电子元件自动测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，上料平台与下料平台结构相同，上料平台包括第一过渡盘和第一摆臂机构，第一过渡盘转动设置在机架上，第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；第一摆臂机构包括设置在机架上的第一安装座、设置在第一安装座上的第一皮带传动单元、与第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个第一活动曲柄转动连接的第一连杆、位于第一连杆上的第一真空吸嘴以及设置在第一安装座上并位于第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱。本实用新型专利技术有利于提高电子元件测试的效率。子元件测试的效率。子元件测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
电子元件自动测试设备


[0001]本技术涉及电子元件测试设备
，具体涉及一种电子元件自动测试设备。

技术介绍

[0002]近年来，随着电子元件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。
[0003]然而，传统电子元件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元件的产量需求。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提出一种电子元件自动测试设备，以解决传统的电子元件的测试效率相对较低的技术问题。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提出一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，其中：
[0006]所述供料平台包括设置在所述机架上的圆振、与所述圆振的出料口对接的上料导轨以及位于所述上料导轨下方的直振；
[0007]所述上料平台包括第一过渡盘和用于将位于所述上料导轨上的电子元件输送至所述第一过渡盘上的第一摆臂机构，所述第一过渡盘转动设置在所述机架上，所述第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；所述第一摆臂机构包括设置在所述机架上的第一安装座、设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第一真空吸嘴，所述第一摆臂机构还包括设置在所述第一安装座上并位于所述第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱；
[0008]所述测试平台具有用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；
[0009]所述下料平台包括第二过渡盘和用于将位于所述第二过渡盘上的电子元件输送至所述储料平台内的第二摆臂机构，所述第二过渡盘转动设置在所述机架上，所述第二过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构包括设置在所述机架上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二
皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱；
[0010]所述转运机械手设置在所述机架上并用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试平台上和用于将位于所述测试平台上的电子元件运输至所述第二过渡盘上；
[0011]所述储料平台设置在所述机架上并用于收纳测试后的电子元件。
[0012]优选地，所述测试平台包括底座和滑动设置在所述底座上并可沿竖直方向滑动的上盖，所述底座上设置测试下模，所述上盖上设置有测试上模，所述测试空间由所述测试下模和测试上模组合构成，所述测试探针位于所述测试下模和/或测试上模上。
[0013]优选地，所述测试下模上具有多个呈环状布置的测试腔，且所述测试腔的数量、所述第一容纳腔的数量以及所述第二容纳腔的数量相同；所述转运机械手包括设置在所述机架上的第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓取组件和第二抓取组件，所述第一抓取组件用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试下模上，所述第二抓取组件用于将位于所述测试下模上的电子元件运输至所述第二过渡盘上，所述第一抓取组件与所述第二抓取组件结构一致，分别包括：
[0014]滑动设置在所述第一安装板上的支撑臂和设置在所述支撑臂上的多个呈环状布置的第三真空吸嘴，且所述第三真空吸嘴的数量与所述第一容纳腔的数量相同，所述第三真空吸嘴可一一对应吸附位于所述第一容纳腔内的电子元件。
[0015]优选地，所述电子元件自动测试设备还包括设置在所述机架上的标准电子元件平台，所述标准电子元件平台包括标准电子元件治具和盖板，所述标准电子元件治具设置在所述机架上并具有多个用于放置单个标准电子元件的第三容纳腔，所述第三容纳腔的数量与所述第一容纳腔的数量相同并呈环状布置；所述盖板覆盖设置在所述标准电子元件治具上以封堵所述第一容纳腔的开口端；所述转运机械手可将位于所述标准电子元件平台上的标准电子元件输送至所述测试平台上。
[0016]优选地，所述盖板转动设置在所述标准电子元件治具上，且所述盖板上开设有与所述第三容纳腔一一对应的取料口。
[0017]优选地，所述储料平台包括第二安装板和多个第一收纳盒，所述第二安装板通过直线导轨设置在所述机架上并可沿水平方向移动，多个所述第一收纳盒位于所述第二安装板上并沿所述第二安装板的移动方向依次布置。
[0018]优选地，所述储料平台还包括罩设在多个所述第一收纳盒上的防尘罩，且所述防尘罩的顶部具有一个与所述第一收纳盒的开口端对接的通孔。
[0019]优选地，所述储料平台还包括设置在所述防尘罩顶部并位于所述通孔处的光电开关。
[0020]优选地，所述电子元件自动测试设备还包括摄像装置，所述摄像装置包括第一CCD组件、第二CCD组件和第三CCD组件，所述第一CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述上料导轨出料口出的电子元件，所述第二CCD组件设置在所述测试平台上并用于拍摄位于所述测试平台上的电子元件，所述第三CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述第二过渡盘上的电子元件。
[0021]优选地，所述电子元件自动测试设备还包括设置在所述机架上并位于所述第一真空吸嘴移动路径正下方的第二收纳盒。
[0022]本技术实施例提供的电子元件自动测试设备，通过利用第一摆臂机构抓取位于上料导轨上的电子元件，并利用转运机械手将位于第一过渡盘上的电子元件放置在测试空间内进行自动测试，且在测试完成后利用转运机械手将测试后的电子元件放置在第二过渡盘上，并利用第二摆臂机构将电子元件储料平台内，以此完成电子元件的自动测试与收纳，从而有利于提高电子元件测试的效率。
附图说明
[0023]图1为本技术中电子元件自动测试设备一实施例的结构示意图；
[0024]图2为图1中所示的电子元件自动测试设备一部分结构的示意图；
[0025]图3为图1中所示的电子元件自动测试设备又一部分结构的示意图；
[0026]图4为图2中所示的第一过渡盘、标准电子元件平台以及第二收纳盒的结构示意图；
[0027]图5为图2中所示的第一摆臂机构的结构示意图；
[0028]图6为图1中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件自动测试设备，其特征在于，包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，其中：所述供料平台包括设置在所述机架上的圆振、与所述圆振的出料口对接的上料导轨以及位于所述上料导轨下方的直振；所述上料平台包括第一过渡盘和用于将位于所述上料导轨上的电子元件输送至所述第一过渡盘上的第一摆臂机构，所述第一过渡盘转动设置在所述机架上，所述第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；所述第一摆臂机构包括设置在所述机架上的第一安装座、设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第一真空吸嘴，所述第一摆臂机构还包括设置在所述第一安装座上并位于所述第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱；所述测试平台具有用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；所述下料平台包括第二过渡盘和用于将位于所述第二过渡盘上的电子元件输送至所述储料平台内的第二摆臂机构，所述第二过渡盘转动设置在所述机架上，所述第二过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构包括设置在所述机架上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱；所述转运机械手设置在所述机架上并用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试平台上和用于将位于所述测试平台上的电子元件运输至所述第二过渡盘上；所述储料平台设置在所述机架上并用于收纳测试后的电子元件。2.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述测试平台包括底座和滑动设置在所述底座上并可沿竖直方向滑动的上盖，所述底座上设置测试下模，所述上盖上设置有测试上模，所述测试空间由所述测试下模和测试上模组合构成，所述测试探针位于所述测试下模和/或测试上模上。3.根据权利要求2所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述测试下模上具有多个呈环状布置的测试腔，且所述测试腔的数量、所述第一容纳腔的数量以及所述第二容纳腔的数量相同；所述转运机械手包括设置在所述机架上的第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃志胜，陈永寿，
申请(专利权)人：深圳市易胜德机械设备有限公司，
类型：新型
国别省市：