【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于金属局部腐蚀的测试仪器设备。 在实际腐蚀体系中，长期以来，金属表面电位和电流密度分布的测量在国内外腐蚀科学界中均认为是十分困难的一个课题。七十年代后，在美国等发展了用扫描电极和简单模拟电路测量电位分布，但所用的参比电极较粗(外径约250微米)，金属电极易极化，受溶液浓度的影响大，而且与实际腐蚀体系差别大，电位分布图也不够清晰、直观。到1983年和1984年，日本和澳大利亚开始采用微计算机控制测量电位分布，使得在数据处理和结果显示方面得到改善。但还存在金属表面微区信号测量灵敏度和分辨率低，扫描测量装置复杂等缺点。微参比电极作X、Y两个方向扫描的装置，精度低，装置复杂。高速转动样品，进行园周扫描，微电极垂直扫描的装置也十分复杂，而且与一般的腐蚀体系差别较大，也不能测定电流密度分布。同时，现有装置的适用性较差，只能测量低浓度介质中的金属表面电位分布。 查阅1974年到1977年的德温特国际专利文摘累积和1978年到1984年的德温特专利文摘周报，还查阅了从1980年到1984年的日本专利文摘，均未见与本专利技术有关的专利。 本专利技术的目的是...
【技术保护点】
测试微区腐蚀电位电流密度分布的扫描装置，它由微参比电极、样品架、电机、连接装置、底板、立柱和控制驱动电路等部分组成，本专利技术的特征是：微参比电极（１）的微玻璃毛细管（２）的尖端外径小于１０微米，内阻小于５００ＫΩ，样品架（１９）固定在Ｘ轴滑块（１２）上，通过Ｘ轴丝杆（１３）与Ｘ轴步进电机（１７）连接，Ｘ轴滑块位于Ｘ轴滑轨（１１）上，可自由运动，微参比电极与固定在Ｙ轴滑块（２４）上的电极上下读数微调器（２５）连接，Ｙ轴滑块卡入横梁（２１）上的滑条（２３），并与Ｙ轴丝杆（２７）和Ｙ轴步进电机（２９）连接，自动扫描过程由微计算机中的ＣＰＵ通过可编程并行Ｉ／Ｏ接口ＰＰＩ（３３）控...
【技术特征摘要】
1、测试微区腐蚀电位电流密度分布的扫描装置，它由微参比电极、样品架、电机、连接装置、底板、立柱和控制驱动电路等部分组成，本发明的特征是微参比电极(1)的微玻璃毛细管(2)的尖端外径小于10微米，内阻小于500KΩ，样品架(19)固定在X轴滑块(12)上，通过X轴丝杆(13)与X轴步进电机(17)连接，X轴滑块位于X轴滑轨(11)上，可自由运动，微参比电极与固定在Y轴滑块(24)上的电极上下读数微调器(25)连接，Y轴滑块卡入横梁(21)上的滑条(23)，并与Y轴丝杆(27)和Y轴步进电机(29)连接，自动扫描过程由微计算机中的CPU通过可编程并行I/O接口PPI(33)控制，PPI输出控制信号控制CTC(34)向X轴步进电机和Y轴步进电机提供脉冲信号的分配和环形分配器(36)的工作方式。2、根据权利要求1所述的扫描装置，其特征是测量电流密度分布需两根微参比电极固定在一起，并同时扫描，其中一根的微玻璃毛细管(10)呈弯曲，两根微玻璃毛细管的尖端位于垂直于样品表面的同一直线上，两尖端的距离一般为300～600微米，最好约为400微米。3、根据权利要求1所述的扫描装置，其特征是X轴滑轨(11)固定在底板(31)上，X轴步进电机(17)通过轴承(14)和联轴部件(15)与X轴丝杆(13)连接，与X轴丝杆相连的X轴滑块(12)在X轴滑轨上可来回平动。4、根据权利要求1所述的扫描装置，其特征是样品架(19)和电解池(20)连接，最好通过细螺纹连接，电解池可以沿垂直轴转动，样品架和...
【专利技术属性】
技术研发人员：田昭武，林昌健，卓向东，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：35[中国|福建]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。