绝缘检查装置和绝缘检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种可更准确地检查电路基板的火花的绝缘检查装置和绝缘检查方法。绝缘检查装置（１）进行形成有多个布线图形（Ｐ）的电路基板（１０）的绝缘检查，具有：选择单元（２），其从所述多个布线图形中选择一个布线图形作为第一检查部（图２的Ｔ１），并选择该第一检查部以外的所有布线图形作为第二检查部（图２的Ｔ２）；电源单元（３），其与所述第二检查部连接并对该第二检查部施加电压，以便在所述第一检查部和所述第二检查部之间设定规定的电位差；第一电流检测单元（４），其与所述第一检查部连接，以便检测流过所述第一检查部的电流；以及判定单元（７），其将所述第一电流检测单元检测的电流值与规定基准值进行比较，根据该比较结果判定该电路基板是合格品还是不合格品。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及绝缘检查装置和绝缘检査方法，更详细地说，涉及可迅 速且准确地进行形成有多个布线图形的电路基板的绝缘检查的绝缘检查 装置和绝缘检查方法。
技术介绍
以往，具有多个布线图形的电路基板的绝缘检査是通过判定布线图 形间的绝缘状态的良好与否(是否己确保充分的绝缘性)，来判定该电路 基板是合格品还是不合格品。在这种现有的绝缘检査装置中，通过在成为检查对象的2个布线图 形间施加较高电压(例如200V)，来计算布线图形间的电阻值，并根据 该电阻值判定绝缘状态的良好与否。然而，在这种现有的绝缘检查装置中，由于在规定电压施加并经过 规定时间后处于稳定状态时开始检查，因而在施加规定电压期间产生了 火花的情况下计算出不准确的电阻值，具有不能准确判定绝缘状态的良 好与否的问题。为了解决该问题，本专利技术人提出了先前申请的专利文献1公幵的绝 缘检査装置和方法。专利文献l:特许揭载公报第3546046号(发布日2004年7月21曰)在该专利文献1公开的绝缘检査装置和方法中，在一对布线图形间 施加规定的直流电压，检测在从施加开始到达到规定电压值为止的期间 变化的电压，从而根据该电压变化检测火花，检测火花产生时的电压下 降来进行火花检测。这样，可通过检测施加电压的上升期间的电压变化 来检测火花，可解决上述问题。然而，在该专利文献1中不存在与针对火花状况等的检查有关的记载。因此，期望提出还考虑到火花状况等而可更准确地检查电路基板的 火花的绝缘检查装置和绝缘检査方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可更准确地检査电路基板的火花的绝缘检 査装置。并且，本专利技术的目的是提供一种可更准确地检查电路基板的火花的 绝缘检査方法。鉴于上述目的，本专利技术的绝缘检查装置是进行形成有多个布线图形 的电路基板的绝缘捡査的绝缘检查装置，其特征在于，该绝缘检查装置 具有选择单元，其从所述多个布线图形中选择成为检査对象的一个布 线图形作为第一检查部，并选择该第一检查部以外的成为检查对象的所 有布线图形作为第二检査部；电源单元，其与所述第二检查部连接并对 该第二捡查部施加电压，以便在所述第一检査部和所述第二检查部之间 设定规定的电位差；电流检测单元，其检测在所述第一检査部和第二检 查部之间流过的电流；以及判定单元，其将所述电流检测单元检测的电 流值与规定基准值进行比较，根据该比较结果判定该电路基板是合格品 还是不合格品。并且，在上述绝缘检查装置中可以是，所述第二检查部由所述第一 检查部的布线图形以外的布线图形构成，这些布线图形全部并联连接。并且，在上述绝缘检査装置中可以是，所述电流检测单元与所述第 一检查部或所述第二检查部串联连接。并且，在上述绝缘检査装置中可以是，所述选择单元顺次选择所有 所述多个导体图形作为第一检査部，所述不合格品的判定是在所述电流 值大于所述基准值的情况下，判定该电路基板是不合格品。并且，在上述绝缘检查装置中可以是，所述电流检测单元具有拥有 不同的2个量程的第一电流检测单元和第二电流检测单元，所述第一电流检测单元是为了检测与所述第一检查部相关联的火花的产生而设置 的，所述第二电流检测单元是为了测定第一检査部和第二检査部之间的 绝缘电阻值而设置的。并且，在上述绝缘检查装置中可以是，该绝缘检查装置还具有显示 单元，该显示单元以时序方式显示所述第一 电流检测单元检测的电流值。并且，在上述绝缘检查装置中可以是，所述判定单元具有火花检测 部和功率计算部，所述火花检测部根据来自所述第一电流检测单元的测 定电流值检测火花产生，所述功率计算部根据来自所述第一电流检测部 的测定电流值和来自所述电压检测部的测定电压值检测火花状况。