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本申请提供了集成电路的电磁干扰诊断系统及方法，由射频信号测量设备产生一定频率范围内的射频信号，该射频信号经过阻抗变换器和测试夹具传输至被测集成电路的测试端口，经由干扰源端口和阻抗变换器传输至射频信号测量设备。射频信号测量设备能够测得被测集成...
该专利属于北京经纬恒润科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京经纬恒润科技股份有限公司授权不得商用。

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