一种机密零件缺陷检测方法技术

本发明专利技术公开了一种机密零件缺陷检测方法，对无缺陷的机密零件进行单独图像采集，采集完成后，将需要检测的机密零件放置在可移动的载盘中；载盘带动需要检测的机密零件移动至CCD相机下方，进行拍照采集图像，将零件图像传输进显示屏中；显示屏中原先存储有无缺陷的机密零件的形状，经过与无缺陷机密零件图像的对比，在显示屏中显示出有缺陷的机密零件的位置；机械手开始工作，将载盘上的有缺陷的机密零件取出，剩余无缺陷的机密零件进行统一收集。本发明专利技术一种机密零件缺陷检测方法，提高机密零件缺陷检测的工作效率，防止在检测过程中产生零件检测的错漏。

【技术实现步骤摘要】
一种机密零件缺陷检测方法
本专利技术涉及零件检测
，尤其涉及一种机密零件缺陷检测方法。
技术介绍
目前，我国对产品质量要求越来越高，在机械制造的配件行业，尤其是机密零件制造行业，大多采用人工检测尺寸，耗费时间长，检测的效率低，更为重要的是检测质量不能保证，经常出现零件磨损在出厂前没有被检测出。随着科技的进步现代工业对产品的要求也越来越高人工已经无法满足对零件的检验和产品的数量，随着人工成本的不断提高给企业造成很大的阻力，因此需要提高机密零件的检测效率。
技术实现思路
专利技术目的：为了解决
技术介绍
中存在的不足，所以本专利技术提供了一种机密零件缺陷检测方法。技术方案：一种机密零件缺陷检测方法，包括以下步骤：S1：对无缺陷的机密零件进行单独图像采集，采集完成后，将需要检测的机密零件放置在可移动的载盘中；S2：载盘带动需要检测的机密零件移动至CCD相机下方，进行拍照采集图像，将零件图像传输进显示屏中；S3：显示屏中原先存储有无缺陷的机密零件的形状，经过与无缺陷机密零件图像的对比，在显示屏中显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机密零件缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：对无缺陷的机密零件进行单独图像采集，采集完成后，将需要检测的机密零件放置在可移动的载盘中；/nS2：载盘带动需要检测的机密零件移动至CCD相机下方，进行拍照采集图像，将零件图像传输进显示屏中；/nS3：显示屏中原先存储有无缺陷的机密零件的形状，经过与无缺陷机密零件图像的对比，在显示屏中显示出有缺陷的机密零件的位置；/nS4：机械手开始工作，将载盘上的有缺陷的机密零件取出，剩余无缺陷的机密零件进行统一收集。/n

【技术特征摘要】
1.一种机密零件缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：对无缺陷的机密零件进行单独图像采集，采集完成后，将需要检测的机密零件放置在可移动的载盘中；
S2：载盘带动需要检测的机密零件移动至CCD相机下方，进行拍照采集图像，将零件图像传输进显示屏中；
S3：显示屏中原先存储有无缺陷的机密零件的形状，经过与无缺陷机密零件图像的对比，在显示屏中显示出有缺陷的机密零件的位置；
S4：机械手开始工作，将载盘上的有缺陷的机密零件取出，剩余无缺陷的机密零件进行统一收集。


2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：常超杰，
申请(专利权)人：苏州世铖鑫铧精密技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32