【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学系统, 光学系统制造工艺。
技术介绍
特别是涉及一种运用光微影技术的辐射源的光度测定(photometry )通常利用光i普4义(spectrometer ) 来进4亍测量,光i普4义中的光栅(grating)是用来分散多频辐射源 (multi-frequency radiation )的元4牛。这类4义器,皮广;乏的应用在解;夹 复杂的难题并且获取准确的结果。目前这类〗义器在4吏用上有以下问 题(l)体积非常庞大,因此价格昂贵且只能在固定位置使用;(2) 在进行宽带的光谱测量时,需要耗费大量时间;(3)必须谨慎的操 作仪器,因此,通常需要技巧熟练的操作人员。美国专利第5,550,375号4是供了一种用来测量气体的红外线光 谱感测仪100,如图l所示,包括具有反射式光栅110的微型结构, 多频红外线辐射源120,以及用以接收固定波长红外线的接收器 130。然而,该红外线光谱感测仪只能测量较狭窄的光谱波长范围, 如果要进行多成分分析,则光谱信号会在多个不同波长^皮吸收,而 不是仅限于红外光区域,则此种光谱感测仪的应用即受限制。同步光i普4义( ...
【技术保护点】
一种光学系统,包括: 输入部,用以接收光学信号; 预先设定的输出面;以及 绕射光栅,包括绕射表面,用以将所述输入部接收的所述光学信号分离成多个光谱分量,并且各个光谱分量都会聚焦在所述预先设定的输出面,其中,所述绕射表面由光微影工艺形成。
【技术特征摘要】
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。