【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及pcb测试，更具体地说，是涉及一种pcb测试的辅助检查方法。
技术介绍
1、pcb，即印制电路板，是电子设备中的重要组成部分，它提供了电子元器件之间电气连接的基础平台。pcb由绝缘基板、铜箔层、阻焊层、丝印层等构成，其中铜箔经过蚀刻形成电路图案，用以连接各种电子元件如电阻、电容、晶体管、集成电路等。经过多年的应用与技术发展，pcb延伸出多层板结构，多层pcb能够在有限的空间内实现更密集的布线，容纳更多的电子元件和更复杂的电路设计，从而提高系统的集成度，并且多层pcb可以通过设计专用的地层(ground plane，简称gnd)和电源层(power plane)，有效地屏蔽信号层之间的干扰，减少噪声，提高信号的质量。
2、在实际的设计、生产中，pcb布局设计完成后，需要对pcb进行一系列的检查与测试，以验证pcb是否满足设计要求，是否能在实际应用环境中正常工作。对于多层板的测试而言，由于多层板的信号多数为gnd信号，因此，在针对某一点进行测试时，将这一点与测试连接器连接。在这个过程中，需要从测试点出发，通过某一特定层将测试点两端的过孔引出并连接测试连接器，除此之外，还要避免其他非测试需求层在该测试点位置都不存在连接情况。
3、在现有技术中，测试点上下两个过孔与测试连接器连接后，一一确认测试点在其他层是否存在连接基本由人工完成，不仅操作上琐碎繁琐，且效率低下，耗费大量的人力。
技术实现思路
1、为了克服现有技术对测试点信号连接检测效率低下的不足，本
2、本专利技术技术方案如下所述：
3、一种pcb测试的辅助检查方法，
4、获取过孔生成程序，
5、过孔生成程序定义过孔数据结构，明确过孔的各个特征属性，
6、过孔生成程序定义禁止布线区的数据结构，明确禁止布线区的各个特征属性，
7、过孔生成程序定义过孔对象的函数与添加禁止布线区的函数，
8、过孔生成程序进行用户交互，获取过孔与禁止布线区的特征属性信息，
9、过孔生成程序创建过孔对象并添加禁止布线区，
10、过孔与检查器连接。
11、对于测试点的测试，传统操作是利用已有的、位于测试点上下两端的过孔结构，将其与检查器连接，使得检查对象仅为测试点，其中要保证过孔结构的两端不连接其他层结构。本专利技术则在原有pcb设计文件的基础上，利用过孔生成程序，创建一个专门用于测试的过孔结构。从设置这个过孔结构开始，过孔结构的特征属性定义创建过孔，同时定义创建过孔结构所属的禁止布线区，通过禁止布线区设置过孔结构禁止连接的层，使得过孔结构独立不与其他与测试点无关的层结构进行连接。如此，创建的过孔结构成为新的用于测试点测试的功能结构，利用其设置的禁止布线区来限制测试点连接的层结构，从而避免了人工复核测试点上下两个过孔结构是否连接其他不必要的层结构的工作量，提高工作效率。
12、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，过孔的特征属性包括过孔的位置、过孔的几何尺寸、过孔的机械特性、过孔与电源/地平面的连接关系、过孔的堆叠结构及过孔的电气特性。
13、进一步的，过孔的特征属性包括过孔的x坐标、过孔的y坐标、过孔的直径、过孔的钻孔直径及过孔穿透的层列表。
14、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的中心x坐标、禁止布线区的中心y坐标、禁止布线区的半径及禁止布线区的所属层。
15、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的左下角x坐标、禁止布线区的左下角y坐标、禁止布线区的右上角x坐标、禁止布线区的右上角y坐标及禁止布线区的所属层。
16、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，设置禁止布线区的所属层时，获取pcb设计文件的层数，遍历每一层，设置过孔的禁止布线区域。
17、进一步的，过孔的用户交互界面中包括禁止布线区域勾选栏，禁止布线区域勾选栏被勾选后触发遍历层结构程序，弹出包含有层结构选择需求信息栏的窗口，遍历层结构程序根据层结构选择需求信息栏的信息获取需求连接层信息，遍历层结构程序遍历所有的层结构并根据需求连接层信息将非需求连接层信息的所有层均设置设定的禁止布线区。
18、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，过孔对象的名称内容包括表示对象为过孔的标识、过孔的直径、过孔所用测试用途、设置过孔的区域及过孔穿透的层数。
19、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，获取高亮显示程序，选择颜色、器件类型，并根据测试需求锁定某一过孔结构或者某类过孔结构，运行高亮显示程序，对应过孔结构高亮显示。
20、上述的一种pcb测试的辅助检查方法，过孔的特征属性设置完成，使用applyhighspeedviadefinition函数将过孔定义内容写入设计数据库，存储过孔结构至pcb设计文件中的过孔数据库。
21、根据上述方案的本专利技术，其有益效果在于，
