TFT阵列驱动电流测定方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术目的在于高速、高精度地测定ＴＦＴ阵列像素驱动电流。通过测定ＴＦＴ阵列像素驱动电流的测定方法加以解决，包括：流到阵列驱动电流线的阵列驱动电流包含像素驱动电流成份与偏置电流成份，且对于复数个像素的一部分或全部的测定像素，包含阵列驱动电流测定步骤，其以特定时间间隔依次测定各测定像素驱动时的上述阵列驱动电流，偏置电流测定步骤，其于未实施阵列驱动电流测定步骤时测定偏置电流成份，偏置电流计算步骤，其根据复数个偏置电流的测定结果从而计算测定像素的阵列电流测定时的偏置电流，以及像素驱动电流计算步骤，其根据阵列电流测定步骤测定结果与偏置电流计算步骤计算结果的差值从而计算复数个像素的各像素的像素驱动电流。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种TFT阵列驱动电流测定方法及装置，尤其涉及一种驱动电流具有补偿成份的TFT阵列驱动电流测定方法及装置。
技术介绍
对于用于平面电视、个人电脑用的监视器、移动电话的显示装置等的平面显示面板，要求可对应快速变化的图像且能够再现鲜艳色彩。根据此种要求，近年来使用有响应速度较快的薄膜晶体管(TFT)阵列与显示颜色范围较宽的有机EL组件等自体发光组件的主动型显示面板引人瞩目。所谓自体发光组件，是依据流向组件的电流量从而产生光线的发光组件。因此，利用有自体发光组件的显示面板中所使用的TFT阵列必须能够控制自体发光组件的驱动电流。故而，自体发光组件用TFT阵列检查，于先前的液晶面板用TFT阵列的测定中，不仅需要测定有无电流，还需要测定电流量或电荷量。另外，由于以有机EL材料为主的自体发光材料价格昂贵，因而TFT阵列面板检查通常在封入自体发光材料之前进行，仅在通过检查的TFT阵列中封入自体发光材料。然而，于未封入有自体发光材料的状态下，由于不存在驱动的对象故而无驱动电流流过。因此，存有如下一种方法，其设置虚拟负荷电容取代自体发光材料，测定流到此负荷的电流从而检查能否进行电流控制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＴＦＴ阵列像素驱动电流测定方法，其特征为具有配置为阵列状的复数个像素，以及供给像素驱动电流到上述复数个像素的各像素的阵列驱动电流线，流到上述阵列驱动电流线的阵列驱动电流包含上述像素驱动电流成份与偏置电流成份，且　 　对于上述复数个像素的一部分或全部测定像素，包含阵列驱动电流测定步骤，其以特定时间间隔依次测定上述各测定像素驱动时的上述阵列驱动电流，偏置电流测定步骤，其于未实施上述阵列驱动电流测定步骤时，测定上述偏置电流成份，偏置电流 计算步骤，其根据复数个上述偏置电流的测定结果，计算上述测定像素于阵列电流测定...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：木暮将之，三宅泰弘，
申请(专利权)人：安捷伦科技公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]