【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种专用于分析铁精矿粉全铁含量的铁品位分析仪源靶装置。在铁矿石被开采后，需要尽快分析其全铁含量，以便确定合适的矿石配比。在原矿粉碎之后、精选之前，也需要立即分析其全铁含量，以确保铁精矿粉中全铁含量维持恒定。在精选过程中，更希望随时了解各级磁选及最后产品中全铁含量的变化，以便及时调整磁选机的工况。尾矿中全铁含量的即时分析则有助于及时了解矿粉利用率等信息。总之，在铁精矿粉的生产全过程中，都离不开对铁矿粉全铁含量的分析测定。现有技术中，分析铁精矿粉全铁含量的方法主要有化学方法和物理方法。化学分析方法的分析精度虽然较高，但化学分析速度慢、耗时长，而且需要配备一般原矿开采场所不具备的实验室和其它附属设备。因此，化学分析方法不适于在原矿开采场对铁矿粉全铁含量进行快速即时分析。荧光法是一种物理分析方法，它利用某些放射性元素发出的低能γ射线照射铁精矿粉样品，样品中的铁原子吸收γ射线后放出特征X射线，利用适当的探测器测出特征X射线强度并利用相对分析的方法，可以确定样品的全铁含量。目前，国内已有少数几个单位研制过基于上述原理的铁品位分析仪。但是，由于其原靶装置的结构设...
【技术保护点】
一种专用于分析铁精矿粉中全铁含量的铁品位分析仪源靶装置，其特征在于由壳体和安装在壳体内的源室、放射源和正比计数管以及样品构成；所述壳体由铁材制成，其顶盖上开有用于放置样品的圆孔；所述样品为圆片状，由精铁矿粉压制而成，通过带有涤纶托膜的样品架安装在壳体顶盖上的圆孔中，所述源室为梯形方块，由不锈钢材料制成并安装在壳体顶盖的下方，其底部开有用于放置放射源的圆孔并衬有高纯铝准直套，准直套的中心线与样品法线相交于样品中；所述放射源为［２３８］↑Ｐｕ面源，通过铜质源帽安装在源室底部圆孔中；所述正比计数管安装在壳体顶盖的下方，其铍窗的上方带有铅环，铅环内套装有高纯铝准直管，准直管中心线与...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙大泽，张居仁，秦业刚，张玉健，刘强，
申请(专利权)人：天津市技术物理研究所，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。