液晶显示面板的检测电路与方法技术

本发明专利技术提供一种液晶显示面板的检测电路与方法。其中，液晶显示面板的检测电路用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的液晶显示面板，该检测电路包含：多个第一接合垫分别对应耦接信号线；多个第二接合垫耦接于至少一个测试垫；多个控制开关电连接于对应的第一接合垫与第二接合垫之间，用来传送由测试垫提供的测试信号至液晶显示面板内；连接模块配置在控制开关周围，当控制开关其中之一发生异常时，用来传送测试信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关一种检测电路与方法，特别是一种液晶显示面板的检测电 路与方法。
技术介绍
液晶显示面板(LCD pand)于出厂之前，所需经过的检测过程，会随着使 用不同的检测设备而需设计不同的检测电路的布线。传统上，不论是哪一种 检测电路的布线，在一般面板检测完毕后，皆需采用激光切割的工艺，用以 切断检测电路与面板走线，使后续IC在贴附后，不至于产生信号错误的问题。然而，增加激光切割的工艺除了容易降低产品的产出率之外，在切割时 所产生的微粒也容易污染产品。再者，还须多增加激光切割机台的采购成本。 因此，已知技术中提出在检测电路中包含控制开关，于短路布线与扫描线、 数据线之间加入控制开关，而在测试时让控制开关导通，待测试结束后则让 控制开关断路。如此，便可以省去传统上使用激光切割的步骤，可得到更为 简化的工艺与降低成本的功效。利用控制开关虽可省略检测完毕后的激光切割工艺，然而由于液晶显示 面板中具有多条扫描线与数据线，而每一条条扫描线与数据线便需连接一个 控制开关，因此检测电路中需具有多个控制开关。由于检测信号是透过控制 开关然后到达液晶显示面板内的条扫描线与数据线，透过检测信号而测试扫 描线与数据线交集之处，用以控制各个像素(pixd)显示的薄膜晶体管(thin film transistor, TFT)的运作是否正常。而在控制开关为庞大的数目之下，当其中某 一个或少数几个控制开关发生异常时，将使得某几个像素无法正常显示检测信号，如此容易让检测人员或检测设备判断为扫描线、数据线或TFT开关发 生异常，而造成误判报废实际上功能正常的显示面板。因此，如何改善已知技术中液晶显示面板的检测电路所衍生的问题，为 一亟待解决的议题。
技术实现思路
有鉴于此本专利技术提出一种。当控制开关 中有某一个发生异常时，通过本专利技术所提出的检测电路或方法，仍可轻易完 成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液 晶显示面板的检测效率以及产出良率。本专利技术提出一种液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元 与多条信号线的液晶显示面板，该检测电路包含多个第一接合垫、多个第二 接合垫、多个控制开关以及一连接模块。多个第一接合垫分别对应耦接信号 线；多个第二接合垫耦接于至少一个测试垫；多个控制开关电连接于对应的 第一接合垫与第二接合垫之间，用来传送由测试垫提供的测试信号至液晶显 示面板内；连接模块配置在控制开关周围，当控制开关其中之一发生异常时， 用来传送测试信号。本专利技术亦提出一种液晶显示面板的检测方法，用以检测具有多条信号线 的液晶显示面板，该检测方法包含下列步骤提供多个第一接合垫，并对应 耦接所述多条信号线至所述多个第一接合垫；提供多个第二接合垫，并耦接 于至少一个测试垫；提供多个控制开关，并通过所述多个控制开关电连接对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫，传送由测试垫提供的测试 信号至该液晶显示面板内；以及当所述多个控制开关其中的一控制开关发生 异常时，提供一连接模块取代异常的控制开关以传送该测试信号。可见，应用本专利技术所述方案后，当控制开关中有某一个发生异常时，通 过本专利技术所提出的检测电路或方法，仍可轻易完成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液晶显示面板的检测效率以及 产出良率。附图说明图l:液晶显示面板的检测电路的一实施例示意图； 图2A:连接模块电连接控制开关的第一实施例示意图； 图2B:连接模块电连接控制开关的第二实施例示意图； 图2C:连接模块电连接控制开关的第三实施例示意图； 图3:液晶显示面板的检测方法的流程图。 