集成电路电磁干扰诊断系统及方法技术方案

本申请提供了集成电路的电磁干扰诊断系统及方法，由射频信号测量设备产生一定频率范围内的射频信号，该射频信号经过阻抗变换器和测试夹具传输至被测集成电路的测试端口，经由干扰源端口和阻抗变换器传输至射频信号测量设备。射频信号测量设备能够测得被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数。上位机通过分析这两个射频信号的频域特性参数获得被测集成电路的电磁干扰分析结果。利用该系统即可获得集成电路中的电磁干扰分布情况，不需要专业的场地和设备，而且，诊断系统中的各设备的成本低，且连接简单，因此，整个系统的成本低、操作简单，节省了大量人力、财力，同时，节省了测试时间成本。

【技术实现步骤摘要】
集成电路电磁干扰诊断系统及方法
本申请属于电磁干扰
，尤其涉及一种集成电路电磁干扰诊断系统及方法。
技术介绍
随着科学技术的快速发展，集成电路的集成度和运行速率朝越高越快的方向发展，伴随而来的是越来越复杂的电磁环境，导致集成电路的电磁兼容问题愈发凸显。为了防止复杂电磁环境中电子产品因电磁兼容问题导致电子产品控制精度低甚至影响安全性等，电磁干扰(EMI)性能就成为了集成电路的一项重要考察指标。但是，目前针对集成电路的EMI性能的评价及诊断方法，通常需要利用专业的场地和设备进行测试，但是大部分企业不具备上述条件，需要使用第三方测试机构的场地和设备完成测试，耗费大量人力和财力，且测试耗时也较长。因此，亟需一种简单且有效的电磁干扰诊断系统。
技术实现思路
有鉴于此，本申请的目的在于提供一种集成电路电磁干扰诊断系统及方法，以降低电磁干扰诊断消耗的人力、财力及时间成本，具体的技术方案如下：第一方面，本申请提供了一种集成电路的电磁干扰诊断系统，其特征在于，包括：上位机、射频信号测量设备、阻抗变换器和测试夹具；所述射频信号测量设备的输出端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输入端，所述射频信号测量设备的输入端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输出端，所述射频信号测量设备用于产生预设频率范围的射频信号经由所述输出端输出，接收并测量被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数；所述测试夹具的输入端还连接所述被测集成电路的任一测试端口，所述测试夹具的输出端还连接所述被测集成电路的任一干扰源端口；所述阻抗变换器，用于对传输线与所述被测集成电路的端口进行阻抗匹配，所述传输线设置在所述射频信号测量设备与所述阻抗变换器之间；所述上位机，用于控制所述射频信号测量设备的运行状态，并分析所述射频信号测量设备测得的射频信号的频域特性参数，获得所述被测集成电路的每个干扰源端口与各个测试端口之间的电磁干扰分析结果。可选地，所述射频信号测量设备为矢量网络分析仪；或者，所述射频信号测量设备包括射频信号源和电磁信号接收机，所述射频信号源的输出端作为所述射频信号测量设备的输出端，所述电磁信号接收机的输入端作为所述射频信号测量设备的输入端。可选地，所述阻抗变换器包括第一阻抗变换器和第二阻抗变换器；所述第一阻抗变换器连接在所述射频信号测量设备的输出端与所述测试夹具的输入端之间；所述第二阻抗变换器连接在所述射频信号测量设备的输入端与所述测试夹具的输出端之间。可选地，所述上位机用于分析所述射频信号测量设备测得的射频信号的频域特性参数，获得所述被测集成电路的每个干扰源端口与各个测试端口之间的电磁干扰分析结果时，具体用于：对于任一测试端口和任一干扰源端口，分析所述预设频率范围内每个频点的射频信号从所述目标测试端口至所述目标干扰源端口的频域特性参数，得到该测试端口和该干扰源端口对应的散射参数，所述散射参数内的每一个数据表征一个频点的射频信号从该标测试端口至该干扰源端口之间的传输损耗；获取所述被测集成电路中每个测试端口分别与所有干扰源端口之间散射参数，得到整个所述被测集成电路对应的散射参数矩阵；针对所述被测集成电路中的每一测试端口，从所述被测集成电路对应的散射参数矩阵中，获取所述测试端口与所有干扰源端口在任一待测频点对应的散射参数，并根据该散射参数确定出在所述待测频点处对所述测试端口影响最大的目标干扰源端口；其中，所述待测频点通过预先对所述被测集成电路的电磁信号幅频特性参数确定。可选地，还包括：基于所述预设频率范围的各个频点，调整所述电磁干扰诊断系统的参数以调整系统的传输损耗，并对所述传输损耗进行修正。第二方面，本申请还提供了一种集成电路的电磁干扰诊断方法，应用于第一方面任一种可能的实现方式所述的集成电路的电磁干扰诊断系统中，所述方法包括：控制射频信号测量设备生成预设频率范围的射频信号；获取所述预设频率范围内各个频率点的射频信号从被测集成电路中任一测试端口至任一干扰源端口传输后对应的频域特性参数；根据所述频率特性参数获得所述被测集成电路中每个测试端口与所有干扰源端口之间的散射参数，并根据该散射参数确定出每个测试端口对应的干扰最大的目标干扰源端口。