【技术实现步骤摘要】
一种薄膜体声波谐振器及其制造方法及滤波器、电子设备
本专利技术涉及半导体器件制造领域,尤其涉及一种薄膜体声波谐振器及其制造方法及滤波器、电子设备。
技术介绍
自模拟射频通讯技术在上世纪90代初被开发以来,射频前端模块已经逐渐成为通讯设备的核心组件。在所有射频前端模块中,滤波器已成为增长势头最猛、发展前景最大的部件。随着无线通讯技术的高速发展,5G通讯协议日渐成熟,市场对射频滤波器的各方面性能也提出了更为严格的标准。滤波器的性能由组成滤波器的谐振器单元决定。在现有的滤波器中,薄膜体声波谐振器(FBAR)因其体积小、插入损耗低、带外抑制大、品质因数高、工作频率高、功率容量大以及抗静电冲击能力良好等特点,成为最适合5G应用的滤波器之一。通常,薄膜体声波谐振器包括两个薄膜电极,并且两个薄膜电极之间设有压电薄膜层,其工作原理为利用压电薄膜层在交变电场下产生振动,该振动激励出沿压电薄膜层厚度方向传播的体声波,此声波传至上下电极与空气交界面被反射回来,进而在薄膜内部来回反射,形成震荡。当声波在压电薄膜层中传播正好是半波长的奇数倍时,形成驻波震荡。目前制作的薄膜体声波谐振器的有效谐振区一般为多边形,当多边形的两个邻边由电极的侧面构成时,由于工艺原因电极的两个侧面之间通常形成圆角,即多边形的夹角处为圆角,对于谐振器性能造成较大影响。此外,对电极进行刻蚀时,由于电极金属与光阻直接接触,去胶过程中,具有较强腐蚀性的去胶液或多或少会对电极造成损伤,而且不同区域内被刻蚀的量不稳定,最终谐振器的稳定性较差。专利技 ...
【技术保护点】
1.一种薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,包括形成电极层,刻蚀所述电极层,所述刻蚀电极层的步骤包括:/n在所述电极层上形成光阻挡层,所述光阻挡层能够阻止光线的通过,并能作为图形化所述电极层的掩膜层;/n在所述光阻挡层上形成光敏材料层;/n以所述光敏材料层作为掩膜,刻蚀所述光阻挡层,使所述光阻挡层形成的图案与预形成在所述电极层上的图案相同;/n以所述光阻挡层作为掩膜,刻蚀所述电极层,在所述电极层中形成作为有效谐振区边界的至少两个侧面,相邻两侧面围成有一夹角,所述夹角的圆弧半径小于1微米。/n
【技术特征摘要】
1.一种薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,包括形成电极层,刻蚀所述电极层,所述刻蚀电极层的步骤包括:
在所述电极层上形成光阻挡层,所述光阻挡层能够阻止光线的通过,并能作为图形化所述电极层的掩膜层;
在所述光阻挡层上形成光敏材料层;
以所述光敏材料层作为掩膜,刻蚀所述光阻挡层,使所述光阻挡层形成的图案与预形成在所述电极层上的图案相同;
以所述光阻挡层作为掩膜,刻蚀所述电极层,在所述电极层中形成作为有效谐振区边界的至少两个侧面,相邻两侧面围成有一夹角,所述夹角的圆弧半径小于1微米。
2.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,刻蚀所述电极层后,还包括:去除所述光阻挡层。
3.根据权利要求2所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,所述光阻挡层的材质为无定型碳,用灰化方法去除所述光阻挡层或,所述光阻挡层的材料为二氧化硅,用氢氟酸溶剂去除所述光阻挡层。
4.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,所述光阻挡层的材料包括:无定型碳、二氧化硅、氮化硅、氮氧化硅。
5.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,刻蚀所述光阻挡层后,刻蚀所述电极层前还包括:去除所述光敏材料层。
6.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,在所述电极层上形成光阻挡层包括:通过沉积工艺在所述电极层上形成厚度为1000埃至1微米的光阻挡层。
7.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,
当所述光阻挡层的材料为无定形碳时,刻蚀所述光阻挡层包括:对所述光敏材料层进行曝光、显影后,在压力为10~30毫托的环境下,刻蚀气体采用氧气和四氟化碳刻蚀所述光阻挡层;
当所述光阻挡层的材料为二氧化硅或氮化硅时,刻蚀所述光阻挡层包括:对所述光敏材料层进行曝光、显影后,在压力为50~100毫托的环境下,刻蚀气体采用四氟化碳或八氟环丁烷或八氟环戊烯刻蚀所述光阻挡层。
8.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,所述电极层的材料为钼,刻蚀所述电极层包括:在压力为10~50mtorr的环境下,采用氟化硫刻蚀气体刻蚀所述电极层。
9.根据权利要求1所述的薄膜体声波谐振器的制造方法,其特征在于,所述谐振器包括第一电极层和第二电极层,所述电极层为所述谐振器的第二电极层,所述制造方法还包括:
提供第二衬底;
在所述第二衬底上形成压电叠层结构,所述压电叠层结构包括依次沉积在所述第二衬底上的第一电极层、压电层及第二电极层;
通过所述刻蚀电极层的步骤对所述第二电极层进行刻蚀,所述至少两个侧面构成有效谐振区的部分边界...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄河,罗海龙,李伟,
申请(专利权)人:中芯集成电路宁波有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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