【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体集成电路的测试方法,特别是涉及一种。
技术介绍
一般用数字信号测试仪进行模拟信号的一些模拟量(如响应时间、幅值等参数)测试比较难。尤其对象过冲这一类发生时间较为短暂,不太容易捕捉的电信号。如果直接用测试仪内部直流测试单元进行测试,由于测试仪内部直流测试单元本身的内部继电器开闭需要时间,而内部继电器的开闭时间是以毫秒为时间单位,所以,等到内部继电器状态稳定,那些转瞬即逝的信号早就消失了。如果要获得测试结果,则需要借助外接示波器,但这又牵扯到波形是否能够捕捉到,以及示波器的带宽、外接示波器与数字信号测试仪是否匹配等问题。这些问题虽然可以解决,但是在实际测试过程中操作比较麻烦。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种,它操作简单,可获得比较理想的测试结果。为解决上述技术问题,本专利技术是采用如下技术方案实现的,首先,采用DIGITIZER(数字化仪器)通过测试仪将被测量的模拟信号转换成数字信号,并将转换后的数字信号存储于数字化仪器的数据存储器中,然后,测试仪将已采集的信号数据从数据存储器中调出并对信号进行还原,最后,对信号数据进行分析处理,得出测试结果。采用本专利技术的方法为一般不太复杂的模拟信号测试提供了一种新的解决方法,可获得比较理想的测试结果。采用这种方法的优点为第一,精度可以保证,由于数字化仪器属测试仪自带,往往精度和速度都很高,对于一般的测试在精度上是可以保证测试精确性的。第二,操作简便,无需外接其他仪器,并且由于数字化仪器自带数据存储器,所以数字化仪器会自动将信号的任何的细微快捷的变化如实记录下,存入存储器中,要求 ...
【技术保护点】
一种利用数字测试仪测量模拟信号的方法,其特征在于:首先,采用数字化仪器通过测试仪将被测量的模拟信号转换成数字信号,并将转换后的数字信号存储于数字化仪器的数据存储器中,然后,测试仪将已采集的信号数据从数据存储器中调出并对信号进行还原,最后,对信号数据进行分析处理,得出测试结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王逸峰,
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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