一种基于载板共用的可兼容性平台装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；载板接口A与载板接口B不同。本实用新型专利技术的基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好；能够实现载板在各种型号的测试机中通用，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛，极具应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于载板共用的可兼容性平台装置
本技术属于集成电路测试设备
，涉及一种基于载板共用的可兼容性平台装置。
技术介绍
随着芯片制程越来越小，其工艺难度也呈指数型上升。以10nm工艺为例，全工艺步骤数超过1300道，7nm工艺则超过1500道，其中任何一道工艺出错都可能导致生产的集成电路不合格，拉低良品率。因此，为了及时发现不稳定因素、提高生产良率，测试环节贯穿在集成电路的生产流程里，测试设备则是其中的关键。集成电路测试设备不仅可用于判断被测芯片或器件的合格性，同时还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息，有助于提高芯片制造水平，从源头提高芯片的性能和可靠性。集成电路测试设备主要包括测试机、探针台和分选机，其中测试机是最为重要的测试设备，其在所有的测试环节中均需要使用。目前由于不同型号测试机结构上的差异，导致其载板并不通用，不同型号的测试机需要配置不同型号的载板(如A1型号集成电路自动测试机工作时需使用专用的LB1载板，Q1型号集成电路自动测试机工作时需使用专用的LB2载板，A1或Q1型号集成电路自动测试机无法混用载板)，这极大地增加了硬件成本，极大地提高了测试机的应用门槛。因此，开发一种能够实现载板混用的兼容性平台极具现实意义。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术测试机与载板型号一一对应，极大地增加了硬件成本及测试机的应用门槛的缺陷，提供一种能够实现载板混用的兼容性平台，通过使用该兼容性平台，一方面能使得载板在各种型号的测试机中通用，另一方面，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；所述载板接口A与载板接口B不同。本技术的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好，载板是芯片与测试卡中间的关键件，在芯片测试过程中正是载板读取并运行测试卡上的程序对芯片进行测试(上述载板为统称，包括但不限于校验类载板(Calkit)，被测类载板(DUT)等等)，通过使用该基于载板共用的可兼容性平台装置能使得载板在各种型号的测试机中通用(可根据需要选择载板接口A及载板接口B的具体类型)，同时，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛。作为优选的技术方案：如上所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，所述基于载板共用的可兼容性平台装置包括平板；所述载板接口A布置在平板的上方，所述连接插槽布置在所述平板的侧后方。本技术的具体保护范围并不仅限于此，可兼容性平台装置的具体形状及其部件的布置本领域技术人员可根据实际需求进行选择，本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置甚至可以同时设有多种载板接口及多种连接插槽以满足不同测试机的需求，当然载板接口与连接插槽的具体连接关系需要根据实际需求进行设置。如上所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，所述平板的下方设有把手，通过所述把手操作者能够方便地安装或拆卸基于载板共用的可兼容性平台装置。如上所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，所述把手共有两个，其布置在平板的两侧，同时使用位于两侧的两把手可方便操作者安装或拆卸所述基于载板共用的可兼容性平台装置。如上所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，所述平板的后方设有与所述平板垂直的连接件，所述连接件位于平板的下方；所述连接件开有多个螺纹孔I，测试机的载板接口B侧与连接件对应位置设有与所述螺纹孔I匹配的螺纹孔II，使用螺丝依次穿过螺纹孔I和螺纹孔II即可实现基于载板共用的可兼容性平台装置与测试机的固定。本技术的保护范围并不仅限于此，连接件与测试机的具体连接形式本领域技术人员可根据实际需求进行选择，此处仅给出一种可行的技术方案而已。有益效果：(1)本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好；(2)本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置，能够实现载板在各种型号的测试机中通用，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛，极具应用前景。附图说明图1为本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置的使用示意图；其中，1-基于载板共用的可兼容性平台装置，11-载板接口A，12-连接件，13-把手，2-测试机，21-载板接口B，3-载板。具体实施方式下面结合附图，对本技术的具体实施方式做进一步阐述。实施例1一种基于载板共用的可兼容性平台装置，如图1所示，包括平板；平板的上方布置有用于连接载板3的载板接口A11，平板的侧后方布置有与测试机2上设有的载板接口B21匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A11通过电路连接，载板接口A11与载板接口B21不同；平板的下方设有两个把手13，两把手13分别布置在平板的两侧；平板的后方设有与平板垂直的连接件12，连接件12位于平板的下方；连接件12开有多个螺纹孔I，测试机的载板接口B侧与连接件对应位置设有与螺纹孔I匹配的螺纹孔II，使用螺丝依次穿过螺纹孔I和螺纹孔II即可实现基于载板共用的可兼容性平台装置1与测试机2的固定；本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置的使用状态图如图1所示，将连接插槽插入测试机2上设有的载板接口B21后通过连接件完成基于载板共用的可兼容性平台装置1与测试机2的固定，测试机2即可通过基于载板共用的可兼容性平台装置1使用与测试机2原有载板接口B21不匹配的载板3(与载板接口A11对应)。经验证，本技术的基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好；能够实现载板在各种型号的测试机中通用，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛，极具应用前景。虽然以上描述了本技术的具体实施方式，但是本领域的技术人员应该理解，这些仅是举例说明，在不违背本技术的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其特征在于，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；/n所述载板接口A与载板接口B不同。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其特征在于，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；
所述载板接口A与载板接口B不同。


2.根据权利要求1所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其特征在于，所述基于载板共用的可兼容性平台装置包括平板；
所述载板接口A布置在平板的上方，所述连接插槽布置在所述平板的侧后方。


3.根据权利要求2所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐润生，魏津，张经祥，蘇志和，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31