温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种原子力显微镜的精确定位的方法，该方法先通过相差光学显微镜找到待测样品，在相差光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上方，记录样品所在的区域，利用吸附力将薄片吸到样品的基底上，然后将吸附了薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。