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铁品位分析仪源靶装置涉及一种专用于分析铁精矿粉全铁含量的铁品位分析仪的源靶装置，由铁壳和安装在壳内的源室↑［２３８］Ｐｕ、放射源和正比计数管以及铁精矿粉样品构成。样品受↑［２３８］Ｐｕ低能γ射线照射后放出特征Ｘ射线，利用正比计数管测出铁峰Ｘ...
该专利属于天津市技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过天津市技术物理研究所授权不得商用。

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