测试印刷电路板的方法和装置制造方法及图纸

一种测试印刷电路板的方法，其中电路板（１）在特定的接触点（３）与导电的测试触点元件（５）接触，这些接触点（３）与导线轨迹（２）连接；其中测试触点元件（５）或者其中的一部分根据特定的测试程序以时钟脉冲的方式，接连与测试电压源（８）连接；并且测量在每个测试时钟脉冲期间流经该测试触点元件（５）的测试电流或者与之相关的参数。特别是对于具有高接触点密度的待测试电路板（１），通过将电路板划分成多个测试区域，并且并行测试全部或者至少其中一部分测试区域，可以缩短测试时间。该方法特别适合于在多个面板中生产的电路板。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试印刷电路板的方法，其中电路板在特定的接触点与导电的测试触点元件接触，这些接触点与导线轨迹连接；其中测试触点元件或者其中的一部分根据特定的测试程序以时钟脉冲的方式，接连与测试电压源连接；并且测量在每个测试时钟脉冲期间流经该测试触点元件的测试电流或者与之相关的参数。电路板上的接触点用来与电子元件保持接触，并且通常设置在一定的栅格中。测试触点元件也根据栅格设置。可以通过测试针实现所说测试触点元件，但也可以通过其它方式实现，例如通过一个弹性的橡胶层，该橡胶层铺设在电路板上并且设有石墨焊珠镶嵌物。如果在这些点处压在一起，所说橡胶层在这些接触点是导电的。为了使电子元件变得越来越小，从而提高封装密度，电路板还需要设定接触点的栅格，从而使得它们越来越紧地在一起。结果，尽管这些在电器中使用的电路板通常尺寸变得越来越小，该尺寸的减小最好在制造过程中被利用，在这种制造方式中，几个基本图形或者面板设在原始电路板上。该原始电路板作为一个单元进行测试，并且只在后来分割成单个元件。待测试电路板上日益增大的接触点密度带来的结果是，在测试过程中执行的测量次数相应地变得很多。迄今为止已经作出了很大努力(到了一个日益更明显的程度)，来缩短用来替换待测试电路板的机械时间。与此同时，为了实现短的替换时间的目的，结构上的改进已经变得值得考虑。从这一点来看，如果测量时间与替换时间的比值保持增加，则不能令人满意，所以由两个时间的总和得到的循环时间最终基本上由该测量时间决定，并且为了缩短替换时间而进行的技术上的改进看起来不再合理。因此，本专利技术的目的在于缩短测量时间。接着在开始描述的方法，该方案包括将电路板划分成多个测试区域，其中每一个只包括部分数量的接触点，并行测试全部或者至少其中一部分测试区域。至此原始电路板已经被设想成多个面板，提供等于面板数量的一定数量的测试区域是有意义的，其中每个测试区域包含一个面板的导线轨迹。图1中给出了一个例子。这种情况中的一个优点在于所有面板的测量时间相等。例如，以如下方式测试每个测试区域，其中围成一个导线轨迹的接触点接连以时钟脉冲的方式与测试电压源连接，通过电流的测量来确定导线轨迹是否可能存在中断故障。在这之后，为了确定与该接触点连接的导线轨迹是否可能具有不希望的与其它导线轨迹的连接，并从而表现出绝缘故障，将有触点的地方与不和该接触点通过导线轨迹连接的所有其它接触点，以时钟脉冲的方式接连地与测试电压源连接。作为它的一个变型，还可以在并行测试过程中，首先测试一个面板的中断故障，并在测试另一个面板的过程中，开始它的绝缘故障测试。决不需要以使得它们只包含在这些测试区域中延伸的导线轨迹的方式，来进行测试区域设计。相反，这些测试区域的边界还能够以使得它们直接穿过导线轨迹的方式进行设计，使得这些导线轨迹在一定程度上跨区域。当面板的边界以同样的方式延伸时，这一点特别有用，并且将原始电路板分割成单个面板之后，会将跨区域的导线轨迹分开。图4中给出了这样一个例子。但是此处应当注意，要保证在并行测试中跨区域的导线轨迹不施加有从两侧同时作用到它们上的测试电压。通过对测试程序(算法)的适当设计可以保证这一点。通常还可能无需测试这些跨区域导线轨迹的中断故障，因为(如已经提到的)导线轨迹无论如何会被分割。根据本专利技术的教导是，决不受将这些区域的边界与面板的边界要始终保持一致的约束。当然可以更一般性地理解，并且当待测试电路板只具有高的接触点密度，而没有以面板的形式重复几次的基本图案时，也可以发现它的作用。本专利技术还涉及一种用于实现上面所述的方法的装置。