【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光、电测试技术，具体是指一种用于LED参数的测试方法。
技术介绍
半导体发光二极管(LED)已经被广泛应用于指示灯、信号灯、仪表显示、手机背光 源、车载光源等场合，白光LED技术也不断地发展，LED在照明领域的应用越来越广泛。 过去，对于LED的测试没有较全面的国家标准和行业标准，在生产实践中只能以相对参数 为依据，不同的厂家、用户、研究机构对此争议很大，导致国内LED产业的发展受到很大 影响。世界发达国家为了抢占LED研究的制高点，在LED标准和测试方面都投入了大量的人 力物力，在标准方面注重选择LED特性参数及测试方法研究。国内目前没有较全面的LED 及其照明器具国家和行业测试标准，也没有相应的检测系统。在生产中企业往往以样管封存 的参数为对比依据。不同性质的相关生产厂家、用户、研究所、高校经常对此存在很大的争 议，这种在学术界内部、企业界内部及相互之间对标准认识的不一致严重阻碍了产品的应用 和产业化的发展。虽然有一些企业和研究机构采购了部分检测设备，由于缺少专业的研究， 导致设备水平低、仪器配套性差、检测精度低，而且检测结果相互之间不好...
【技术保护点】
一种ＬＥＤ参数测试方法，该方法包括下述步骤：（１）把所需测试ＬＥＤ放置于夹具中，及通过ＰＣ机的外设把所需测试的参数输入ＰＣ机，进行预设置；（２）由ＰＣ机预设的极性检测参数传输给ＰＣＩ控制模块；（３）由ＰＣＩ控制模块向 极性检测模块发出极性检测信号；（４）极性检测模块对夹具上的ＬＥＤ进行极性检测，并把检测信号通过ＰＣＩ控制模块上传给ＰＣ机；（５）ＰＣ机发出测试信号及电测试参数到ＰＣＩ控制模块；ＰＣ机发出光测试参数传输到光测试模块，光 测试模块把ＰＣ机信号进行转化可识别信号，并驱动ＬＥＤ...
【技术特征摘要】
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