【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于超导封装带检测，具体涉及一种高温超导封装带材连续化无损检测方法及装置。
技术介绍
1、高温超导封装带材是一种由高温超导涂层导体(ybco)和金属带(如铜带或不锈钢带)组成的复合材料，具有高于液氮的转变温度和高临界电流密度等优良的物理性能，广泛应用于磁悬浮列车、核磁共振、金属冶炼、军用扫雷、可控核聚变等领域；
2、为了提高高温超导涂层导体的机械强度和保护性能，一般会对其进行封装，即对超导带上下两面用铜带或不锈钢带进行锡焊封装，形成层状结构，高温超导封装带材的封装质量直接影响其电气性能和使用寿命，因此需要对其进行有效的检测和评价，目前，对高温超导封装带材的检测方法主要有以下几种：
3、目测法：利用肉眼或放大镜等工具，对封装带材的外观进行观察，检查是否有裂纹、气孔、假焊、虚焊、上锡不良和夹渣等缺陷，以及封装带材的宽度、厚度和平整度等尺寸参数，该方法操作简单，但只能检测表面缺陷，无法检测内部缺陷，而且检测效率低，无法实现全程连续化检测；
4、撕裂法：将封装带材的两端用夹具固定，沿着超导带的宽度方向施加拉力，使封装带材发生撕裂，然后观察撕裂面的形貌，判断封装带材的封装强度和封装质量，该方法可以检测内部缺陷，但是破坏性强，无法对封装带材进行重复利用，而且检测效率低，无法实现全程连续化检测；
5、综上所述，现有的高温超导封装带材的检测方法存在以下技术问题，在不破坏封装带材的前提下，不方便实现对封装带材内部缺陷的有效检测，无法实现对封装带材的全自动、全程连续化动态检测，提高检测效率和
6、因此，本领域亟需一种新的高温超导封装带材的检测装置，以解决上述技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种高温超导封装带材连续化无损检测方法及装置，能够在不破坏封装带的前提下，实现全自动的，全程连续化动态检测封装质量、宽度尺寸并能标记坏点位置。
2、本专利技术采取的技术方案具体如下：
3、一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置的检测方法，该检测方法适用于上述提出的检测装置，所述检测方法包括以下步骤：
4、步骤一：启动第一电机，带动放带轮对超导封装带进行放出，收带轮对超导封装带进行缠绕；
5、步骤二：通过张力轮为超导封装带进行张紧；
6、步骤三：启动第三电机，使得第三电机的输出端带动传动带为超导封装带进行清洁；
7、步骤四：通过x射线发射器对超导封装带进行照射，而照射的图像通过射线探测器传输至外部；
8、步骤五：通过打标器喷射出不合格的标点位。
9、一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置，包括底板，所述底板的顶部固定有两个安装柱，且两个所述安装柱上均转动连接有转动柱，且两个所述转动柱之间安装一同步转动机构，两个所述转动柱远离所述安装柱的一端分别固定有放带轮和收带轮；
10、所述放带轮和所述收带轮的外侧均缠绕有超导封装带，所述底板的顶部安装有计米器轮，且所述计米器轮与所述超导封装带相接触，所述底板上且位于所述放带轮和收带轮之间设置有检测组件，所述检测组件用于检测所述超导封装带。
11、所述检测组件包括有固定在所述底板顶部的安装架，所述安装架的顶部安装有x射线发射器，所述安装架的顶部还安装有打标器，所述安装架位于所述超导封装带底部的一侧固定有固定板，所述固定板的顶部设置有射线探测器。
12、所述底板的顶部固定有固定管，所述固定管的内侧滑动连接有滑动柱，所述固定管的内侧且位于所述滑动柱的底部安装有第二电机，所述第二电机的输出端固定有螺纹杆，且所述滑动柱的内侧设置有与所述螺纹杆相对应的安装槽，且所述螺纹杆与所述安装槽螺纹连接；
13、所述滑动柱的顶部安装有张力轮，所述固定管的一侧固定有固定条，且所述固定条的顶部安装有清洁机构，所述清洁组件用于清洁所述超导封装带的外表面。
14、所述清洁机构包括有固定在固定条顶部的安装板，所述安装板的外部且位于所述超导封装带的上部和下部均安装有一清洁组件；
15、所述清洁组件包括有两个转动连接于所述安装板的内部的转动轮，且两个所述转动轮通过一传动带相连；
16、上下两个清洁组件中的两个相邻的转动轮的外侧均固定有齿轮，且两个所述齿轮之间啮合连接，所述安装板的外侧还安装有一第三电机，且所述第三电机的输出端与其中一个所述转动轮固定连接。
17、所述安装板的内部且位于两个所述传动带相反的位置处均滑动连接有一刮除块，所述刮除块与所述传动带相接触，所述刮除块用于为所述齿轮清洁。
18、所述安装板的内部且位于所述刮除块相对应的位置处固定有支撑条。
19、所述同步转动机构包括有固定在两个所述转动柱外侧的转动轴，且两个所述转动轴之间通过传输带条相连接，其中一个所述安装柱上安装有一第一电机，且所述第一电机的输出端与该所述安装柱上的转动轴相连接。
20、该所述底板上还设置有：
21、图像处理器，用于接收射线探测器的电信号，并将其转换为数字图像；
22、图像分析器，用于对图像处理器生成的数字图像进行分析；
23、缺陷识别器，用于接收图像分析器的分析结果，并根据预设的缺陷类型和等级，对超导封装带的缺陷进行识别和分类，并计录发现位置；
24、缺陷显示器，用于显示缺陷识别器的识别结果，并将其以图形或文字的方式呈现给操作人员；
25、反馈控制器，用于接收缺陷识别器的识别结果，并根据预设的控制策略，向封装生产设备发送控制信号，实时调节生产参数，进行纠正问题，防止继续生产不合格产品；
