电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一滤波电路、一放大电路、一比较模块、以及一结果检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号。该放大电路对该滤波信号进行放大以产生一放大信号。该比较模块比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号。该结果检测模块则通过检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术相关于电路的测试，尤指一种可对模拟信号进行精确测试的 电路测试装置。
技术介绍
随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit, IC)的功能越来越强大， 其重要性也与日遽增。除了单纯处理模拟信号的IC以及单纯处理数字信号的 IC以外，业界还陆续研发出多种兼具数字信号与模拟信号处理能力的IC,此 种IC一般可称为混合信号IC。而不论是数字信号IC、模拟信号IC、或混合 信号IC,为了确保IC出货时的质量，在完成制造过程之后， 一般都会对每 一个IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此个IC是否 合格，并据以判断是否可将此个IC供应给下游的厂商。以现今常见的IC量产测试方式为例， 一般使用混合信号测试机 (Mixed-signal tester ) 140来作为IC出厂前的测试工具。然而，市面上的混 合信号测试机一般都是高单价的测试机台(售价动辄超过百万台币)，若使用 混合信号测试机来作为模拟信号IC或混合信号IC量产时的测试工具，不但 会耗掉冗长的测试时间，更会大幅提升测试所需的成本。此外，相较于数字信号IC，模拟信号IC与混合信号IC的测试通常较为 复杂，测试时的精确度要求也较高。然而，在对模拟信号IC(或混合信号IC) 所产生的模拟信号进行噪声测试时，测量的精确度通常只能达到10mV至 20mV之间，这样的精确度有时是不足的，若受测的模拟信号在系统中被放 大60dB 100dB，则10mV以下的噪声甚至有可能被放大到10V的程度，此 种程度的噪声将可能影响到系统原有的功能。换句话说，前述精确度只到 10mV至20mV之间的噪声测试的测试结果不见得是可靠的，唯有增加测试 时的精确度，才能更进一步提高测试结杲的可靠度。
技术实现思路
因此，本技术的目的之一，在于提供一种可降低测试成本并增加测 试精确度的测试结构，以解决公知技术所面临的问题。本技术的实施例公开一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。 该电路测试裝置包含有一滤波电路、 一放大电路、 一比较模块、以及一结杲 检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的 一模拟输出信号进行滤波以 产生一滤波信号。该放大电路耦接于该滤波电路，用来对该滤波信号进行放 大以产生一放大信号。该比较模块耦接于该放大电路，用来比较该放大信号 与至少 一参考电平以据以产生至少 一结果信号。该结果检测模块耦接于该比较模块，通过检测该至少 一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。根据本技术的电路测试装置利用该结果检测模块控制测试时所使用的增益值以及参考电平的大小，可适性地测试模拟输出信号AOS中不同程度 的爆音噪声。此外，根据本技术的电路测试装置在噪声测试上的精确度 甚至可达5mV,此一精确度远胜于公知的电路测试装置于噪声测试时的精确 度。由于提升了精确度，故使用各实施例的电路测试装置来对模拟信号进行 测试，测试结果的可靠度都将大幅提升。此外，根据本技术的电路测试 装置的组成元件都是成本不高的电子元件，相较于公知技术使用混合信号测 试机(Mixed-signal tester,其售价通常相当昂贵)的测试结构，本技术 各实施例的测试结构不但可以降低测试时所需的硬件成本，更可以提升测试 效率。以上所述都是本技术优于公知技术的特点。附图说明图1 ~3为本技术的电路测试装置的实施例示意图。主要元件符号说明10 待测试元件20 4寺测试元件电路板100、 200、 300电路测试装置110 波形产生器120 滤波电路130 放大电路140、 240、 340比较模块141、 142比较电路150、 250、 350结果片全测才莫块151 反相器152 或门153 触发器154 逻辑测试机155 连续性内置测试控制单元具体实施方式请参阅图1，图1所示为本技术的电路测试装置的一实施例示意图。 本实施例的电路测试装置100用来测试一待测试元件(Device under test, DUT)IO,更明确地说，电路测试装置100检测待测试元件IO所产生的一模 拟输出信号AOS,以判断待测试元件10是否通过测试。其中，待测试元件 IO可为设置于一待测试元件电路板(DUT board) 20上一待测试的模拟信号 IC或混合信号IC，模拟输出信号AOS可为一模拟音频信号(Analog audio signal),电路测试装置100则可用来检测模拟输出信号AOS中是否包含有爆 音噪声(Click noise或pop noise )或其他形式的噪声。本实施例的电路测试装置100包含有一波型产生器110、一滤波电路120、 一放大电路130、 一比较模块140、以及一结果检测模块150。比较模块140 中包含有一第一比较电路141以及一第二比较电路142。结果检测模块150 则包含有一反相器151, —或门(ORgate) 152、 一触发器153、以及一逻辑 测试机(Logic tester) 154。在本技术中，波型产生器110仅为一可选 (optional)元件，用来依据逻辑测试机154的控制产生一模拟输入信号AIS, 以供待测试元件10依据模拟输入信号AIS产生模拟输出信号AOS。若待测 试元件10可直接产生模拟输出信号AOS,则电路测试装置100中可不用包 含有波型产生器110，亦不用包含有将波型产生器IIO耦接至待测试元件10 以及逻辑测试机154的电路接口 。在本实施例中，滤波电路120为一带通滤波器(Bandpass filter, BPF), 用以滤除模拟输出信号AOS中一人耳可听见频段以外的频率成分以产生滤 波信号FS。举例来说，前述的人耳可听见频段介于20Hz与20KHz之间，滤 波电路120则可由截止频率(Cut-off fr叫uency )为20Hz的一高通滤波器(High pass filter, HPF )以及截止频率为20KHz的一4氐通滤波器(Low pass filter,LPF)所组成。放大电路130依据一增益值Gain来放大滤波信号FS以产生一放大信号 AS,其中，放大电路130的增益值Gain为可调整的，逻辑测试机154可通 过一连续性内置测试(Continuous built-in test, C-Bit)控制单元155来控制增 益值Gain的大小。虽然本实施例的放大电路130仅包含有单一个放大路径， 然而，在其他实施例中，放大电路130中亦可包含有两个放大路径，亦即放 大电路130由一第一放大电路(未示出)以及一第二放大电路(未示出)所 组成，其中，第一放大电路依据一第一增益值Gainl来放大滤波信号FS以产 生一第一放大信号AS1，并将第一放大信号AS1输出至第一比较电路141; 第二放大电路依据一第二增益值Gain2来放大滤波信号FS以产生一第二放大 信号AS2，并将第二放大信号AS2输出至第二比较电路142;逻辑测试机154 则可通过C-Bit控制单元155来控制第一增益值Gainl与第二增益值Gain2 的大小。第一比较电路141比较放大信号AS与一第一参考电平RL1以据以产生 一第一结果信号RSI;第二比较电路142比较放大信号AS与一第二参考电 平RL2以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路测试装置，用来测试一待测试元件，其特征在于，该电路测试装置包含有：一滤波电路，耦接于该待测试元件，用来对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号；一放大电路，耦接于该滤波电路，用来对该滤波信号进行放 大以产生一放大信号；一比较模块，耦接于该放大电路，用来比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号；以及一结果检测模块，耦接于该比较模块，用来检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕贞勇，许益彰，蒋维棻，林杨铭，张立颖，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]