电路状态维持系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电路状态维持系统及其方法，所述系统包括：微控制器，接收自动测试设备的指令并控制电平生成电路和继电器；电平生成电路，根据微控制器的控制信号启动或关闭，启动时输出一路或多路高电平信号；一个或多个继电器，根据微控制器的控制信号接通或阻断，全部继电器各连接电平生成电路的一路输出信号，部分或全部继电器各连接自动测试设备的一条数据线。所述方法包括：自动测试设备向微控制器发出指令，该指令包括对一条或多条数据线维持一定时间的高电平状态；微控制器根据指令启动电平生成电路，并将相应的一个或多个继电器接通指定时间后阻断。本发明专利技术可根据自动测试设备的指令维持一条或多条测试数据线在一定时间内的高电平状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种集成电路测试设备，特别是涉及一种与自动测试设备(ATE，Automated Testing Equipment)配合使用的集成电路测试设备。
技术介绍
对VLSI(超大规模集成电路)的时钟异步电路进行测试时，出于提高测试产能和测试效率的考虑，会尽可能的进行多个被测芯片(DUT，DeviceUnder Test)的同时测试(Parallel Test)。但是在同时测试时，由于不同的被测芯片发出响应和结束响应的时刻不同，自动测试设备在处理完其中一个被测芯片的响应又处理另一个被测芯片的响应时，必须将连接前一个被测芯片的测试数据线维持于高电平状态，否则前一个被测芯片将无法进行后续的测试项目。而通用的自动测试设备并无此功能，这阻碍了多个被测芯片的同时测试，给时钟异步电路的大规模量产测试带来极大的挑战。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种电路状态维持系统。为此，本专利技术还要提供一种所述电路状态维持系统进行电路状态维持的方法。为解决上述技术问题，本专利技术电路状态维持系统包括：微控制器，接收自动测试设备的指令并控制电平生成电路和继电器；电平生成电路，根据微控制器的控制信号启动或关闭，启动时输出一路或多路高电平信号；-->一个或多个继电器，根据微控制器的控制信号接通或阻断，全部继电器各连接电平生成电路的一路输出信号，部分或全部继电器各连接自动测试设备的一条数据线。所述电路状态维持系统进行电路状态维持的方法包括下列步骤：第1步，自动测试设备向微控制器发出指令，该指令包括对自动测试设备的一条或多条数据线维持一定时间的高电平状态；第2步，微控制器根据指令启动电平生成电路，并将相应的一个或多个继电器接通指定时间后阻断。本专利技术电路状态维持系统及其方法可在自动测试设备同时测试多个被测芯片时，根据自动测试设备的指令维持一条或多条测试数据线在一定时间内的高电平状态，从而满足某些复杂芯片如时钟异步电路芯片的测试要求。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细的说明：图1是本专利技术电路状态维持系统的示意图；图2是本专利技术电路状态维持系统的实施例的示意图；图3是本专利技术电路状态维持的方法的流程图；图4是本专利技术电路状态维持的方法的实施例的流程图。图中附图标记为：1—自动测试设备；10—设备主体；111、112、113—数据线；121、122、123—被测芯片；2—电路状态维持系统；20—微控制器；21—电平生成电路；221、222、223—继电器；23—主板；24—接口；-->25—存储器。具体实施方式请参阅图1，自动测试设备1包括设备主体10和三条数据线111、112和113，这三条数据线分别连接被测芯片121、122和123。本专利技术电路状态维持系统2包括：微控制器20，接收自动测试设备1的指令并控制电平生成电路21和继电器；电平生成电路21，根据微控制器20的控制信号启动或关闭，启动时输出三路高电平信号；三个继电器221、222和223，根据微控制器20的控制信号接通或阻断，继电器221、222和223各连接电平生成电路21的一路输出信号，继电器221、222和223各连接自动测试设备1的数据线111、112和113。图1示意地表示自动测试设备1的三条数据线111、112和113，这些数据线分别连接三个被测芯片121、122和123。实际上自动测试设备1的数据线可能有多条，其中有部分连接被测芯片处于使用状态，其余数据线处于未使用状态。图1示意地表示电平生成电路21输出三路高电平信号，这些输出信号分别连接继电器221、222和223。实际上电平生成电路21可能有多路输出信号，其中有部分输出信号连接继电器处于使用状态，其余输出信号处于未使用状态。图1示意地表示三个继电器221、222和223，这些继电器分别连接自-->动测试设备1的三条数据线111、112和113。