电路分析方法技术

本发明专利技术公开了一种电路分析方法，主要步骤包括有：在电路中选取多个元件，并对选取的元件进行取样以产生多组取样参数，之后对取样参数进行模拟以产生多个模拟结果，最后再对取样参数及模拟结果进行线性回归的运算，以推算出各组取样参数及元件的贡献度，藉此在对相似电路进行电路分析时，可依据贡献度选择部分的元件并进行取样，而有利于减少取样参数的数目，并可提高电路分析的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，主要对取样参数及模拟结果进行运算，以 推算出各个元件的贡献度。
技术介绍
请参阅图1 ，为现有的步骤流程图。 一般在进行电路的分析时，需要对电路上的所有元件进行取样(sampling)并产生多组取样参数，例如 以蒙地卡罗(Monte Carlo Sampling)的方式进行取样，其中每一组取样参数皆相 对应于电路上的某一元件，且每一组取样参数中皆包括有多个参数，如步骤 11所示。在得知取样参数后可进一步对取样参数进行模拟以产生多个模拟结果，例 如以模拟器(simulator)对取样参数进行模拟，并产生相对应的模拟结果，如步 骤13所示。而后使用者将可以进一步对取样参数与模拟结果进行分析及应用， 如步骤15所示。在进行模拟时需要对大量的取样参数进行模拟，以提高模拟结果的正确 性。然而随着取样参数数量的增加，势必会增加模拟的困难度及所花费的模拟 时间，例如使用者需要对每一个不同的电路进行取样，并分别对取样参数进行 模拟以产生模拟结果。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于提供一种，主要对取样参数及模拟 结果进行线性回归的运算，藉此以得知各个取样参数及元件的贡献度。本专利技术的次要目的，在于提供一种，可由线性回归的结果取 得电路上各个元件的贡献度，并依据贡献度对相似电路进行元件的选择，藉此 将可减少需要进行取样的元件数目。本专利技术的又一目的，在于提供一种，其中通过减少需要进行取样的元件数目及需要进行模拟的取样参数的数目，将可提高对相似电路进行 分析的效率。本专利技术的又一目的，在于提供一种，可依据线性回归的结果 将贡献度最低的取样参数删除，并对其余的取样参数及模拟结果再次进行线性 回归运算，将可避免在运算的过程中误删贡献度大的取样参数。本专利技术的又一目的，在于提供一种，可利用一般的四则运算 消除取样参数内各个参数之间的倍数关系，藉此将可有效率的进行参数的取 样。为达成上述目的，本专利技术提供一种，其特征在于，主要包括 有以下步骤对多个元件进行取样，并产生多组取样参数； 对该取样参数进行模拟，并产生多个模拟结果；及将该取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算，并推算出该取样参数的贝酞度。所述的，其中，包括有以下步骤删除贡献度最低的取样参数。所述的，其中，删除的取样参数的数量为一组以上。 所述的，其中，包括有以下步骤对剩下的取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算。所述的，其中，包括有以下步骤将贡献度最低的取样参数的贡献度与其它取样参数的贡献度进行比对。所述的，其中，包括有以下步骤依据比对的结果决定是否删除贡献度最低的取样参数。所述的，其中，各组取样参数皆包括有多个参数。 所述的，其中，包括有以下步骤消除各个参数之间的相关性。所述的，其中，该参数之间存在有一倍数关系，并通过四则 运算将该参数间的倍数关系消除。所述的，其中，该取样参数相对应于该元件，并由该取样参 数的贡献度得知该元件的贡献度。所述的，其中，包括有以下步骤依据该元件的贡献度进行 电路分析。所述的，其中，该取样参数及该模拟结果皆为矩阵。 以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的 限定。附图说明图1为现有的步骤流程图； 图2为本专利技术一较佳实施例的步骤流程图； 图3为本专利技术又一实施例的步骤流程图； 图4为本专利技术又一实施例的步骤流程图。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术的技术方案作进一步更详细的描述。请参阅图2 ，为本专利技术一较佳实施例的步骤流程图。如图所 示，本专利技术所述的，主要是对多组取样参数及多个模拟结果进行 线性回归的运算，藉此以得到模拟结果及元件的贡献度(rank)。首先在电路中选取多个元件并进行取样(sampUng)，例如可以蒙地卡罗 (Monte Carlo Sampling)或LHS(Latin-Hypercube Sampling)等方式进行取样，并 产生多组与元件相对应的取样参数，此外，使用者亦可依据经验对电路中部分 或全部的元件进行取样，如步骤21所示。之后可以对多组取样参数进行模拟， 例如以模拟器(simulator)对取样参数进行模拟，并产生多个相对应的模拟结果 如步骤23所示。当然在进行模拟时，同样要对大量的取样参数进行模拟，才 可以得到更加正确的模拟结果。通过取样参数及模拟结果的取得，可进一步对多组取样参数及模拟结果进 行线性回归的运算，如步骤25所示，并由线性回归的结果推算出各个元件及 取样参数的贡献度，其中取样参数相对应于电路上的元件，并由取样参数的贡 献度得知元件的贡献度，如步骤27所示。其中取样参数及模拟结果之间进行 线性回归的方式如下—0.44050,8547_—18.1153—0.85140.30077.0564B =0.65390.503811.10910.23750.01451.3013矩阵A为取样参数而矩阵B则是取样参数的模拟结果，每一组取样参数 皆包括有多个参数，在本实施例中第一组取样参数及第二组取样参数皆包括有 四个参数，例如第一组取样参数为0.4405、 0.8514、 0.6539及0.2375，第二组 取样参数则为0.8547、 0.3007、 0.5038及0.0145。其中A矩阵的第一行为第一 组取样参数(0.4405、 0.8514、 0.6539及0.2375)， A矩阵的第二行则为第二组 取样参数(0.8547、 0.3007、 0.5038及0.0145)，并将矩阵A补上常数项成为矩 阵AlAl =1 0.4405 0.85471 0.8514 0.30071 0.6539 0.50381 0.2375 0.0145将矩阵Al进行转置(transpose)而成为一转置矩阵A1T，再将转置矩阵AlT乘上矩阵AlAlrAl =4 2.1833 1.6736 2.1833 1.4029 0.9654 1.6736 0.9654 1.0749将aFa1反转换并成为(AlTAl)一11.8842-2.3916 -0.7859-2.39164"014 -0.6783-0.7859 -0.6783 2.7631(A^Al)-1-将(AlTAl)"乘上转置矩阵A卩<formula>formula see original document page 7</formula>将(AlTAl)"Al r乘上矩阵B<formula>formula see original document page 7</formula>完成线性回归的运算并将(ArAl)"AlTB中的常数项消除得到矩阵I1 =0.05 20进一步将取样参数的矩阵A与矩阵I进行比对:A =0.4405 0.85470.8514 0.30070.6539 0.50380.2375 0.01451 =0.05 20得知第一组取样参数(矩阵A的第一行0.4405、 0.8514、 0.6539、 0.2375) 的贡献度为0.05，而第二组取样参数(矩阵A的第二行0.8547、 0.3007、 0.5038、 0.0145)的贡献度为20，因此第二组取样参数的贡献度大于第一组取样参数的 贡献度。一般而言取样参数的多个参数是以随机数的方式选取，在选取的过程当本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路分析方法，其特征在于，主要包括有以下步骤：　对多个元件进行取样，并产生多组取样参数；　对该取样参数进行模拟，并产生多个模拟结果；及　将该取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算，并推算出该取样参数的贡献度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张心兰，李泰成，陈升佑，
申请(专利权)人：络达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]