用于行动内存的测试装置以及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于行动内存的内存测试装置以及内存测试方法。内存测试装置包括主机以及多个测试板。主机提供多个测试流程。所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上。各所述多个测试板包括至少一应用处理器。应用处理器分別一对一方式与对应待测内存芯片直接连接。被启动后的各所述多个测试板的应用处理器接收储存在对应测试板的所述多个测试流程的至少其中之一，并基于所述多个测试流程的至少其中之一对对应待测内存芯片进行测试。对对应待测内存芯片进行测试。对对应待测内存芯片进行测试。

【技术实现步骤摘要】
用于行动内存的测试装置以及测试方法


[0001]本专利技术涉及一种测试装置以及测试方法，且特别是涉及一种能够对多个待测内存芯片进行测试的内存测试装置以及内存测试方法。

技术介绍

[0002]一般来说，内存测试装置是利用单一个主板对至少一个待测内存芯片进行测试。为了能够对多个待测内存芯片进行测试，测试装置会由一测试主机同时对多个待测内存芯片进行测试。基于内存芯片的需求量大增，测试装置需要进一步加快对多个待测内存芯片的测试产出量(throughput)，并且还能够用不同的测试条件同时对多个待测内存芯片进行测试。上述需求是本领域技术人员努力研究的课题之一。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种内存测试装置以及内存测试方法，能够加快对多个待测内存芯片的测试产出量，并且能够用不同的测试条件同时对多个待测内存芯片进行自动测试。
[0004]本专利技术的内存测试装置用以对多个待测内存芯片进行测试。内存测试装置包括主机以及多个测试板。主机经配置以提供多个测试流程。多个测试板分别耦接于主机以接收所述多个测试流程，并储存所述多个测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试装置，用以对多个待测内存芯片进行测试，其特征在于，所述内存测试装置包括：主机，经配置以提供多个测试流程；以及多个测试板，分别耦接于所述主机以接收所述多个测试流程并储存所述多个测试流程，其中所述多个待测内存芯片以一对一方式或多对一方式被对应设置在所述多个测试板上，其中各所述多个测试板包括：至少一应用处理器，分別以一对一方式与所述多个待测内存芯片中的对应待测内存芯片直接连接，其中所述至少一应用处理器是精简指令集(Reduced Instruction Set Computer，RISC)处理器，其中，被启动后的各所述多个测试板的所述至少一应用处理器接收储存在对应测试板上的所述多个测试流程的至少其中之一，并基于所述多个测试流程的至少其中之一，对所述对应待测内存芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述多个待测内存芯片分别是应用于行动电子装置的动态随机存取内存芯片。3.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，各所述多个测试板还包括：储存电路，耦接于所述主机以及所述至少一应用处理器，经配置以储存所述多个测试流程，其中当所述对应测试板被启动后，所述至少一应用处理器从所述储存电路接收所述多个测试流程的至少其中之一。4.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，各所述多个测试板还包括：测试电源供应器，包括：电源管理控制器，耦接于所述至少一应用处理器，经配置以依据所述测试流程的其中之一提供控制讯号；以及电压调节器，耦接于所述电源管理控制器，经配置以依据所述控制讯号提供至少一测试电源。5.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述至少一应用处理器还经配置以基于所述多个测试流程的至少其中之一定义出测试地址范围，并依据所述测试地址范围以对所述对应待测内存芯片进行测试。6.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于，所述至少一应用处理器还经配置以对经测试的地址进行计数。7.根据权利要求1所述的内存测试装置，其特征在于：所述至少一应用处理器还经配置以对所述对应待测内存芯片进行测试以得到测试信息，并将所述测试信息提供至所述主机，并且所述测试信息是用以表征所述对应待测内存芯片是否通过测试的信息。8.根据权利要求7所述的内存测试装置，其特征在于，所述内存测试装置还包括：分类机，其中所述主机还经配置以依据所述测试信息以指示该分...

【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，陈世兴，颜振亮，罗文良，姜文贵，
申请(专利权)人：润昇系统测试深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：