【技术实现步骤摘要】
一种寄生参数验证方法、装置、电子设备和存储介质
本申请涉及集成电路
，具体而言，涉及一种寄生参数验证方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
寄生参数提取是在芯片的版图设计和逻辑设计后提取版图各个器件的寄生参数信息，以便形成一个尽可能真实情形的电路系统并对其性能进行验证。但目前对设计电路的寄生参数提取完毕之后，通常依靠人工来一一对比寄生参数提取结果和设计预期是否相同，这样的方式很难遍历全部可能的错误信息进而存在着准确率低和效率低的问题。
技术实现思路
本申请实施例的目的在于提供一种寄生参数验证方法、装置、电子设备和存储介质，用以目前对设计电路的寄生参数提取完毕之后，通常依靠人工来一一对比寄生参数提取结果和设计预期是否相同存在的准确率低和效率低的问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种寄生参数验证方法，所述方法包括：获取设计电路对应的版图和电路网表，所述版图包含电路中各个器件单元的物理信息，所述电路网表包含各个器件单元的之间的连接线路信息；将所述版图和电路网表输入电路规则检查工具进行...
【技术保护点】
1.一种寄生参数验证方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取设计电路对应的版图和电路网表，所述版图包含电路中各个器件单元的物理信息，所述电路网表包含各个器件单元的之间的连接线路信息；/n将所述版图和电路网表输入电路规则检查工具进行电路规则检查，以获得所述电路规则检查工具输出的数据文件，所述数据文件中具有每一器件单元的物理信息和其对应的连接线路信息；/n根据所述数据文件进行寄生参数提取，以获得设计电路的寄生参数网表，所述寄生参数网表中包含有多个检测的寄生参数信息；/n判断所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息与预期是否相同；/n若是，则确定所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息正确。/n
【技术特征摘要】
1.一种寄生参数验证方法，其特征在于，所述方法包括：
获取设计电路对应的版图和电路网表，所述版图包含电路中各个器件单元的物理信息，所述电路网表包含各个器件单元的之间的连接线路信息；
将所述版图和电路网表输入电路规则检查工具进行电路规则检查，以获得所述电路规则检查工具输出的数据文件，所述数据文件中具有每一器件单元的物理信息和其对应的连接线路信息；
根据所述数据文件进行寄生参数提取，以获得设计电路的寄生参数网表，所述寄生参数网表中包含有多个检测的寄生参数信息；
判断所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息与预期是否相同；
若是，则确定所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息正确。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个寄生参数信息包括每一器件单元对应的寄生参数信息，所述判断所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息与预期是否相同，包括：
获取所述设计电路中的每一器件单元对应的至少一个期望寄生参数信息，所述期望寄生参数信息包括期望寄生参数以及对应的值；
判断所述寄生参数网表中的每一器件单元对应的寄生参数信息与其对应的至少一个期望寄生参数信息是否一致；
若是，则确定所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息正确。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个寄生参数信息包括每一线路对应的寄生参数值，所述判断所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息与预期是否相同，包括：
获取每一同类线路中的每一线路对应的寄生参数值以及所述同类线路对应的期望误差值，其中，所述同类线路表示在所述寄生参数网表中具有相同规则命名的多个线路的组合；
判断每一同类线路中的任意两个线路对应的寄生参数值之差是否均小于对应的期望误差值；
若是，则确定所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息正确。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断所述寄生参数网表中的多个寄生参数信息与预期是否相同之后，所述方法还包括：
若不相同，则再次对所述数据文件进行寄生参数提取，以获得设计电路的第二寄生参数网表；
判断所述第二寄生参数网表中的多个第二寄生参数信息与预期是否相同；
若否，则对所述第二寄生参数网表中与预期不相同的多个第二寄生参数信息进行错误标识。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述数据文件进行寄生参数提取，以获得设计电路的寄生参数网表，包括：
获取所述数据文件的文件类型；
根据所述数据文件的文件类型判断所述数据文件在预设的寄生参数提取工具中是否能被读取；
若是，将所述数据文件输入所述预设的寄生参数提取工具中进行寄生参数提取，以获得所述设计电路的寄生参数网表。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛明达，
申请(专利权)人：成都海光微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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