并且，在上述绝缘检査装置中可以是，所述判定单元具有电阻计算 部，根据来自所述第二电流检测部的测定电流值和来自所述电压检测部 的测定电压值计算电阻值。并且，本专利技术的绝缘检査方法是进行形成有多个布线图形的电路基 板的绝缘检查的绝缘检查方法，该绝缘检查方法包含从所述多个布线 图形中选择成为检查对象的一个布线图形作为第一检查部，并选择该第 一检査部以外的成为检査对象的所有布线图形作为第二检查部的步骤； 对所述第二检查部施加电压，以使所述第一检查部和所述第二检査部之 间产生规定电位差的步骤；在对所述第二检査部施加了电压的状态下， 检测在所述第一检査部和第二检查部之间流过的电流的步骤；以及将流 过所述第一检查部的电流值与规定基准值进行比较，根据该比较结果判 定该电路基板是合格品还是不合格品的步骤。并且，本专利技术的记录介质是记录有电路基板的绝缘检查方法程序的 计算机可读取的记录介质，所述绝缘检查方法程序用于使进行形成有多 个布线图形的电路基板的绝缘检査的计算机执行如下步骤从所述多个 布线图形中选择成为检查对象的一个布线图形作为第一检查部，并选择 该第一检査部以外的成为检查对象的所有布线图形作为第二检查部的步 骤；对所述第二检查部施加电压，以使所述第一检査部和所述第二检查 部之间产生规定电位差的步骤；在对所述第二检查部施加了电压的状态 下，检测在所述第一检查部和第二检查部之间流过的电流的步骤；以及将流过所述第一检查部的电流值与规定基准值进行比较，根据该比较结 果判定该电路基板是合格品还是不合格品的步骤。根据本专利技术，可提供一种可更准确地检査电路基板的火花的绝缘检 查装置。并且，根据本专利技术，可提供一种可更准确地检查电路基板的火花的 绝缘检查方法。附图说明图1示出本专利技术的绝缘检查装置的一例的概略结构图。图2A是示出图1的选择单元进行的第一检查部和第二检査部的组合 的一例的图，示出选择开关组SWs内的最上面的布线图形Pl作为第一 检查部T1、并选择布线图形P2 P5作为第二检査部T2的状况。图2B是示出图1的选择单元进行的第一检査部和第二检查部的组合 的一例的图，示出选择布线图形P4作为第一检査部Tl、并选择布线图 形P1 P3、 P5作为第二检査部T2的状况。图3是示出图1的判定单元的功能的概略结构图。图4是示出合格品和不合格品的电路基板中的电流值变化的曲线 图。这里，双点虚线表示基准值A。图5A是示出合格品和不合格品的电路基板中的电流值变化的曲线图。图5B示出图5A所示的电流值的差值。这里，2条单点虚线表示容 许范围。图6是示出合格品和不合格品的电路基板中的电流值变化的曲线 图。这里，示出在时刻tl、 t2的变化情况。图7是示出由图1的绝缘检査装置执行的检查方法的流程图。 标号说明1:绝缘检查装置；2:选择单元；3:电源单元；4:第一电流检测 单元；5:第二电流检测单元；6:电压检测单元；7:判定单元；8:显 示单元；9:控制单元；10:存储单元；P:布线图形；SW:开关；SWs:开关组；Tl:第一检查部；T2:第二检查部；CP:触针。 具体实施例方式以下，参照附图说明本专利技术的绝缘检查装置和绝缘检査方法的实施 方式。另外，图中对相同要素附上相同标号，省略重复说明。该申请文件中记载的用语"电路基板"不限于印刷布线基板，例如是 挠性基板、多层布线基板、液晶显示器和等离子显示器用的电极板以及 半导体封装用的封装基板和实施了薄膜载体等各种布线的基板的总称。 即，电路基板包含可成为绝缘检查对象的所有基板。 图1是说明本专利技术的绝缘检查装置1的概略结构一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝缘检查装置，其进行形成有多个布线图形的电路基板的绝缘检查，其特征在于，该绝缘检查装置具有：选择单元，其从所述多个布线图形中选择成为检查对象的一个布线图形作为第一检查部，并选择该第一检查部以外的成为检查对象的所有布线图形作为第二检查部；电源单元，其与所述第二检查部连接并对该第二检查部施加电压，以便在所述第一检查部和所述第二检查部之间设定规定的电位差；电流检测单元，其检测在所述第一检查部和第二检查部之间流过的电流；以及判定单元，其将所述电流检测单元检测的电流值与规定基准值进行比较，根据该比较结果判定该电路基板是合格品还是不合格品。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：山下宗宽，
申请(专利权)人：日本电产理德株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]