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获取纳滤膜流动电位的方法及装置，涉及从测量的跨膜电位中分离出流动电位的解析方法。本发明通过测定跨膜电位、压差、通量和截留率，根据Ｓｐｉｅｇｌｅｒ－Ｋｅｄｅｍ方程，对截留率和通量进行非线性最小二乘拟合，获得反射系数，把截留率趋于反射系数时体系...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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