可选地，所述根据所述频率特性参数获得所述被测集成电路中每个测试端口与所有干扰源端口之间的散射参数，包括：对于任一测试端口和任一干扰源端口，分析所述预设频率范围内每个频点的射频信号从所述目标测试端口至所述目标干扰源端口的频域特性参数，得到该测试端口和该干扰源端口对应的散射参数，重复执行该步骤，得到该测试端口分别与所述被测集成电路上的所有干扰源端口对应的散射参数；所述散射参数内的每一个数据表征一个频点的射频信号从该标测试端口至该干扰源端口之间的传输损耗。可选地，根据该散射参数确定出每个测试端口对应的干扰最大的目标干扰源端口，包括：针对所述被测集成电路中的每一测试端口，从所述被测集成电路对应的散射参数矩阵中，获取该测试端口与所有干扰源端口在任一待测频点对应的散射参数；根据该测试端口与所有干扰源端口在任一待测频点对应的散射参数，确定出传输损耗最大的干扰源端口为该测试端口在该待测频点对应的目标干扰源端口。可选地，所述获取所述预设频率范围内各个频率点的射频信号从被测集成电路中任一测试端口至任一干扰源端口传输后对应的频域特性参数，包括：所述测试端口与所述系统中测试夹具的输入端连接，所述干扰源端口与所述测试夹具的输出端连接，所述射频信号测量设备测量从所述干扰源端口输出的射频信号的频域特性参数，获得所述测试端口与所述干扰源端口对应的频域特性参数。可选地，在对被测集成电路进行电磁干扰诊断之前，所述方法还包括：利用标准规定的测试方法获得所述被测集成电路的电磁干扰信号的幅-频曲线及标准测试结果；分析所述标准测试结果获得所述被测集成电路对应的待测频率；分析所述被测集成电路的电磁干扰信号的幅-频曲线确定所述被测集成电路的干扰源类型；对所述电磁干扰诊断系统进行校准，以使所述电磁干扰诊断系统自身的传输损耗为零。本申请提供的集成电路的电磁干扰诊断系统，由射频信号测量设备产生一定频率范围内的射频信号，该射频信号经过阻抗变换器和测试夹具的输出端口传输至被测集成电路的测试端口，经由被测集成电路内的测试端口和干扰源端口之间的传输路径传输至干扰源端口。并经由干扰源端口和阻抗变换器传输至射频信号测量设备。这样，射频信号测量设备能够测得被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数。上位机通过分析这两个射频信号的频域特性参数获得被测集成电路中每个干扰源端口与各个测试端口产生的电磁干扰分析结果。利用该系统即可获得集成电路中的电磁干扰分布情况，不需要专业的场地和设备，而且，诊断系统中的各设备的成本低，且连接简单，因此，整个系统的成本低、操作简单，节省了大量人力、财力，同时，节省了测试时间成本。附图说明为了更清楚地说明本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路的电磁干扰诊断系统，其特征在于，包括：上位机、射频信号测量设备、阻抗变换器和测试夹具；/n所述射频信号测量设备的输出端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输入端，所述射频信号测量设备的输入端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输出端，所述射频信号测量设备用于产生预设频率范围的射频信号经由所述输出端输出，接收并测量被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数；/n所述测试夹具的输入端还连接所述被测集成电路的任一测试端口，所述测试夹具的输出端还连接所述被测集成电路的任一干扰源端口；/n所述阻抗变换器，用于对传输线与所述被测集成电路的端口进行阻抗匹配，所述传输线设置在所述射频信号测量设备与所述阻抗变换器之间；/n所述上位机，用于控制所述射频信号测量设备的运行状态，并分析所述射频信号测量设备测得的射频信号的频域特性参数，获得所述被测集成电路的每个干扰源端口与各个测试端口之间的电磁干扰分析结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路的电磁干扰诊断系统，其特征在于，包括：上位机、射频信号测量设备、阻抗变换器和测试夹具；
所述射频信号测量设备的输出端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输入端，所述射频信号测量设备的输入端经由所述阻抗变换器连接至所述测试夹具的输出端，所述射频信号测量设备用于产生预设频率范围的射频信号经由所述输出端输出，接收并测量被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数；
所述测试夹具的输入端还连接所述被测集成电路的任一测试端口，所述测试夹具的输出端还连接所述被测集成电路的任一干扰源端口；
所述阻抗变换器，用于对传输线与所述被测集成电路的端口进行阻抗匹配，所述传输线设置在所述射频信号测量设备与所述阻抗变换器之间；
所述上位机，用于控制所述射频信号测量设备的运行状态，并分析所述射频信号测量设备测得的射频信号的频域特性参数，获得所述被测集成电路的每个干扰源端口与各个测试端口之间的电磁干扰分析结果。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述射频信号测量设备为矢量网络分析仪；
或者，所述射频信号测量设备包括射频信号源和电磁信号接收机，所述射频信号源的输出端作为所述射频信号测量设备的输出端，所述电磁信号接收机的输入端作为所述射频信号测量设备的输入端。