26、该所述图像处理器包括有：
27、a/d转换器，用于将x射线接收器的电信号转换为数字信号；
28、存储器，用于存储a/d转换器的数字信号；
29、图像生成器，用于根据存储器的数字信号生成数字图像。
30、本专利技术取得的技术效果为：
31、本专利技术通过利用x射线的穿透性，对封装带材进行透射或反射成像，根据成像结果，分析封装带材的内部结构和缺陷情况，该方法可以检测内部缺陷，且可以在不破坏封装带的前提下，实现全自动的，全程连续化动态检测封装质量、宽度尺寸并能标记坏点位置，避免了人为检测只能检测长带的两端，无法对整体进行质量判定，且可以将检测结果反馈生产实时调整生产环节。
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1.一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置的检测方法，其特征在于：所述检测方法包括以下步骤：
2.一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定有两个安装柱(2)，且两个所述安装柱(2)上均转动连接有转动柱(3)，且两个所述转动柱(3)之间安装一同步转动机构，两个所述转动柱(3)远离所述安装柱(2)的一端分别固定有放带轮(5)和收带轮(14)；
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述检测组件包括有固定在所述底板(1)顶部的安装架(11)，所述安装架(11)的顶部安装有X射线发射器(13)，所述安装架(11)的顶部还安装有打标器(7)，所述安装架(11)位于所述超导封装带(8)底部的一侧固定有固定板(12)，所述固定板(12)的顶部设置有射线探测器(15)。
4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定有固定管(16)，所述固定管(16)的内侧滑动连接有滑动柱(17)，所述固定管(16)的内侧且位于所述滑动柱(17)的底部安装有第二电机(18)，所述第二电
5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于：所述清洁机构包括有固定在固定条(21)顶部的安装板(22)，所述安装板(22)的外部且位于所述超导封装带(8)的上部和下部均安装有一清洁组件；
6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于：所述安装板(22)的内部且位于两个所述传动带(24)相反的位置处均滑动连接有一刮除块(28)，所述刮除块(28)与所述传动带(24)相接触，所述刮除块(28)用于为所述齿轮(25)清洁。
7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于：所述安装板(22)的内部且位于所述刮除块(28)相对应的位置处固定有支撑条(27)。
8.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述同步转动机构包括有固定在两个所述转动柱(3)外侧的转动轴，且两个所述转动轴之间通过传输带条(4)相连接，其中一个所述安装柱(2)上安装有一第一电机(6)，且所述第一电机(6)的输出端与该所述安装柱(2)上的转动轴相连接。
9.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于：该所述底板(1)上还设置有：
...【技术特征摘要】
1.一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置的检测方法，其特征在于：所述检测方法包括以下步骤：
2.一种针对高温超导封装带材封装质量的检测装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定有两个安装柱(2)，且两个所述安装柱(2)上均转动连接有转动柱(3)，且两个所述转动柱(3)之间安装一同步转动机构，两个所述转动柱(3)远离所述安装柱(2)的一端分别固定有放带轮(5)和收带轮(14)；
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述检测组件包括有固定在所述底板(1)顶部的安装架(11)，所述安装架(11)的顶部安装有x射线发射器(13)，所述安装架(11)的顶部还安装有打标器(7)，所述安装架(11)位于所述超导封装带(8)底部的一侧固定有固定板(12)，所述固定板(12)的顶部设置有射线探测器(15)。
4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定有固定管(16)，所述固定管(16)的内侧滑动连接有滑动柱(17)，所述固定管(16)的内侧且位于所述滑动柱(17)的底部安装有第二电机(18)，所述第二电机(18)的输出端固定有螺纹杆(19)，且所述滑动柱(17)的内侧设...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡传兵，菅洪彬，柴芳芳，豆文芝，
申请(专利权)人：上海上创超导科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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