一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质技术方案

本申请公开了一种芯片测试方法，包括：根据输入文件以及预设模板自动生成验证计划；根据验证计划以及预设模板，自动生成验证计划的层次结构以及各个层次结构下的各个测试用例；利用各个测试用例进行芯片测试，并得到各个测试用例的测试结果。应用本申请的方案，可以自动实现芯片测试，有利于降低工作人员开发测试用例和调试的耗时，提高了效率。并且也有利于实现统一化和标准化，便于统一管理和项目之间的移植。本申请还提供了一种芯片测试系统、设备及存储介质，具有相应技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质
本专利技术涉及集成电路
，特别是涉及一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质。
技术介绍
随着大规模集成电路系统设计的飞速发展，集成电路的规模越来越大，芯片自身的复杂度也日渐复杂。面对日益更新的验证技术，作为芯片功能安全的第一道防火墙，验证人员必须保证验证的完备性、复用性、高效性和高产性。目前，在进行芯片测试时，由于验证人员经验紧缺，对流程、验证结构、以及验证方法的不熟悉，使得进行芯片测试的效率较低。并且验证方法不断更新，验证环境的搭建也都是非常耗时和耗精力的事情，并且还不容易保证标准化。综上所述，如何有效地进行芯片的测试，提高效率，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，以有效地进行芯片的测试，提高效率。为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种芯片测试方法，包括：根据输入文件以及预设模板自动生成验证计划；根据所述验证计划以及预设模板，自动生成所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：/n根据输入文件以及预设模板自动生成验证计划；/n根据所述验证计划以及预设模板，自动生成所述验证计划的层次结构以及各个层次结构下的各个测试用例；/n利用各个测试用例进行芯片测试，并得到各个测试用例的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
根据输入文件以及预设模板自动生成验证计划；
根据所述验证计划以及预设模板，自动生成所述验证计划的层次结构以及各个层次结构下的各个测试用例；
利用各个测试用例进行芯片测试，并得到各个测试用例的测试结果。


2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
判断生成的各个测试用例是否满足预设的多次随机要求，并且针对满足所述多次随机要求的任意一个测试用例，对该测试用例进行复制并置入回归测试目录中，并且对该测试用例复制出的副本数量等于预先为该测试用例设定的副本数量数值，且该测试用例的各个副本中的随机种子互不相同；
利用所述回归测试目录中的各个测试用例进行回归测试，并得到所述回归测试目录中的各个测试用例的回归测试的测试结果。


3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
在得到所述回归测试目录中的各个测试用例的回归测试的测试结果之后，将所述回归测试目录中的各个测试用例副本进行删除。


4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，生成的所述验证计划的层次结构包括：模块级层次结构，子系统级层次结构以及系统级层次结构中的一种或多种。


5.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
接收CSV格式或者XML格式，用于描述寄存器信息的寄存器描述文件，且所述寄存器描述文件支持格式扩展；
接收用于控制输出文件的内容项的寄存配置文件；
根据所述寄存器配置文件以及所述寄存器描述文件自动生成输出文件，并且生成的所述输出文件包括基于C语言的头文件以及基于所述头文件的寄存器测试文件，或者包括寄存器模型文件以及基于所述寄存器模型文件的寄存器测试文件；并且，当所述寄存器配置文件控制输出文件中包括HTML文件时，生成的输出文件中包括用于将所述寄存器描述文件转换为网页文件的HTML文件；
利用生成的所述输出文件中的寄存器测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：乐亚平，田利波，邵海波，朱雷，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37