液晶显示器制造技术

本发明专利技术在有源式矩阵液晶显示器的像素电极两侧各增加一补偿分支电极，由此补偿像素电极因工艺偏移与数据线所产生的寄生电容，使像素电极与左右两边的数据线的寄生电容平衡。而在使用点反转驱动或直行反转驱动的情形下，又能平衡寄生电容的效应，同时减低串扰或其它因曝光接合处产生的不均所造成的寄生电容不平衡。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种薄膜晶体管液晶显示器元件结构与工艺，特别是涉及可以补偿像素电极与信号线之间的寄生电容的设计。
技术介绍
一般而言，液晶面板容易因工艺偏差造成数据线与像素电极重叠偏移，使得像素电极与数据线过于接近，产生如图1所示的寄生电容(parasiticcapacitance between pixel and data line，Cpd、Cpd’)，而过大的寄生电容将导致串扰(cross talk)现象；或由于曝光接合处产生的差异，亦容易造成重叠偏移而产生曝光接合不均(shot mura)等问题影响画质。这些都是影响像素电极开口率大小设计的主要因素之一。因此，为减少寄生电容效应并达到高开口率的需求，现有技术利用不同的设计方式来加以解决，譬如用遮蔽电容(shielding Cs)，和在数据线与像素电极间加一层聚合物绝缘薄膜(polymer insulator film)。其中，多加一层聚合物绝缘薄膜的设计，虽可以减少寄生电容效应，并能让像素电极跨越数据线而达到高开口率，然而，影响聚合物绝缘薄膜减少寄生电容效应的参数，主要取决于所选聚合物绝缘薄膜的介电系数，以及聚合物绝缘薄膜的膜厚大小，亦即像素电极与数据线距离的大小。可是受限于聚合物绝缘薄膜材料开发，与其介电系数值和膜厚又可能受其它工艺步骤影响而改变，故仍会影响寄生电容被减少的能力。因此，像素电极与数据线重叠部分的大小差异，还是会造成Cpd与Cpd’的不平衡，而产生串扰或其它缺陷。此外，为解决寄生电容所造成的效应，目前也有利用点反转(dot inversion)或直行反转(column inversion)等方式驱动的液晶面板，以使相邻数据线同时间送出的信号正负极性相反，进而让Cpd与Cpd’相抵消。而且，若同时让像素电极跨越左右两边数据线上的面积固定，更可将ΔCpd减到最小。但是，虽然在光掩模的布局设计上，可以固定像素电极与数据线的重叠面积，如图2所示，图2为原始光掩模的像素电极与数据线重叠的示意图。在原始的光掩模设计中，各像素电极20与左右两侧数据线26、28重叠的面积相等。然而在实际生产工艺上，原先的设计值却可能因为黄光工艺而产生不同对位层的偏移，而发生如图3所绘示的实际面板上像素电极30与左右数据线36、38的重叠面积变异的状况，造成像素电极30与左侧数据线36的重叠面积大于像素电极30与右侧数据线38的重叠面积，导致寄生电容的不平衡。
技术实现思路
本专利技术提供一种可以补偿像素电极与信号线之间的寄生电容的薄膜晶体管液晶显示器元件的结构与工艺，以解决现有寄生电容所造成的效应。根据本专利技术的权利要求，其在原像素电极两侧各增加一补偿分支电极，以补偿像素电极因工艺偏移与数据线所产生的寄生电容，使像素电极与左右两边的数据线的寄生电容平衡。因此，在使用点反转驱动或直行反转驱动(相邻数据线正负极性相反)的情形下，可以平衡Cpd与Cpd’的效应，并同时减低串扰或其它因曝光接合处产生的不均Cpd、Cpd’不平衡所造成的均Cpd、Cpd’不平衡的现象。由于本专利技术具有补偿像素电极的设计，故可有效解决因工艺偏差使数据线与像素电极重叠偏移，以及产生串扰或由于曝光接合处产生的不均等影响画质的问题。此外，本专利技术不限于直线型数据线的设计，其亦可应用于锯齿状数据线的设计，及以三角型(delta)排列像素设计的液晶显示器。附图说明图1所绘示为液晶面板寄生电容示意图。图2所绘示为现有原始光掩模的像素电极与数据线重叠的示意图。图3所绘示为现有实际面板的像素电极与左右数据线的重叠面积变异的示意图。图4所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图5所绘示为本专利技术像素电极往左或右偏移时的补偿示意图。图6所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图7所绘示为本专利技术像素电极往左或右偏移时的补偿示意图。