一种射频模组超薄堆叠方法技术

技术编号:26423035 阅读:38 留言:0更新日期:2020-11-20 14:19
本发明专利技术属于半导体技术领域,具体涉及一种射频模组超薄堆叠方法,包括以下步骤:在硅片正面开空腔并嵌入芯片,填充缝隙,对硅片背面做减薄处理,形成超薄的硅片嵌入转接板,把多层嵌入芯片的硅片结构进行堆叠;在堆叠后的硅片正面制作TSV,填充金属,使TSV金属跟各层芯片的PAD互联,然后抛光堆叠后的硅片正面并制作RDL和正面焊盘;在堆叠后的硅片背面制作背面凹槽并嵌入射频芯片,填充缝隙,在射频芯片的正面做RDL和焊盘;在PCB表面焊接微流通道结构,在正面焊盘植球,通过贴片工艺使模组跟PCB互联,同时射频芯片跟微流道结构互联,最后在射频芯片表面贴装无源芯片。本发明专利技术能大大减小射频模组的面积,并能最大限度的增加射频芯片的散热能力。

【技术实现步骤摘要】
一种射频模组超薄堆叠方法
本专利技术属于半导体
,具体涉及一种射频模组超薄堆叠方法。
技术介绍
毫米波射频技术在半导体行业发展迅速,其在高速数据通信、汽车雷达、机载导弹跟踪系统以及空间光谱检测和成像等领域都得到广泛应用。新的应用对产品的电气性能、紧凑结构和系统可靠性提出了新的要求,对于无线发射和接收系统,目前还不能集成到同一颗芯片上(SOC系统级芯片),因此需要把不同的芯片包括射频单元、滤波器、功率放大器等集成到一个独立的系统中实现发射和接收信号的功能。传统封装工艺把各种功能芯片和无源器件安装在基板上,占用面积大,可靠性差,不能满足封装系统越来越小型化的趋势,而基于标准硅工艺的三维异构封装技术(系统级封装SIP)运用TSV技术和空腔结构将不同衬底不同功能的芯片集成在一起,能在较小的区域内实现芯片的堆叠和互联,大大减小了功能件的面积并增加了其可靠性,越来越成为该产业未来发展的方向。但是对于高功率的射频芯片来说,工作时需要散发大量的热量,如果这些热量不能及时排出,就会出现整个模组可靠性大大降低,甚至直接烧毁的危险。另外跟射频芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频模组超薄堆叠方法,其特征在于,包括以下步骤,/nA、在硅片(101)正面开空腔(102),在空腔(102)内面朝下嵌入芯片(104),填充芯片(104)与硅片(101)之间的缝隙,对硅片(101)背面做减薄处理,形成超薄的硅片嵌入转接板,把多层嵌入芯片的硅片结构进行堆叠;/nB、在堆叠后的硅片正面制作TSV(105),填充金属,使TSV金属跟各层芯片(104)的PAD互联,然后抛光堆叠后的硅片正面并制作 RDL和正面焊盘(107);/nC:在堆叠后的硅片背面制作背面凹槽(108),沉积钝化层,在背面凹槽(108)内嵌入射频芯片(109),填充射频芯片(109)与硅片(101)之间的...

【技术特征摘要】
1.一种射频模组超薄堆叠方法,其特征在于,包括以下步骤,
A、在硅片(101)正面开空腔(102),在空腔(102)内面朝下嵌入芯片(104),填充芯片(104)与硅片(101)之间的缝隙,对硅片(101)背面做减薄处理,形成超薄的硅片嵌入转接板,把多层嵌入芯片的硅片结构进行堆叠;
B、在堆叠后的硅片正面制作TSV(105),填充金属,使TSV金属跟各层芯片(104)的PAD互联,然后抛光堆叠后的硅片正面并制作RDL和正面焊盘(107);
C:在堆叠后的硅片背面制作背面凹槽(108),沉积钝化层,在背面凹槽(108)内嵌入射频芯片(109),填充射频芯片(109)与硅片(101)之间的缝隙,在射频芯片(109)的正面做RDL和焊盘;
D、在PCB(110)表面焊接微流通道结构(111),在正面焊盘(107)植球,通过贴片工艺使步骤C形成的模组跟PCB(110)互联,同时射频芯片(109)跟微流道结构(111)互联,最后在射频芯片(109)表面贴装无源芯片(112)。


2.如权利要求1所述的射频模组超薄堆叠方法,其特征在于,所述步骤A的具体步骤如下:...

【专利技术属性】
技术研发人员:莫炯炯冯光建顾毛毛郭西高群
申请(专利权)人:浙江集迈科微电子有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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