一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，包括两排过孔和位于两排过孔之间的两条走线，每条所述走线包括相间的NECK走线区和正常走线区，所述NECK走线区与过孔对齐，所述正常走线区与孔间隙对齐，且每段所述NECK走线区的线长与过孔的宽度相等，所述NECK走线区的两条走线的间距小于所述正常走线区的两条走线的间距，所述NECK走线区的两条走线的线宽小于所述正常走线区的两条走线的线宽。本实用新型专利技术仅在孔处将走线线宽变细、线间距减小，避免长距离的NECK模式走线，从而减少阻抗不一致对信号质量的影响，NECK走线区与正常走线区连接处设有泪滴，减小由于线宽的突变带来信号质量的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构
本技术涉及电子线路板设计领域，具体的说，是涉及一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构。
技术介绍
球状栅格阵列封装即BGA封装，是一种高密度表面装配封装技术，引脚成球状并排列成类似于格子的图案，其过孔数量多、排列紧密，且过孔之间的间距小。例如1mm类型的BGA封装中，过孔的中心间距为1mm（约为39.37mil），若要在两个过孔之间引出两条平行的差分走线，会造成走线与邻近过孔的间距仅为2.68mil，无法满足设计和加工的要求。针对上述问题，绝大部分工程师在设计线路板时，将差分走线采取NECK模式走线，将两条走线的线宽变细、线间距减少，即小于正常走线的线宽。考虑到工厂的加工能力和加工成本，一般会选择线宽4mil，线间距4mil来处理差分走线。虽然采用上述NECK模式走线能够解决过孔间距太小、加工难度大的问题，但是会导致NECK走线区与过孔区域外的正常走线区的阻抗不一致，特别是当BGA封装规模较大时，需要采用NECK模式的走线的长度比较长，加剧了阻抗不一致的影响，信号质量大大降低。以上问题，值得解决。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足，本技术提供一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构。本技术技术方案如下所述：一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，包括两排过孔和位于两排过孔之间的两条走线，其特征在于，每条所述走线包括相间的NECK走线区和正常走线区，所述NECK走线区与过孔对齐，所述正常走线区与孔间隙对齐，所述NECK走线区的两条走线的间距小于所述正常走线区的两条走线的间距，所述NECK走线区的两条走线的线宽小于所述正常走线区的两条走线的线宽。根据上述方案的本技术，其特征在于，所述NECK走线区和所述正常走线区为直线过渡。根据上述方案的本技术，其特征在于，所述NECK走线区和所述正常走线区为弧线过渡。进一步的，所述NECK走线区和所述正常走线区的弧线过渡处设有泪滴。根据上述方案的本技术，其特征在于，所述正常走线区的两条走线的间距为5mil，所述正常走线区的两条走线的线宽为5mil。根据上述方案的本技术，其特征在于，所述NECK走线区的两条走线的间距小于5mil，所述NECK走线区的两条走线的线宽小于5mil。优选的，所述NECK走线区的两条走线的间距为4mil，所述NECK走线区的两条走线的线宽为4mil。根据上述方案的本技术，其特征在于，上下两排所述过孔的过孔中心距的距离为1mm，同一排所述过孔的过孔中心距的距离为1mm。进一步的，所述NECK走线区的所述走线与邻近的过孔间距大于4mil。根据上述方案的本技术，其有益效果在于：本技术仅在孔处将走线线宽变细、线间距减小，避免长距离的NECK模式走线，从而减少阻抗不一致对信号质量的影响；进一步的，NECK走线区与正常走线区之间的连接处设有泪滴，使得不同宽度走线的连接处过渡平滑，从而减小由于线宽的突变带来信号质量的影响。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为实施例二的结构示意图。在图中，1、过孔；2、走线；21、NECK走线区；22、正常走线区；3、泪滴。具体实施方式为了更好地理解本技术的目的、技术方案以及技术效果，以下结合附图和实施例对本技术进行进一步的讲解说明。同时声明，以下所描述的实施例仅用于解释本技术，并不用于限定本技术。如图1所示，一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，包括两排过孔1和位于两排过孔1之间的两条走线2，每条走线2包括相间的NECK走线区21和正常走线区22，NECK走线区21与过孔1对齐，正常走线区22与孔间隙对齐，NECK走线区21的两条走线2的间距小于正常走线区21的两条走线2的间距，NECK走线区21的两条走线2的线宽小于正常走线区22的两条走线的线宽。本技术仅在靠近过孔处将走线线宽变细、线间距减小，其余地方保留常规线宽和线间距，避免长距离的NECK模式走线，从而减少阻抗不一致对信号质量的影响。在本实施例中，正常走线区22的两条走线2的间距为5mil，正常走线区22的两条走线2的线宽为5mil。因此，NECK走线区21的两条走线2的间距小于5mil，NECK走线区21的两条走线2的线宽小于5mil。优选的，NECK走线区21的两条走线2的间距为4mil，NECK走线区21的两条走线2的线宽为4mil。在本实施例中，上下两排过孔的过孔中心距的距离为1mm，同一排过孔的过孔中心距的距离为1mm，NECK走线区21的走线2与邻近的过孔1间距大于4mil。充裕的走线与过孔的间距，方便布线设计，进一步的，为了便于设计、加工，所有的NECK走线区长度一致，其走线的线宽、线间距一致。在本实施例中，NECK走线区21和正常走线区22为直线过渡，参照图1。实施例二在本实施例中，引入泪滴概念，类似焊盘的泪滴，可以起到平滑阻抗的作用，即在粗线与细线的连接处，加入泪滴，让线宽突变的地方变成渐变式，使粗线到细线的过渡平滑。如图2所示，一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，除了上述的结构之外，NECK走线区21与正常走线区22为弧线过渡，最优方案为，NECK走线区21和正常走线区22的弧线过渡处设有泪滴3，用于平滑不同线宽的走线连接时的线宽突变，使得连接处走线过渡平滑，从而减小由于线宽的突变带来信号质量的影响。需要说明的是，泪滴技术是本领域常规技术手段，本领域的技术人员能够清楚地知道泪滴的概念和操作方式，故此不作赘述。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，包括两排过孔和位于两排过孔之间的两条走线，其特征在于，每条所述走线包括相间的NECK走线区和正常走线区，所述NECK走线区与过孔对齐，所述正常走线区与孔间隙对齐，所述NECK走线区的两条走线的间距小于所述正常走线区的两条走线的间距，所述NECK走线区的两条走线的线宽小于所述正常走线区的两条走线的线宽。/n

【技术特征摘要】
1.一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，包括两排过孔和位于两排过孔之间的两条走线，其特征在于，每条所述走线包括相间的NECK走线区和正常走线区，所述NECK走线区与过孔对齐，所述正常走线区与孔间隙对齐，所述NECK走线区的两条走线的间距小于所述正常走线区的两条走线的间距，所述NECK走线区的两条走线的线宽小于所述正常走线区的两条走线的线宽。


2.根据权利要求1所述的一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，其特征在于，所述NECK走线区和所述正常走线区为直线过渡。


3.根据权利要求1所述的一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，其特征在于，所述NECK走线区和所述正常走线区为弧线过渡。


4.根据权利要求3所述的一种优化球状栅格阵列封装中差分走线的结构，其特征在于，所述NECK走线区和所述正常走线区的弧线过渡处设有泪滴。


5.根据权利要求1所述的一种优化球状栅...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺伟，王灿钟，
申请(专利权)人：深圳市一博科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44