获取纳滤膜流动电位的方法及装置制造方法及图纸

获取纳滤膜流动电位的方法及装置，涉及从测量的跨膜电位中分离出流动电位的解析方法。本发明专利技术通过测定跨膜电位、压差、通量和截留率，根据Ｓｐｉｅｇｌｅｒ－Ｋｅｄｅｍ方程，对截留率和通量进行非线性最小二乘拟合，获得反射系数，把截留率趋于反射系数时体系的压差称为标记压差，对超过标记压差值的测量压差及对应的跨膜电位进行线性拟合，斜率的大小即为流动电位。测量装置包含恒温槽、储液槽、恒流泵和膜器，其中恒温槽中放置储液槽，恒流泵、储液槽和膜器通过非金属导管相连接，压力表、电位差计和流量计连接在膜器两侧。本发明专利技术提供的方法及装置能成功从跨膜电位中分离出流动电位，为表征纳滤膜的电性质以及分离性能提供数据支持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及获取纳滤膜流动电位的方法及装置，特别涉及从测量的跨膜电位中分 离出流动电位的解析方法。技术背景在膜分离过程中，当溶液和膜表面之间因外场力(如压力差、浓度差)的作用发 生相对运动时，会产生诸如流动电位和膜电位两种动电现象。流动电位是指一定压力 下电解质溶液以与膜面垂直方式通过多孔膜时，膜两侧产生的电位差与所施加的压力 差的比值。流动电位反映了膜表面有效电荷的分布情况。目前纳滤膜的流动电位的研究比较少。文献(Fievet， P. ， etal. "Analysis of the pressure-induced potential arising across selective multilayer membranes" , Journal of Membrane Science, 2005, 264(1-2): 1-12)中有从理论 角度对跨膜电位、流动电位和膜电位的关系做较为详细的阐述，认为一定压力下，电 解质溶液通过纳滤膜产生的电位差为跨膜电位，它由压力差引起的流动电位和浓度差 引起的膜电位组成。当通量趋于无穷大时，由浓度差引起的膜电位为定值，此时跨膜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种获取纳滤膜流动电位的方法，其特征在于该方法按照如下步骤进行：１）使原料液在压力差作用下透过纳滤膜，用压力表测量压力差；２）通过电位差计，测量跨膜电位；３）通过测量单位时间内透过液的质量，得到透过液的通量；４）由原料液中电解质的浓度ｃ↓［ｂ］和透过液中电解质的浓度ｃ↓［ｐ］，计算得到截留率Ｒ，其中Ｒ＝１－ｃ↓［ｐ］／ｃ↓［ｂ］；５）根据Ｓｐｉｅｇｌｅｒ－Ｋｅｄｅｍ方程，对体系所得的截留率和通量进行非线性最小二乘拟合，获得反射系数；６）把截留率接近反射系数时体系的压差称为标记压差，对超过标记压差值的测量压差及对应的跨膜电位进行线性拟合，斜率的大小即为流动电位的值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓琳，尚伟娟，王弘历，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]