图8所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图9所绘示为本专利技术像素电极往左或右偏移时的补偿示意图。图10所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图11所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图12所绘示为本专利技术像素电极往左或右偏移时的补偿示意图。图13所绘示为本专利技术像素电极与数据线布局设计的示意图。图14～17所绘示为本专利技术应用于锯齿状数据线与像素电极布局设计的示意图。图18、19所绘示为本专利技术应用于三角型排列像素的数据线与像素电极布局设计的示意图。简单符号说明20、30、40、50、70、80、90、100、110、120、130、140、150像素电极；42、52、72、82、95、102、112、122、132第一分支电极；44、54、74、84、96、104、114、124、134第二分支电极；26、36、46、56、76、86、97、146、156第一数据线；28、38、48、58、78、88、98、148、158第二数据线；91第一分支数据线；92第二分支数据线；93第三分支数据线；94第四分支数据线；106、116、126、136第一锯齿状数据线；108、118、128、138第二锯齿状数据线；141、151第一子像素电极；142、152第二子像素电极；143、153第三数据线；具体实施方式本专利技术利用在像素电极两侧各增加一补偿分支电极，以补偿像素电极因工艺偏移与数据线所产生的寄生电容，使像素电极与左右两边的数据线的寄生电容得以补偿平衡，其优选实施方式可概述如下实施例一 请参考图4，图4为原始光掩模的像素电极与数据线布局设计的示意图。如图4所示，像素电极40刚好切齐数据线46、48，亦即不与两侧的数据线46、48相重叠，而补偿用的第一分支电极42及第二分支电极44分别配置在像素电极40相对于数据线46、48的另一侧，且第一分支电极42及第二分支电极44与像素电极40电连接在一起。请参考图5，图5为实际工艺的面板上像素电极40与左右数据线46、48的重叠面积变异的补偿示意图。如图5所示，当因黄光工艺产生对位偏移等变异，而使像素电极40往左偏移时，会同时增加像素电极40与其左侧的第一数据线46重叠的面积A(以下各图中重叠部分皆以斜线表示)，以及第二分支电极44与其左侧的第二数据线48重叠的面积B，而且两者增加的面积是一样的，亦即A＝B。反之，当像素电极40往右偏移时，则会同时增加第一分支电极42与其右侧的第一数据线46重叠的面积A，以及像素电极40与其右侧的第二数据线48重叠的面积B，而且两者增加的面积亦是一样的，亦即A＝B。因此补偿偏移重叠的面积相同。实施例二请参考图6，图6为原始光掩模的像素电极与数据线布局设计的示意图。如图6所示，像素电极50、第一分支电极52及第二分支电极54分别与数据线56、58有重叠，而且像素电极50与第一数据线56重叠的面积为A’，像素电极50与第二数据线58重叠的面积为B，第一分支电极52与第一数据线56重叠的面积为A，第二分支电极54与第二数据线58重叠的面积为B’。请参考图7，图7为实际工艺的面板上像素电极50与左右数据线56、58的重叠面积变异的补偿示意图。如图7所示，当因黄光工艺产生对位偏移等变异，而使像素电极50往左偏移时，会增加像素电极50与其左侧的第一数据线56重叠面积A’的大小，以及第二分支电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器，包括：　　　　基板；　　　　多个像素电极，位于所述基板上，以像素矩阵阵列排列方式形成；　　　　第一数据线及第二数据线，形成于所述基板上；　　　　多条扫描线形成于所述基板上，所述些扫描线与所述第一数据线及所述第二数据线彼此交错；　　　　第一分支电极，所述第一分支电极与所述第一数据线至少部份重叠，且所述第一分支电极电连接像素电极；以及　　　　第二分支电极，所述第二分支电极与所述第二数据线至少部份重叠，且所述第二分支电极电连接所述像素电极，其中所述第一分支电极及所述第二分支电极位于所述像素电极的相对侧。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林祥麟，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]