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本发明目的在于高速、高精度地测定ＴＦＴ阵列像素驱动电流。通过测定ＴＦＴ阵列像素驱动电流的测定方法加以解决，包括：流到阵列驱动电流线的阵列驱动电流包含像素驱动电流成份与偏置电流成份，且对于复数个像素的一部分或全部的测定像素，包含阵列驱动电流测...
该专利属于安捷伦科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过安捷伦科技公司授权不得商用。

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