附图标号-10、 10':第一接合垫20、 20':第二接合垫30、 30，、 30a、 30b、 30c:测试垫40、 40，、 40a、 40b、 40c、 40d、 40e、 40f:控制开关42:第三端50、 50':连接模块52:短路线 54:备用开关 60:液晶显示面板 62:信号线622:数据线 624:扫描线64:驱动单元 70:控制信号垫 80:激光焊接点具体实施方式有关本专利技术的较佳实施例及其功效，现配合图式说明如后。请参照图1，该图所示为液晶显示面板的检测电路的一实施例示意图。本专利技术所提出的液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元64与多 条信号线62的液晶显示面板60，其中该检测电路包含第一接合垫IO、 10'、 第二接合垫20、 20'、测试垫30、 30'、控制开关40、 40'及连接模块50、 50，。由图1所示可知，信号线62包含多条数据线622和多条扫描线624。多 个第一接合垫10对应耦接于多条扫描线624,多个第二接合垫20耦接于测试 垫30，第一接合垫10与第二接合垫20是用来在后续工艺中，与例如扫描线 驱动电路芯片(gate driving IC)耦接用的接合垫。其中，测试垫30用来传送测 试信号至液晶显示面板60的扫描线624。在本实施例中，是包含两个测试垫 30传送测试信号至扫描线624，且所述多个第二接合垫20是以间隔方式耦接 于两个测试垫30(换句话说，由上而下的奇数个接合垫20与偶数个接合垫20 是分别耦接于不同的测试垫30)。当然，在本专利技术的其他实施例中，也可以仅 利用一个测试垫30传送测试信号至扫描线624，此时所有的第二接合垫20是 耦接于同一测试垫30。相同地，多个第一接合垫10'对应耦接于多条数据线622，多个第二接合 垫20'耦接于测试垫30'，第一接合垫10'与第二接合垫20'是用来在后续工艺 中，与例如数据线驱动电路芯片(data driving IC)耦接用的接合垫。其中，测试 垫30'用来传送测试信号至液晶显示面板60的数据线622。在本实施例中，是 包含三个测试垫30，传送测试信号至数据线622，且所述多个第二接合垫20， 是以每三个为一个循环方式耦接于三个测试垫30，(换句话说，由左而右的第 一个、第四个、第七个.,.接合垫20'耦接于其中的一个测试垫30'，第二个、 第五个、第八个...接合垫20，耦接于另一个测试垫30，，而第三个、第六个、 第九个…接合垫20'耦接于剩下的一个测试垫30')。当然，在本专利技术的其他实 施例中，也可以仅利用一个测试垫30'传送测试信号至数据线622，此时所有 的第二接合垫20'是耦接于同一测试垫30，。多个控制开关40电连接于第一接合垫10与第二接合垫20之间，用来传 送由测试垫30所提供的测试信号至液晶显示面板60的扫描线624，多个控制 开关40'电连接于第一接合垫10'与第二接合垫20'之间，用来传送由测试垫 30'所提供的测试信号至液晶显示面板60的数据线622，通过测试信号可检测 液晶显示面板60的运作是否正常。其中，控制开关40、 40'可为晶体管，且 具有源极电极、漏极电极与栅极电极。由图1所示可知，控制开关40、 40' 包含第三端42，亦即晶体管中的栅极电极，而第三端42耦接于控制信号垫 70，控制信号垫70用来传送控制信号以开启(tum on)或关闭(tum off)控制开关 40、 40'。也就是说，当液晶显示面板60于检测状态时，控制信号开启控制开 关40、 40'，此时测试信号可顺利进入液晶显示面板本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的一液晶显示面板，其特征在于，所述检测电路包含：多个第一接合垫，分别对应耦接所述多条信号线；多个第二接合垫，耦接于至少一测试垫；多个控制开关，电连接于对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫之间，用来传送由所述测试垫提供的一测试信号至所述液晶显示面板内；及一连接模块，配置在所述多个控制开关周围，当所述多个控制开关其中之一发生异常时，用来传送所述测试信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘俊欣，陈勇志，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]