【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及了，即使用原子力显微镜对微小区域的样品进行精确定位的方法。技术背景原子力显微镜是在纳米尺度上研究物体表面结构的一种重要工具，已广泛应用于物理、生物、化学等方面的研究。原子力显微镜专利技术初期一直是用于物理方面的研究，物理材料的普遍均一性决定了不需要对特定样品进行成像，从而不需要对待测样品进行精确定位，所以部分厂家的原子力显微镜没有配套光学系统(如日本岛津公司的9500J3型原子力显微镜，美国维易科精密仪器有限公司的Dimension 3100型原子力显微镜)。对于生物样品而言，样品的本身和制样过程决定了待测样品分布不均匀，对特定待测样品成像时，必须对其精确定位。特别是利用原子力显微镜技术研究样品随时间的演化或化学反应过程时，需要对特定待测样品反复成像，故精确定位技术显得尤为重要。比如要研究物理或化学修饰对染色体形貌的影响。首先由于制片问题，基底上往往仅存在一套分裂较好的染色体，所以首先要对单套染色体精确定位，成像，测量该条染色体表面形貌特征，然后取出样品，在基底上加入各种反应溶液进行物理或化学修饰，进行反应后这样比较该条染色体的物理或化学修饰前...
【技术保护点】
一种基于原子力显微镜的精确定位方法，其特征在于包括以下步骤： （１）在光学显微镜下找到待测样品； （２）在光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上方，记下样品所在的区域，利用吸附力将具有网格的薄片吸到样品的基底上； （３ ）将附着了薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜载物台上； （４）用原子力显微镜扫描薄片，逐级缩小扫描范围，将原子力显微镜的探针定位在步骤（２）中记录的样品所在的区域，即待测样品对应格子的上方，即实现了对待测样品的精确定位。
【技术特征摘要】
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