存储器测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。本发明专利技术实施例能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。且降低测试成本。且降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及半导体
，尤其涉及一种存储器测试系统及方法。

技术介绍

[0002]ATL(Advantest Test Language)程序框架是目前一种主流的存储器量产测试系统使用的程序开发框架，它运行于ATE(Automatic Testing Equipment，自动测试设备)编译运行环境(ATE Compiling&Running Environment)。
[0003]ATE编译运行环境程序寄存器和堆栈空间十分有限，程序开发限制非常大。目前针对每一种测试，都需要在该环境中编写一套包括执行程序(Execution Programs)和模式程序(Pattern Programs)的独立测试程序，导致测试程序的复用性低下，可维护性不高，从而使得整个量产测试过程效率很低。同时，ATE编译运行环境必须联机调试编译，测试成本较高。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种存储器测试系统及方法，能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试环境模块配置在自动测试设备中。3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述外部环境模块包括执行程序单元和模式发生器；所述执行程序单元用于集成存储器测试所需的各种测试流程，以根据所述测试参数，从集成的测试流程中确定相应的测试流程，并在执行所述相应的测试流程时，向所述模式发生器发送相应的内部参数；所述模式发生器用于设置所述功能函数库，根据所述内部参数，从所述功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块。4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试参数包括随机数测试指令；所述外部环境模块还用于根据所述随机数测试指令，确定随机数测试流程，所述随机数测试流程包括随机数获取步骤、随机数写入步骤和随机数校验步骤。5.根据权利要求4所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试参数还包括测试长度；所述外部环境模块还用于在执行所述随机数获取步骤时，获取多个随机数，所述多个随机数是随机数发生器对不同时间进行编码所生成的不同随机数，所述多个随机数的总长度为所述测试长度。6.根据权利要求5所述的存储器测试系统，其特征在于，所述外部环境模块还用于在执行所述随机数写入步骤时，从所述功能函数库中调取写函数，并产生所述多个随机数的写函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块还用于根据所述写函数对应的模式程序，将所述多个随机数写入所述存储器进行存储。7...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖光，
申请(专利权)人：武汉新芯集成电路制造有限公司，
类型：发明
国别省市：