一种平面发光设备测量调整的系统及方法技术方案

技术编号:2790192 阅读:294 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种平面发光设备测量调整的系统及方法。该系统包括测量设备,还包括倾角调节装置,用于倾斜设置所述平面发光模组,以获取所述平面发光模组的亮度特征值,进而生成调整数据。该方法为通过获取每一个平面发光模组的观测视角a,来对平面发光模组进行亮度调整。通过本发明专利技术,可节省大量人力和时间,还不受空间等因素的限制。

System and method for measuring and adjusting plane light emitting equipment

The invention relates to a system and method for measuring and adjusting a plane light emitting device. The system comprises a measuring device and an inclination adjustment device for tilting the flat light emitting module to obtain brightness characteristic values of the planar light emitting module, thereby generating adjustment data. The method adjusts brightness of the flat light emitting module by obtaining the viewing angle a of each flat light emitting module. The invention can save a great deal of manpower and time, and is not limited by factors such as space.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于平面发光设备图像处理
,特别涉及一种平面发光设备测 量调整的系统及方法。
技术介绍
现阶段,大型平面发光设备在我们的生活中已经开始广泛应用,不论在广场, 火车站,大型商场,道路交通指示牌等等地方,我们都可以看到大型平面发光设 备的踪影。众所周知,大型平面发光设备都是有若干个平面发光模组拼接而成, 且大型平面发光设备通常都是安装在较高的位置,以便于人们从较远的地方就可 以看到各种信息。但是由于平面发光设备中,各个平面发光模组本身光学参数的 问题,我们在不同角度看平面发光设备,有时会发现平面发光设备屏幕整体亮度 的表现是有很大差异的,整体图像的效果并不是十分理想。目前,为了能够达到平面发光设备整体亮度的均一性,通常需要对其发光模 组的光学参数进行相应的调整。而在对其发光模组的光源进行单独光学实际分析 的时候,往往要还原整体现场,使这部分的光源在实际的位置进行发光,才能准 确的分析出真实的数据。可想而知,如果大型平面发光设备是在十几米,甚至几 十米的高空中,那我们要对其进行整体色彩的调整,就要花费大量的人力、物力、 时间和空间,去搭建一个相同的环境,才可对每个发光^t本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面发光设备测量调整的系统,其中,所述平面发光设备由若干平面发光模组构成,所述系统包括测量设备,其特征在于, 所述系统还包括倾角调节装置,其与需要测量的平面发光模组相连接,用于调节所述平面发光模组的角度,由所述测量设备获取观测视角a下该平面发光模组的亮度特征值,从而生成该平面发光模组对应的调整数据; 其中,所述平面发光模组的中心点和所述测量设备的连线,与所述平面发光模组中心点的法线,两者的夹角为所述观测视角a。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邵寅亮管丽李伟
申请(专利权)人:北京巨数数字技术开发有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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