【技术实现步骤摘要】
涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置及检测方法
本专利技术涉及高温超导涂层导体表面缺陷的检测装置及方法，特别涉及一种涂层导体金属基带表面的动态监测装置及检测方法。
技术介绍
基于REBa2Cu3O(7-δ)(REBCO,RE=Y,Gd,Dy等稀土元素)超导体的第二代高温超导带材是一种新型电力材料，相比第一代Bi-2223和Bi-2212超导带材/线材，具备更高的不可逆场、更高的超导转变温度和更高的临界电流密度，能够在较高的温度（液氮温区）和磁场环境下应用，它是世界各国在高温超导领域研发的焦点。它的典型结构分为：金属基带、缓冲层、超导层及保护层，金属基带对整个超导带材起主要的支撑作用，要求具有高的抗氧化性、较低的磁性和良好的机械性能，同时还要求具有与缓冲层及超导层相近的热膨胀系数。由于要在金属基带上直接生长缓冲层，要求基带表面粗糙度小，无颗粒、油渍、划痕等缺陷。通常的检测是采取抽样的形式，截取长带中的某一段进行表面缺陷分析，通过测量少数点的特征来描述整条长带，无法针对长带进行连续化的表面缺陷监测，从实际上描述长带的特征，尤其...
【技术保护点】
1.一种涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置，包括生产线绕带装置，其特征是：在金属基带上方设有上表面检测桥架及照明装置，在金属基带下方设有下表面检测桥架及照明装置，生产线绕带装置、上表面检测桥架及照明装置、下表面检测桥架及照明装置分别将生产信号和图像及控制信号通过线缆传送给计算机系统，计算机系统在线分析产品表面图像的各种特征，实现对表面缺陷的定位、检测、测量，然后将数据通过网络传送给报警监控计算机，输出各种即时和延迟信号。/n
【技术特征摘要】
1.一种涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置，包括生产线绕带装置，其特征是：在金属基带上方设有上表面检测桥架及照明装置，在金属基带下方设有下表面检测桥架及照明装置，生产线绕带装置、上表面检测桥架及照明装置、下表面检测桥架及照明装置分别将生产信号和图像及控制信号通过线缆传送给计算机系统，计算机系统在线分析产品表面图像的各种特征，实现对表面缺陷的定位、检测、测量，然后将数据通过网络传送给报警监控计算机，输出各种即时和延迟信号。
2.根据权利要求1所述的涂层导体金属基带表面缺陷的动态监测装置，其特征是：所述上表面检测桥架和下表面检测桥架均安装有阵线相机，阵线相机距金属基带为10mm。
3.一种涂层导体金属基带...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪洋，豆文芝，蔡传兵，菅洪彬，王涛，
申请(专利权)人：上海上创超导科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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