【技术实现步骤摘要】
一种宽禁带半导体功率器件参数测试平台及方法
本专利技术涉及宽禁带半导体功率器件领域和电力电子电路领域,旨在为以SiC、GaN为代表的新型宽禁带半导体器件提供一种新型开关特性及可靠性参数测试平台及配套测试方法。
技术介绍
宽禁带半导体功率器件具有高开关速度、低导通电阻等优势,越来越大范围地被应用于电力电子变换器中。鉴于器件材料及结构工艺,影响宽禁带半导体器件开关特性及可靠性参数因素众多,全面准确地测试器件在电力电子实际应用中可能的开关条件下开关特性及可靠性参数,对于器件生产者掌握器件特性、提升性能、完善数据手册等工作具有重要意义;此外,对于器件应用者而言,也有助于其器件选型及变换器高可靠性运行变设计。在现有技术中,测试器件开关特性和可靠性参数通常需要搭建不同的测试平台,且各测试平台能提供的测试条件单一,缺乏一个将多种测试功能集成于一体的综合测试平台,给测试工作带来很多不便。现有技术一的平台针对普通功率半导体器件,可测得不同电压、电流以及温度条件下的开关、通态特性。如图1所示,该平台由直流供电模块A、被测单元B、驱动模块C、总控制模块D、温度调节模块E、测量模块F和负载G组成。其中,总控制模块起枢纽作用,它可以根据不同的测试条件(电压、电流、温度)以及测量模块提供的电气、温度信息进行判断和运算,提供驱动模块的开关信号,提供直流供电模块和温度调节模块的参考给定值。具体测试内容和方法如下:1、给定电压、电流和温度条件下的测试1)器件寄生体二极管的反向恢复损耗T3、T2关断,T4导通,T1双脉冲 ...
【技术保护点】
1.一种宽禁带半导体功率器件参数测试平台,其特征在于,包括:直流供电模块、两个电容、负载、电感和驱动模块;其中一个电容的一端分别与直流供电模块的正极和第一节点连接,电容的另一端分别与直流供电模块的负极、另一个电容的一端、负载的一端、待测器件T
【技术特征摘要】
1.一种宽禁带半导体功率器件参数测试平台,其特征在于,包括:直流供电模块、两个电容、负载、电感和驱动模块;其中一个电容的一端分别与直流供电模块的正极和第一节点连接,电容的另一端分别与直流供电模块的负极、另一个电容的一端、负载的一端、待测器件T2的源极、待测器件T4的源极连接;另一个电容的另一端分别与负载的另一端、待测器件T3的漏极连接;第三节点分别与待测器件T3的源极、待测器件T4的漏极连接;电感的一端分别与待测器件T1的源极、待测器件T2的漏极连接,另一端与第二节点连接;待测器件T1的漏极与第一节点连接;待测器件T1、T2、T3、T4的栅极与驱动模块连接。
2.如权利要求1所述的宽禁带半导体功率器件参数测试平台,其特征在于:所述测试平台还包括两个箝位电路,两个箝位电路分别与待测器件T2、T4并联。
3.一种宽禁带半导体功率器件参数测试方法,使用权利要求1或2所述的测试平台,其特征在于,包括单独测试方法和组合测试方法;
所述单独测试方法包括如下步骤:
1)开通、关断延时测试:
连接第一节点、第二节点,待测器件T1不施加驱动,待测器件T2施加一长一短两个脉冲,封锁待测器件T3、T4驱动脉冲;在短脉冲上升沿处,测试待测器件T2的驱动电压和漏极电压,驱动电压上升10%到漏极电压下降10%的时间间隔为开通延时;在短脉冲的下降沿处,测试待测器件T2的驱动电压和漏极电压,驱动电压下降10%至漏极电压上升10%的时间间隔为关断延时;
2)开通、关断时间测试:
操作方式如1);在短脉冲上升沿处,测试待测器件T2的驱动电压和漏极电压,驱动电压上升10%到漏极电压下降90%的时间间隔为开通时间;在短脉冲的下降沿处,测试待测器件T2驱动电压和漏极电压,驱动电压下降10%至漏极电压上升90%的时间间隔为关断时间;
3)寄生体二极管反向恢复电流和反向恢复时间测试:
操作方式如1);在短脉冲上升沿处,测试待测器件T1的漏极电流和漏极电压,漏极电流的负向尖峰为反向恢复电流,漏极电流从下降至0到反向恢复至0的时间间隔为反向恢复时间;
4)完全硬开关的开关损耗测试:
连接第二节点、第三节点;施加驱动信号,控制电感电流,使电路工作于模式一或模式三;在待测器件T4驱动信号上升沿处,测试待测器件T4的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的开通过程损耗;在驱动信号下降沿处,测试待测器件T4的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的关断过程损耗;
5)零电压开通、硬关断的开关损耗测试:
操作方式如4);施加驱动信号,控制电感电流,使电路工作于模式一或模式三;在待测器件T2驱动信号上升沿处,测试待测器件T2的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的开通过程损耗;在驱动信号下降沿处,测试待测器件T2的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的关断过程损耗;
6)零电压开通、零电流关断的开关损耗测试:
操作方式如4);施加驱动信号,控制电感电流,使电路工作于模式二;在待测器件T2驱动信号上升沿处,测试待测器件T2的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的开通过程损耗;在驱动信号下降沿处,测试待测器件T2的漏极电流和漏极电压,计算得到该条件下的关断过程损耗;
7)完全硬开关且单次动作后的动态导通电阻测试:
操作方式如1)并启用箝位电路;在短脉冲保持高电平期间,测试待...
【专利技术属性】
技术研发人员:李艳,赵方玮,魏超,殷子钧,
申请(专利权)人:北京交通大学,
类型:发明
国别省市:北京;11
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