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一种用于测试电子组件的方法。该方法包括：将电子组件连接到测试机器；指定搜索范围限度、低到高转变缘和高到低转变缘的找到标准以及被指定为低到高转变或高到低转变的证据的包括多个测试的试验中的结果数目；计算初始试验参数的值；如果未找到低到高转变缘，...
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