液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法，涉及液晶面板测试技术领域。上述测试电路中针对左右两侧栅极驱动电路所提供的控制信号均相互独立，并使得测试一个栅极驱动电路时关闭另一个栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在HVA固化制程期间使两个栅极驱动电路均正常工作。本发明专利技术实现了针对两个栅极驱动电路的分时测试，从而避免了漏检现象的出现。此外，本发明专利技术在HVA固化期间采用双驱动模式，避免了现有技术中由于单边GOA电路驱动面板导致的RC负载较重、出现比较严重的信号衰减的问题，进而有利于提升HVA固化的效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，具体涉及一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，还涉及该栅极驱动电路的工作方法。
技术介绍
栅极驱动阵列技术现在已经在液晶面板中被广泛采用，它可以节省栅极电路(Gate IC)的成本，也能够缩减面板边框的宽度，对现在流行的窄边框设计非常有利，是未来面板设计的一个重要技术。由于非晶硅(a-Si)制作的薄膜晶体管(TFT)器件驱动能力较弱，因此大尺寸的GOA(栅极驱动)面板一般采用双驱架构。面板两侧的两个GOA电路连接至同一条栅极线。当面板正常工作时，两个GOA电路输出同样的信号。传统的GOA架构面板中，两侧的GOA电路都是连接至同一组GOA测试线路。在GOA制程阶段的测试制程中，面板两侧的GOA电路同时打开工作，输出栅极脉冲信号将面板内部的像素点亮。当一侧的GOA电路不能正常工作时，另外一侧的GOA电路仍然能够输出栅极脉冲信号。该栅极脉冲信号也可以使得面板内部的像素正常工作。这样就会带来漏检的风险，对提升制程的良率是非常不利的。为了解决漏检的问题，现有的做法是将两侧的GOA电路分离开来。在对GOA电路进行测试时对两侧的GOA电路分别进行测试。其中一组GOA电路连接高垂直排列(High Vertical Alignment，HVA)制程线路。在HVA固化制程时进行单边送信号的方法。这种设计虽然可以避免在对GOA电路进行测试时GOA电路漏检的风险，但是在HVA固化制程时，由于面板尺寸较大，单边的GOA电路驱动面板会因为RC负载较重而导致比较严重的信号衰减。这样对HVA固化制程的效果是有一定影响的。
技术实现思路
为了现有技术中存在的上述技术缺陷，本专利技术提供了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路及其工作方法。根据本专利技术的一个方面，提供了一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，所述液晶显示面板采用双驱动模式，所述测试电路包括：测试芯片；时钟信号连接引线组，所述测试芯片通过所述时钟信号连接引线组分别向第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路传输时钟信号集合；第一连接引线组，所述测试芯片通过所述第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合；以及第二连接引线组，所述测试芯片通过所述第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，在测试所述第一栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，在测试所述第二栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。优选的是，所述第一测试信号集合包括第一Q点电位提升信号、第一下拉电路控制信号和第二下拉电路控制信号中的一种或多种；所述第二测试信号集合包括第二Q点电位提升信号、第三下拉电路控制信号和第四下拉电路控制信号中的一种或多种。根据本专利技术的另一个方面，提供了上述栅极驱动电路的测试电路的工作方法，其包括：判断当前是否对第一栅极驱动电路进行测试；在判断出当前对所述第一栅极驱动电路进行测试时，所述测试电路的测试芯片通过第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合，并通过第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；其中，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，上述工作方法还包括：在判断出当前对所述第二栅极驱动电路进行测试时，所述测试电路的测试芯片通过第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合，并通过第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；其中，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，包括：所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。优选的是，上述工作方法还包括：判断当前液晶显示面板是否处于HVA固化期间；在判断出当前所述液晶显示面板处于HVA固化期间时，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在所述HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：本专利技术重新设计了双边驱动的液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路。具体地，本专利技术为各个栅极驱动电路构造相对应的连接引线组。一方面，本专利技术能够利用各自的连接引线组对各个栅极驱动电路进行分时测试，避免了在栅极驱动电路测试时存在的漏检风险。另一方面，在HVA固化制程期间，本专利技术能够利用各自的连接引线组同时向各个栅极驱动电路发送相同的HVA固化所需要的控制信号集合，实现了针对液晶显示面板的双驱动，从而避免了现有技术中由于单边GOA电路驱动面板导致的RC负载较重、出现比较严重的信号衰减的问题，进而有利于提升HVA固化的效果。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明图1示出了现有技术中双边驱动GOA面板架构的示意图；图2示出了现有技术中双边驱动GOA面板在制作过程中的外围电路结构示意图；图3示出了现有技术中一级GOA单元的等效电路图；图4示出了对图2和图3中的GOA电路在GOA测试时输出的波形图；图5示出了采用图2所示电路对左侧GOA电路进行测试时，左右两侧的GOA测试面板与HVA线路的连接关系；图6示出了本专利技术实施例液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路的结构示意图；图7示出了利用图6所示的测试电路对第一栅极驱动电路(即上述的左侧栅极驱动电路)进行测试时采用的第一测试信号集合的波形示意图；图8示出了利用图6所示的测试电路进行HVA固化制程时相应控制信号的波形示意图；图9示出了为配合本专利技术实施例的测试电路而改进的GOA单元的等效电路图；图10示出了利用图6所示的测试电路进行HVA固化制程后输出信号的波形示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。首先，结合图1至图5详细地描本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，其特征在于，所述液晶显示面板采用双驱动模式，所述测试电路包括：测试芯片；时钟信号连接引线组，所述测试芯片通过所述时钟信号连接引线组分别向第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路传输时钟信号集合；第一连接引线组，所述测试芯片通过所述第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合；以及第二连接引线组，所述测试芯片通过所述第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板的栅极驱动电路的测试电路，其特征在于，所述液晶显示面板采用双驱动模式，所述测试电路包括：测试芯片；时钟信号连接引线组，所述测试芯片通过所述时钟信号连接引线组分别向第一栅极驱动电路和第二栅极驱动电路传输时钟信号集合；第一连接引线组，所述测试芯片通过所述第一连接引线组向所述第一栅极驱动电路发送第一测试信号集合；以及第二连接引线组，所述测试芯片通过所述第二连接引线组向所述第二栅极驱动电路发送第二测试信号集合；通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在测试所述第一栅极驱动电路时关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件，并使得在测试所述第二栅极驱动电路时关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试所述第一栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第二栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第二栅极驱动电路内的所有开关元件。3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试所述第二栅极驱动电路时，所述测试芯片向所述第一栅极驱动电路发送低压直流信号集合，以关闭所述第一栅极驱动电路内的所有开关元件。4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，通过设置所述第一测试信号集合和所述第二测试信号集合，使得在HVA固化期间使所述第一栅极驱动电路和所述第二栅极驱动电路正常工作。5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述第一测试信号集合包括第一Q点电位提升信号、第一下拉电路控制信号和第二下拉电路控制信号中的一种或多种；所述第二测试信号集合包括第二Q点电位提升信号、第三下拉电路控制信号和第四下拉电路控制信号中的一种或多种。6.一种如权利要求1至5中任一项所述的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜鹏，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44