用于测试锁相环的方法和器件技术

一种用于测试具有电源输入的锁相环的测试器件，所述测试器件包括：电源单元，用于向锁相环的电源输入提供具有变化曲线的电源信号（Ｖ↓［ＤＤ］），其中形成所述变化曲线的宽度和高度，使得防止压控振荡器输出振荡输出信号（Ｕ↓［ｏｕｔ］）；用于禁止反馈信号到锁相环的相位比较器使得所述锁相环工作在开环模式下的装置；以及用于在将所述电源信号提供给电源输入时测量锁相环的测量信号的测量仪器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测试锁相环(PLL)的方法和器件。在附图说明图1中示出常规的锁相环(PLL)。锁相环的目的是使输出信号Vout与参考信号Vref同步。在图1中Vref表示参考信号并且输出信号被称为Vout。图1中的PLL电路的目的是提供相对于参考信号Vref具有固定频率关系的输出信号Vout。所期望的参考信号Vref的频率fref和输出信号的频率fout之间的频率关系如下fout＝N*fref(1)其中N为实数，其表示输出信号Vout与参考信号Vref之间的频率关系。图1所示的常规锁相环包括相位检测器、环路滤波器、压控振荡器VCO以及分频器1/N。存在几种公知的锁相环的实现方式，它们与图1所示的锁相环不一致，特别地，具有成比例且积分(integral)的电荷泵的锁相环是众所周知的。图1的相位检测器检测参考输入Vref与反馈输入Vfb之间的相位差。将相位检测器的输出提供给环路滤波器。环路滤波器过滤掉相位检测器的输出Ve中的高频分量并将滤波器输出提供给压控振荡器VCO。振荡器控制电压Vvco确定压控振荡器的周期性输出电压Vout的频率。压控振荡器的输出构成锁相环的输出信号。将输出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试具有电源输入的锁相环的测试器件，所述测试器件包括：电源单元，用于向所述锁相环的所述电源输入提供具有变化曲线的电源信号（Ｖ↓［ＤＤ］），其中形成所述变化曲线的宽度和高度，使得防止压控振荡器输出振荡输出信号（Ｕ↓［ｏｕｔ］） ；用于禁止反馈信号到所述锁相环的相位比较器使得所述锁相环工作在开环模式下的装置；以及用于在将所述电源信号提供给所述电源输入时测量所述锁相环的测量信号的测量仪器。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔斯DJ皮内达德格余维兹，亚历山大G格伦托伍德，克利斯蒂亚诺琴奇，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]