电路分析方法技术

本发明专利技术公开了一种电路分析方法，主要步骤包括有：在电路中选取多个元件，并对选取的元件进行取样以产生多组取样参数，之后对取样参数进行模拟以产生多个模拟结果，最后再对取样参数及模拟结果进行线性回归的运算，以推算出各组取样参数及元件的贡献度，藉此在对相似电路进行电路分析时，可依据贡献度选择部分的元件并进行取样，而有利于减少取样参数的数目，并可提高电路分析的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，主要对取样参数及模拟结果进行运算，以 推算出各个元件的贡献度。
技术介绍
请参阅图1 ，为现有的步骤流程图。 一般在进行电路的分析时，需要对电路上的所有元件进行取样(sampling)并产生多组取样参数，例如 以蒙地卡罗(Monte Carlo Sampling)的方式进行取样，其中每一组取样参数皆相 对应于电路上的某一元件，且每一组取样参数中皆包括有多个参数，如步骤 11所示。在得知取样参数后可进一步对取样参数进行模拟以产生多个模拟结果，例 如以模拟器(simulator)对取样参数进行模拟，并产生相对应的模拟结果，如步 骤13所示。而后使用者将可以进一步对取样参数与模拟结果进行分析及应用， 如步骤15所示。在进行模拟时需要对大量的取样参数进行模拟，以提高模拟结果的正确 性。然而随着取样参数数量的增加，势必会增加模拟的困难度及所花费的模拟 时间，例如使用者需要对每一个不同的电路进行取样，并分别对取样参数进行 模拟以产生模拟结果。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于提供一种，主要对取样参数及模拟 结果进行线性回归的运算，藉此以得知各个取样参数及元件的贡献度。本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路分析方法，其特征在于，主要包括有以下步骤：　对多个元件进行取样，并产生多组取样参数；　对该取样参数进行模拟，并产生多个模拟结果；及　将该取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算，并推算出该取样参数的贡献度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张心兰，李泰成，陈升佑，
申请(专利权)人：络达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]