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本发明提供了一种金属基带表面缺陷动态监测装置及检测方法，主要解决现有装置和方法只能通过单个的点测试来描述长带且仅采用灰度检测不能对产品进行等级分类的技术问题。本发明动态监测装置，包括生产线绕带装置，在金属基带上方设有上表面检测桥架及照明装置...
该专利属于上海上创超导科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海上创超导科技有限公司授权不得商用。

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