光学扫描装置制造方法及图纸

一种用以扫描具有许多纹道的信息平面的装置，其中用三光束法跟踪待扫描的纹道。三个光速由三个分隔检测系统（１０，１１，１２）进行推挽检测。用特殊电子电路（２４－２６，３０－３２）根据检测信号获取位置信号Ｅｐ，该位置信号Ｅｐ是确定各光点相对于各纹道横向位置的可调节元件（９），在装置中位置的量度。控制电路３３能借助于位置信号校正该元件的位置。根据同一检测信号还可以获取使位置信号Ｅｐ与光束强度无关的归一化信号。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学扫描装置，它用光学的方法扫描具有许多纹道的信息平面。该装置包括光学系统，用以产生两个跟踪光束和一个主光束;透镜系统，用以将该三个光束聚焦成记录载体上待扫描纹道两侧的两个跟踪光点和所述纹道上的一个主光点;以及至少三个检测系统a、b、c，用以接收分别从记录载体照射来的两个跟踪光束和一个主光束;每个检测系统分隔成至少两个检测器。这种装置可用于光记录载体读写设备中。从欧洲专利申请0，201，603中可以了解到这类扫描装置的情况。在该已知的装置中，有一个跟踪伺服系统使主光点始终保持在待扫描的纹道上。这个系统用获自各检测器信号的跟踪误差信号来控制。跟踪伺服系统中可采用粗调节和细调节。粗调节通过在横向(即圆形记录载体的径向)上移动装有扫描头的滑块进行。细调节可以通过在横向上移动扫描头内的物镜进行。物镜的这种移动使检测器平面上各光束形成的照射光点相对于有关的检测器移动，从而在跟踪误差信号中产生调整偏差，伺服跟踪系统就是用这个调整偏差加以控制的。欧洲专利申请0，201，603介绍了将检测器信号组合起来产生与透镜的横向小位移无关的跟踪误差信号。但是，如果位移量较大时，由于透镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光字扫描装置，用以用光学的方法反描具有许多纹道的信息平面，该装置包括：用以产生两个跟踪光束和一个主光束的光学系统；透镜系统，用以将该三个光束聚焦成记录载体上待扫描纹道两侧的两个跟踪光点和所述纹道上的一个主光点；以及至少三个检测系统ａ、ｂ、ｃ，用以接收分别从记录载体照射来的两个跟踪光束和一个主光束，每一检测系统分隔成至少两个检测器，其特征在于该光学扫描装置包括：一个光点调节元件，用以调节主光点相对于待扫描纹道的横向位置；以及一个电子电路，用以将检测器的输出信号处理成表示该光点调节元件位置的位置信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：JL巴克斯，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]