在已知的方式中，该装置应当包含多个测试接触元件，用来与导线轨迹的接触点接触；测试电压源；程序控制装置；可变的连接装置，其能够由程序控制装置以一种方式切换，使得测试接触元件单独地或者成群地，根据特定的测试程序以时钟脉冲的方式接连地与测试电压源相连；以及计算装置，其中计算装置测量和计算流经测试接触元件的电流或者与之相关的参数。为了能够实现单个测试区域的并行测试，根据本专利技术，至少上面描述的部分硬件应当增大到对应于测试区域的数量。在实际中，这意味着至少应当提供多倍数量的用于实现测试区域的并行测试的计算装置。一般地，关于并行测试，注意到应当满足下面的两个条件1．测试应当互相独立地进行，并且一个测试操作不需要等待另一个测试操作的结果。换句话说，这意味着一个测试区域的测量结果必须不是另一个测试区域的测量的基础。2．对于并行测试，不应共用同一资源。在实际中，这意味着在多个配置中应当包括测量或者计算所需要的硬件。考虑到实现本专利技术的方法，还能够通过以已知的方式(例如在EP-B1-0，108，405中描述的)，并排放置的测试模块实现单个测试区域。根据本专利说明书的现有技术的起始点是通过另外购买模块，测试装置的所有者可以随意地扩展他的测试台。使得这些模块自动地并行操作的概念在该已经印刷的出版物中并没有出现。当然它们准备以一个单独的大模块的方式工作，使得能够执行非常远的测试点之间的测试，即使在很大的电路板中。从上面所述的现有技术的情况出发，因此已知一种测试印刷电路板的装置，具有几个并排设置的测试模块，与多个导电的测试接触元件相连接的每个所说测试模块，能够根据特定的测试程序与电路板上的接触点连接。如果将如上所述的本专利技术的并行测试的构思应用到已知装置中，得到的一个教导在于设计一个测试程序，使得这些测试模块同时并相互独立地测试相对于它们空间上分配的电路板的测试区域。下面参照附图说明本专利技术的实施例的例子。这些附图为图1是具有四块面板的待测试的原始电路板的俯视图；图2是穿过原始电路板的Ⅱ-Ⅱ的剖面图和用示意图表示的测试装置，通过传统的方式对该电路板进行测试；图3是图2的测试装置的一部分和已经根据本专利技术进行改变的电路元件，从而能够实现根据本专利技术的测试方法；图4是另一个具有两块面板的待测试原始电路板的俯视图，但具有跨区域的导线轨迹；图5是图2中的测试装置的一部分，适合于测试图4中的原始电路板，另外根据本专利技术的方式构造，作为图3的一个变型；图6是示意性表示的由几个自动测试模块组成的测试台；和图7至13是示意性表示的由几个测试模块组成的图6中的测试台的几个应用的例子。图1表示由四个面板A、B、C和D组成的待测试的原始电路板1。每个面板设有相同图案的导线轨迹2和接触点3，这里接触点3设在栅格中。接触点3用来与电子元件(图中没有示出)接触。图2表示电路板1的截面Ⅱ-Ⅱ。该截面中包括两块面板C和D的接触点3a，3b，3c，3d，3e和3f。此处电路板1放置在测试装置中，由于这些是已知的，仅以示意的方式画出。该测试装置包括一个适配器4，其设置在电路板1上，并且由例如三个彼此分开并设有用来让测试针5穿过的板组成。测试针5由金属制成。它们包括位于正对电路板1的面上的测试探针，并且在远离电路板1的末端上与开关矩阵模块7的相应的配对接触点6保持接触。开关矩阵模块7的配对接触点6设置在栅格中。在目前的情况中，电路板1的接触点3设置在栅格中；但它们还可以不同于栅格。另外，也不是绝对必须将开关矩阵模块7的配对接触点6设置在栅格中。适配器4还具有的任务是当接触点3和／或配对接触点6位于栅格以外时，保证与接触点3的终端连接。在这种情况本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试印刷电路板的方法，其中电路板（１）在特定的接触点（３）与导电的测试触点元件（５）接触，这些接触点（３）与导线轨迹（２）连接；其中测试触点元件（５）或者其中的一部分根据特定的测试程序以时钟脉冲的方式，接连地与测试电压源（８）连接；并且测量在每个测试时钟脉冲期间流经该测试触点元件（５）的测试电流或者与之相关的参数，其特征在于：将电路板（１）划分成多个测试区域，其中每一个只包括部分数量的接触点（３），并行测试全部或者至少其中一部分测试区域。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：福科德格路依特尔，汉斯荷曼希根，
申请(专利权)人：卢瑟梅尔泽有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]