框，且相邻的限位框共用一根限位杆；四根相同长度的限位杆首尾连接围成外圈为0.5m×0.5m的正方形，四个限位框拼接成一个1m×1m的正方形。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术公开的提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，限位框限制了选取地块的长宽尺寸，由于水平杆能在限位框所在的平面移动，测距仪又能在水平杆上沿着水平杆长度方向自由移动，通过对开挖地膜残留样本过程中选取地块的长宽尺寸和挖掘深度的控制，简化了操作，提高了地膜残留样本采集的效率，减少了对人工的依赖，系统上降低了不同正方体样方或正方体坑槽长宽深度的差异，提高了地膜残留样本采集的标准化水平，从而降低了地膜残留样本处理结果的系统误差。附图说明图1为本专利技术实施例1提供的当水平杆水平状态放置时的地膜残留样本采集的辅助装置的俯视图；图2为本专利技术实施例1提供的当水平杆倾斜状态放置时的地膜残留样本采集的辅助装置的俯视图；图3为本专利技术实施例1提供的限位框的俯视图；图4为本专利技术实施例1提供的当限位杆的长度为0.5m时四个限位框拼接成一个1m×1m的正方形的结构示意图。具体实施方式实施例1提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，包括限位框和测距仪，地膜残留样本采集过程中，首先，选取的较为平坦且具有地膜残留代表性的地块，然后从中心区域向四周开挖，一边开挖，一边将取土的过程中，限位框限制了选取地块的长宽尺寸，由于水平杆能在限位框所在的平面移动，测距仪又能在水平杆上沿着水平杆长度方向自由移动，因此测距仪在一边开挖、一边取土过程中能实现对开挖的土壤层的深度的测量。本专利技术公开的提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，通过对开挖地膜残留样本过程中选取地块的长宽尺寸和挖掘深度的控制，简化了操作，提高了地膜残留样本采集的效率，减少了对人工的依赖，系统上降低了不同正方体样方或正方体坑槽长宽深度的差异，提高了地膜残留样本采集的标准化水平，从而降低了地膜残留样本处理结果的系统误差。实施例1实施例1提供一种地膜残留样本采集的辅助装置，下面对其结构进行详细描述。参考图1至图2，一种地膜残留样本采集的辅助装置包括至少一个限位框1、一个水平杆2和一个测距仪3，参考图3，限位框1由四根相同长度的限位杆11首尾连接围成；限位框1的形状为正方形，优选地，限位杆11的长度为1m，四根相同长度的限位杆11围成一个边长为1m的正方形的限位框1。同一个限位框1的相邻限位杆11之间可拆卸连接，作为其中一种可拆卸连接的方式，该可拆卸连接形式为螺栓连接。具体地，限位杆11上沿长度方向设置有滑槽10，且该滑槽10延伸至限位杆11的两端端部。同一个限位框1的相邻限位杆11相互垂直时，相邻限位杆11的滑槽10的重合部分形成连接孔，相邻限位杆11的连接孔穿设有螺栓100，螺栓100的底部配设有螺母，以实现两者的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地膜残留样本采集的辅助装置，其特征在于，包括至少一个限位框(1)、一个水平杆(2)和一个测距仪(3)，/n所述限位框(1)的形状为正方形，由四根相同长度的限位杆(11)首尾连接围成；/n所述水平杆(2)的两端设置于所述限位框(1)的其中两根限位杆(11)上，且能在所述限位框(1)所在的平面移动；/n所述测距仪(3)活动设置于所述水平杆(2)上且能在所述水平杆(2)上沿着所述水平杆(2)长度方向自由移动；/n其中，所述限位框(1)用于限制选取的较为平坦且具有地膜残留代表性的地块的长宽尺寸，/n所述测距仪(3)用于在一边开挖、一边取土过程中测量已经开挖的土壤层的深度。/n

【技术特征摘要】
1.一种地膜残留样本采集的辅助装置，其特征在于，包括至少一个限位框(1)、一个水平杆(2)和一个测距仪(3)，
所述限位框(1)的形状为正方形，由四根相同长度的限位杆(11)首尾连接围成；
所述水平杆(2)的两端设置于所述限位框(1)的其中两根限位杆(11)上，且能在所述限位框(1)所在的平面移动；
所述测距仪(3)活动设置于所述水平杆(2)上且能在所述水平杆(2)上沿着所述水平杆(2)长度方向自由移动；
其中，所述限位框(1)用于限制选取的较为平坦且具有地膜残留代表性的地块的长宽尺寸，
所述测距仪(3)用于在一边开挖、一边取土过程中测量已经开挖的土壤层的深度。


2.如权利要求1所述的地膜残留样本采集的辅助装置，其特征在于，
所述限位杆(11)上沿长度方向设置有滑槽(10)，
所述水平杆(2)的一端为枢接端，另一端为自由度，所述水平杆(2)设置有枢轴(200)，
所述枢轴(200)设置于所述限位杆(11)的滑槽(10)内且能沿着所述限位杆(11)的长度方向滑动。


3.如权利要求1所述的地膜残留样本采集的辅助装置，其特征在于，
同一个所述限位框(1)的相邻限位杆(11)之间可拆卸连接。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘东生，史兴隆，王学霞，薛颖昊，邹国元，刘晓霞，
申请(专利权)人：北京市农林科学院，内蒙古工业大学，
类型：发明
国别省市：北京;11