22、1.额外设置测试用的过孔结构，不影响原有过孔结构，避免误操作与误改动，同时也有利于测试过孔结构的集体管理，使得测试人员的操作更为方便。
23、2.高亮显示测试用的过孔结构，有利于在现有pcb设计文件中捕捉、观察、查看过孔结构的设置位置与分布，方便测试人员的查看。
24、3.设置的过孔结构直接采用禁止布线区代替原有的pcb设计文件已有的过孔，利用禁止布线区的设置过孔替代原有的人工检查，减少你好了大量测试人员的检查工作量，提高了工作效率。
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1.一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，获取过孔生成程序，
2.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的特征属性包括过孔的位置、过孔的几何尺寸、过孔的机械特性、过孔与电源/地平面的连接关系、过孔的堆叠结构及过孔的电气特性。
3.根据权利要求2中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的特征属性包括过孔的X坐标、过孔的Y坐标、过孔的直径、过孔的钻孔直径及过孔穿透的层列表。
4.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的中心X坐标、禁止布线区的中心Y坐标、禁止布线区的半径及禁止布线区的所属层。
5.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的左下角X坐标、禁止布线区的左下角Y坐标、禁止布线区的右上角X坐标、禁止布线区的右上角Y坐标及禁止布线区的所属层。
6.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，设置禁止布线区的所属层时，获取PCB设计文件的
7.根据权利要求6中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的用户交互界面中包括禁止布线区域勾选栏，禁止布线区域勾选栏被勾选后触发遍历层结构程序，弹出包含有层结构选择需求信息栏的窗口，遍历层结构程序根据层结构选择需求信息栏的信息获取需求连接层信息，遍历层结构程序遍历所有的层结构并根据需求连接层信息将非需求连接层信息的所有层均设置设定的禁止布线区。
8.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔对象的名称内容包括表示对象为过孔的标识、过孔的直径、过孔所用测试用途、设置过孔的区域及过孔穿透的层数。
9.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，获取高亮显示程序，选择颜色、器件类型，并根据测试需求锁定某一过孔结构或者某类过孔结构，运行高亮显示程序，对应过孔结构高亮显示。
10.根据权利要求1中所述的一种PCB测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的特征属性设置完成，使用ApplyHighSpeedViaDefinition函数将过孔定义内容写入设计数据库，存储过孔结构至PCB设计文件中的过孔数据库。
...【技术特征摘要】
1.一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，获取过孔生成程序，
2.根据权利要求1中所述的一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的特征属性包括过孔的位置、过孔的几何尺寸、过孔的机械特性、过孔与电源/地平面的连接关系、过孔的堆叠结构及过孔的电气特性。
3.根据权利要求2中所述的一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，过孔的特征属性包括过孔的x坐标、过孔的y坐标、过孔的直径、过孔的钻孔直径及过孔穿透的层列表。
4.根据权利要求1中所述的一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的中心x坐标、禁止布线区的中心y坐标、禁止布线区的半径及禁止布线区的所属层。
5.根据权利要求1中所述的一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，禁止布线区的特征属性包括禁止布线区的左下角x坐标、禁止布线区的左下角y坐标、禁止布线区的右上角x坐标、禁止布线区的右上角y坐标及禁止布线区的所属层。
6.根据权利要求1中所述的一种pcb测试的辅助检查方法，其特征在于，设置禁止布线区的所属层时，获取pcb设计文件的层数，遍历每一层，设置过孔的禁止...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴键峰，王灿钟，
申请(专利权)人：深圳市一博科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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