用于电子组件测试的方法技术

一种用于测试电子组件的方法。该方法包括：将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度、低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准以及被指定为低到高转变或高到低转变的证据的包括多个测试的试验中的结果数目；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，那么：执行低到高试验并且基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么：执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么：基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且如果未找到低到高转变缘，则从具有该状况的步骤开始重复上述步骤。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
在存在噪声的情况下确定使得电子组件从一个状态切换到另一状态的信号级别的范围通常是一项耗时的工作。当前用于确定诸如比较器这样的电子组件的这个范围的方法通常采用线性搜索对。一个这种搜索开始于在其结果已知的输入信号级别下运行一组测试，以指示对于该组的所有测试，组件都处于第一状态，并且在增大的输入信号级别下运行后继的测试，直到结果指示对于当前组中预定数目的测试，组件处于第二状态。另一搜索开始于在其结果已知的输入信号级别下运行一组测试，以指示对于该组的所有测试，组件都处于第二状态，并且在减小的输入信号级别下运行后继的测试，直到结果指示对于当前组中预定数目的测试，组件处于第一状态。这些搜索开始于将信号级别设置为离预期的“比较器跳变点(trip point)”有一小段距离，并且运行一个模式，该模式执行一组N个比较，预期对于输入信号的一个牵连(incrimination)方向获得“全部失败”结果，或者对于输入信号的另一牵连方向获得“全部通过”结果。如果这些状况中的任何一种发生，则在适当的方向上增加信号级别，并且再次运行测试模式进行另一组的N个比较。这些动作被重复，直到该组比较中的一个或多个不再产生与搜索开始时相同的结果(“失败”或“通过”)。线性搜索通常是耗时的。可通过减小搜索的跨度和/或精确度来提高搜索速度。但是，如果优选找到合理宽的范围上的比较器跳变区域以使得设置点精度可以被量化，并且如果优选精确地找到比较器跳变区域的边界以使得比较噪声可以被量化，则通常需要大量的搜索步骤。如果比较器包括多个通道而不是只有一个，则情况就会更加复杂。专利技术内容在一个代表性实施例中，公开了一种用于测试电子组件的方法。该方法包括将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度、低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准以及被指定为低到高转变或高到低转变的证据的包括多个测试的试验中的结果数目；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，那么执行低到高试验并且基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且如果未找到低到高转变缘，则从具有该状况的步骤开始重复上述步骤。试验参数包括低到高试验的低到高区带(band)限度和低到高试验值，高到低试验的高到低区带限度和高到低试验值，以及指示高的比较结果的数目，其中初始数目是针对假定的前次试验的。在另一个代表性实施例中，公开了一种计算机可读存储设备。该计算机可读存储设备实现了可由计算机执行的用于测试电子组件的计算机程序指令。所述指令包括将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度、低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准以及被指定为低到高转变或高到低转变的证据的包括多个测试的试验中的结果数目；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，那么执行低到高试验并且基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且如果未找到低到高转变缘，则从具有该状况的步骤开始重复上述步骤。试验参数包括低到高试验的低到高区带限度和低到高试验值，高到低试验的高到低区带限度和高到低试验值，以及指示高的比较结果的数目，其中初始数目是针对假定的前次试验的。在另一个代表性实施例中，公开了另一种用于测试电子组件的方法。该方法包括将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度以及低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，那么确保电子组件处于其低状态，执行低到高试验并且基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么确保电子组件处于其高状态并且执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且如果未找到低到高转变缘，则从具有该状况的步骤开始重复上述步骤。试验参数包括低到高试验的低到高区带限度和低到高试验值以及高到低试验的高到低区带限度和高到低试验值。在另一个代表性实施例中，公开了一种计算机可读存储设备。该计算机可读存储设备实现了可由计算机执行的用于测试电子组件的计算机程序指令。所述指令包括将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度以及低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，那么确保电子组件处于其低状态，执行低到高试验并且基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么确保电子组件处于其高状态并且执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且如果未找到低到高转变缘，则重复上述步骤。试验参数包括低到高试验的低到高区带限度和低到高试验值以及高到低试验的高到低区带限度和高到低试验值。在结合附图理解以下详细描述时，可明白这里给出的代表性实施例的其他方面和优点。附图说明附图提供了可视的表示，这些可视表示将被用于更充分地描述各种代表性的实施例，并且可被本领域的技术人员用来更好的理解它们以及它们的内在优点。在这些图中，类似地的标号标识相应的元件。图1是在各种代表性实施例中描述的被附接到测试机器的电子组件的方框图。图2A是在不存在滞后和噪声的情况下组件的输出状态与施加的激励的关系的一幅曲线图。图2B是在存在滞后并且不存在噪声的情况下组件的输出状态与施加的激励的关系的另一幅曲线图。图2C是在各种代表性实施例中描述的在不存在滞后并且存在噪声的情况下组件的输出状态与施加的激励的关系的另一幅曲线图。图2D是在各种代表性实施例中描述的在不存在滞后并且存在噪声的情况下组件的输出状态与施加的激励的关系的另一幅曲线图。图3是在各种代表性实施例中描述的用于获得低转变级别信息和高转变级别信息的方法的流程图。图4A是图3的流程图的一个方框的扩展的图。图4B是图3的流程图的另一个方框的扩展的图。图5A是图4A的流程图的一个方框的扩展的图。图5B是图4B的流程图的一个方框的扩展的图。图6A是图4A的流程图的一个方框的另一扩展的图。图6B是图4B的流程图的一个方框的另一扩展的图。图7A是图6A的流程图的一个方框的扩展的图。图7B是图6B的流程图的一个方框的扩展的图。图8A是图4A的流程图的另一个方框的扩展的图。图8B是图4B的流程图的另一个方框的扩展的图。图9A是图8A的流程图的一个方框的扩展的图。图9B是图8A的流程图的另一个方框的扩展的图。图9C是图8B的流程图的一个方框的扩展的图。图9D是图8B的流程图的另一个方框的扩展的图。图10是图8A的流程图的另一个方框的扩展的图。图11是图3的流程图的另一个方框的扩展的图。具体实施例方式如附图中出于说明目的而示出的，这里公开了用于在存在噪声和/或滞后的情况下确定使得诸如比较器这样的电子组件从一个状态切换到另一状态的信号级别的范围的新颖技术。这些技术包括对此信号级别范围的上限和下限的双端二元搜索。本搜索技术一般比通常包括一对线性搜索的现有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电子组件的方法，包括：将所述电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度、低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准以及被指定为低到高转变或高到低转变的证据的包括多个测试的试验中的结果数目；计算初始试验参数的值，其 中，所述试验参数包括：低到高试验的低到高区带限度和低到高试验值，高到低试验的高到低区带限度和高到低试验值，以及指示高的比较结果的数目，其中初始数目是针对假定的前次试验的；如果未找到低到高转变缘，那么：执行低到高试验，并且 基于执行低到高试验的步骤的结果调节试验参数值；如果未找到高到低转变缘，那么：执行高到低试验；并且如果未找到低到高转变缘或高到低转变缘中的任何一个，那么：基于执行高到低试验的步骤的结果调节试验参数值，并且　 　如果未找到低到高转变缘，则从具有该状况的步骤开始重复上述步骤。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：格雷戈里E汤曼，
申请(专利权)人：韦瑞吉新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]