实际上电路状态维持系统2可能包括多个继电器，这些继电器的一头均连接电平生成电路21的一路输出信号，这些继电器的另一头有些连接自动测试设备1的一条数据线处于使用状态，有些处于未使用状态。图1所示的电路状态维持系统进行电路状态维持的方法请参阅图3，该方法包括下列步骤：第1步，自动测试设备1向电路状态维持系统2发出指令，该指令包括对自动测试设备1的一条或多条数据线维持一定时间的高电平状态；第2步，微控制器20根据指令启动电平生成电路21，并将相应的一个或多个继电器接通指定时间后阻断。例如，自动测试设备1向电路状态维持系统2发出指令，要求对数据线112维持1秒的高电平。收到该指令后，微控制器20即发出控制信号启动电平生成电路21，同时发送控制信号接通与数据线112相连接的继电器222。1秒中后微控制器20发出控制信号阻断继电器222。请参阅图2，除了微控制器20、电平生成电路21和继电器221、222、223，电路状态维持系统2还包括：主板23，微控制器20、电平生成电路21和继电器221、222、223均与主板23相连接，微控制器20通过主板23与电平生成电路21和继电器221、222、223进行通讯；接口24，接口24是GPIB接口或TTL接口，接口24也与主板23相连接，微控制器20通过主板23与接口24进行通讯，微控制器20通过接口-->24接收自动测试设备1的指令，所述指令按照GPIB协议或TTL协议发送；存储器25，存储器25也与主板23相连接，微控制器20通过主板23与存储器25进行通讯，存储器25中包括微控制器20的指令集、接口24的指令集、电平生成电路21的控制程序。图2中，微控制器20、电平生成电路21、继电器221、222、223、接口24和存储器25之间的通讯都通过主板23进行。通过调用存储器25中的微控制器20的指令集，主板23可以接收微控制器20的控制信号并将控制信号传送给其余组件，还可以将其他组件的反馈信号传送给微控制器20。通过调用存储器25中的接口24的指令集，微控制器20可以通过接口24接收自动测试设备1的指令。通过调用存储器25中的电平生成电路21的控制程序，微控制器20可以控制电平生成电路21输出的一路或多路高电平信号的大小、上升沿的坡度、下降沿的坡度。图2所示的电路状态维持系统进行电路状态维持的方法请参阅图4，该方法包括下列步骤：第1步，启动电路状态维持系统2，主板23对微控制器20、电平生成电路21、继电器221、222、223、接口24、存储器25中的一个或多个进行自检；第2步，自检通过，电路状态维持系统2等待接收自动测试设备1的指令；第3步，自动测试设备1通过GPIB协议或TTL协议向电路状态维持系统2发送指令，微控制器20通过接口24接收指令；-->第4步，微控制器20根据指令发出控制信号，控制信号经主板传送给电平生成电路21和相应的一个或多个继电器，电平生成电路21根据控制信号启动，一个或多个继电器根据控制信号接通；第5步，到达指令所指定的时间后，微控制器20发出控制信号，控制信号经主板传送给相应的一个或多个继电器，这些继电器根据控制信号阻断。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路状态维持系统，其特征是：该系统包括：　微控制器，接收自动测试设备的指令并控制电平生成电路和继电器；　电平生成电路，根据微控制器的控制信号启动或关闭，启动时输出一路或多路高电平信号；　一个或多个继电器，根据微控制器的控制信号接通或阻断，全部继电器各连接电平生成电路的一路输出信号，部分或全部继电器各连接自动测试设备的一条数据线。

【技术特征摘要】
1.一种电路状态维持系统，其特征是：该系统包括：微控制器，接收自动测试设备的指令并控制电平生成电路和继电器；电平生成电路，根据微控制器的控制信号启动或关闭，启动时输出一路或多路高电平信号；一个或多个继电器，根据微控制器的控制信号接通或阻断，全部继电器各连接电平生成电路的一路输出信号，部分或全部继电器各连接自动测试设备的一条数据线。2.根据权利要求1所述的电路状态维持系统，其特征是：该系统还包括主板，所述微控制器、电平生成电路和继电器均与所述主板相连接，所述微控制器通过所述主板与所述电平生成电路和所述继电器进行通讯。3.根据权利要求2所述的电路状态维持系统，其特征是：该系统还包括GPIB或TTL接口，所述接口与主板相连接，所述微控制器通过所述主板与所述接口进行通讯，所述微控制器通过所述接口接收自动测试设备的指令。4.根据权利要求3所述的电路状态维持系统，其特征是：该系统还包括存储器，所述存储器与主板相连接，所述微控制器通过所述主板与所述存储器进行通讯，所述存储器中包括微控制器的指令集、GPIB或TTL接口的指令集和电平生成电路的控制程序。...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛吉升，桑浚之，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]