电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一滤波电路、一放大电路、一比较模块、以及一结果检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号。该放大电路对该滤波信号进行放大以产生一放大信号。该比较模块比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号。该结果检测模块则通过检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术相关于电路的测试，尤指一种可对模拟信号进行精确测试的 电路测试装置。
技术介绍
随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit, IC)的功能越来越强大， 其重要性也与日遽增。除了单纯处理模拟信号的IC以及单纯处理数字信号的 IC以外，业界还陆续研发出多种兼具数字信号与模拟信号处理能力的IC,此 种IC一般可称为混合信号IC。而不论是数字信号IC、模拟信号IC、或混合 信号IC,为了确保IC出货时的质量，在完成制造过程之后， 一般都会对每 一个IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此个IC是否 合格，并据以判断是否可将此个IC供应给下游的厂商。以现今常见的IC量产测试方式为例， 一般使用混合信号测试机 (Mixed-signal tester ) 140来作为IC出厂前的测试工具。然而，市面上的混 合信号测试机一般都是高单价的测试机台(售价动辄超过百万台币)，若使用 混合信号测试机来作为模拟信号IC或混合信号IC量产时的测试工具，不但 会耗掉冗长的测试时间，更会大幅提升测试所需的成本。此外，相较于数字信号IC，模拟信号IC与混合信号IC的测试通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路测试装置，用来测试一待测试元件，其特征在于，该电路测试装置包含有：一滤波电路，耦接于该待测试元件，用来对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号；一放大电路，耦接于该滤波电路，用来对该滤波信号进行放 大以产生一放大信号；一比较模块，耦接于该放大电路，用来比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号；以及一结果检测模块，耦接于该比较模块，用来检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕贞勇，许益彰，蒋维棻，林杨铭，张立颖，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]