3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述阻抗变换器包括第一阻抗变换器和第二阻抗变换器；
所述第一阻抗变换器连接在所述射频信号测量设备的输出端与所述测试夹具的输入端之间；
所述第二阻抗变换器连接在所述射频信号测量设备的输入端与所述测试夹具的输出端之间。


4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机用于分析所述射频信号测量设备测得的射频信号的频域特性参数，获得所述被测集成电路的每个干扰源端口与各个测试端口之间的电磁干扰分析结果时，具体用于：
对于任一测试端口和任一干扰源端口，分析所述预设频率范围内每个频点的射频信号从所述目标测试端口至所述目标干扰源端口的频域特性参数，得到该测试端口和该干扰源端口对应的散射参数，所述散射参数内的每一个数据表征一个频点的射频信号从该标测试端口至该干扰源端口之间的传输损耗；
获取所述被测集成电路中每个测试端口分别与所有干扰源端口之间散射参数，得到整个所述被测集成电路对应的散射参数矩阵；
针对所述被测集成电路中的每一测试端口，从所述被测集成电路对应的散射参数矩阵中，获取所述测试端口与所有干扰源端口在任一待测频点对应的散射参数，并根据该散射参数确定出在所述待测频点处对所述测试端口影响最大的目标干扰源端口；其中，所述待测频点通过预先对所述被测集成电路的电磁信号幅频特性参数确定。


5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
...

【专利技术属性】
技术研发人员：王显赫，童心，
申请(专利权)人：北京经纬恒润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11