【技术实现步骤摘要】
一种半导体清洗剂及其制备方法
本申请涉及一种半导体清洗剂及其制备方法,属于半导体清洗
技术介绍
在硅晶体管和集成电路生产中,几乎每道工序都有硅片清洗的问题,硅片的好坏对器件性能有很严重的影响,处理不当,可能使硅片全部报废,做不出合格的产品,或者制造出来的产品性能低劣,稳定性和可靠性很差。硅材料经过一系列的加工后形成的硅片的表面会形成砂粒、切削磨料、指纹及金属离子,清洗的目的就是为了去除硅片表面颗粒、金属离子以及有机物等污染物,使硅片表面达到无腐蚀氧化、无残留等技术指标。在现有的硅晶片清洗液中,会选择盐酸、强碱液、或含有磷酸盐类的表面活性剂作为清洗剂,但是盐酸具有腐蚀性,不能去除颗粒物和有机成分,强碱液清洗剂整体去除效果不理想,具有磷酸盐类表面活性剂的清洗剂虽然清洗效果好,但是对环境不友好,易造成水源富营养化、水污染等问题。因此,随着人们环保意识的日益提高,硅晶片清洗剂的无磷化必将成为日后的发展趋势,可以降低企业的污水处理难度,保护环境。
技术实现思路
为了解决上述问题,提供了一种 ...
【技术保护点】
1.一种半导体清洗剂,其特征在于,包括非离子表面活性剂、阴离子表面活性剂及有机溶剂,按质量份数计,所述非离子表面活性剂2-5份,阴离子表面活性剂9-12份、有机溶剂3-6份。/n
【技术特征摘要】
1.一种半导体清洗剂,其特征在于,包括非离子表面活性剂、阴离子表面活性剂及有机溶剂,按质量份数计,所述非离子表面活性剂2-5份,阴离子表面活性剂9-12份、有机溶剂3-6份。
2.根据权利要求1所述的半导体清洗剂,其特征在于,还包括络合剂和PH调节剂,按质量份数计,络合剂1-8份,PH调节剂将所述清洗剂PH值调节至10-13.5。
3.根据权利要求2所述的半导体清洗剂,其特征在于,非离子表面活性剂3-4份,阴离子表面活性剂9-11份、有机溶剂4-5份,络合剂3-6份。
4.根据权利要求1所述的半导体清洗剂,其特征在于,所述阴离子表面活性剂选自羧酸盐类、磺酸盐类及硫酸盐类表面活性剂中的一种或多种。
5.根据权利要求2所述的半导体清洗剂,其特征在于,所述非离子表面活性剂选自脂肪醇聚氧乙烯醚、烷基酚聚氧乙烯醚、聚醚类表面活性剂中的一种或多种。
6.根据权利要求5所述的半导体清洗剂,其特征在于,所述有机溶剂选自二醇衍生物、酮类、醇类、酰胺类中的一种或多种;
所述络合剂选自乙二胺四乙酸二钠、氨三乙酸三...
【专利技术属性】
技术研发人员:骆祖文,
申请(专利权)人:德锡化学山东有限公司,
类型:发明
国别省市:山东;37
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