测试探针制造技术

一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体，及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线。定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度，故所述尖端点至少有一侧与所述对象物接触时，相较于以较为尖锐的角度接触所述对象物而言，所述尖端点即便被磨耗，也会再形成其他类似型态的等效接触位置，因此能在确保接触稳定性之下延长测试探针的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
测试探针
本技术涉及一种电性检测的零件，特别是涉及一种测试探针。
技术介绍
参阅图1，为一种现有的探针2，包含一个基部21，及四个数组排列而自所述基部21延伸的接触部22，每一个接触部22都具有一个形成于相反于所述基部21的一端的尖端点221。通过平均分布的所述接触部22，所述探针2较能因应不同型态的接点，以执行电性测试。在执行电性测试时，为了确保所述探针2与电性接点间的稳定接触，不仅是单纯使所述接触部22碰触对应的电性接点，甚至会希望通过使每一个尖端点221嵌刺进所述电性接点一段微小距离，以求提高电性测试的稳定性。为了提高单位面积的压力而让所述尖端点221更容易嵌刺，所述尖端点221势必是呈现尖锐的型态，才有利于减少接触的单位面积，以在提供相同外力的情况下，增加所述尖端点221嵌刺于所述电性接点的压力。然而，呈尖锐状的所述尖端点221虽然具有较佳的嵌刺性能，但也因此影响到自身的结构强度。在接触面积小却又需要承受接触时外力的情况下，相当容易产生磨耗而让所述尖端点221钝化。参阅图2，频繁承受外力而被磨耗的所述尖端点221，因不再呈现如磨耗前的尖锐角度，无法在接触时产生嵌刺效果，在无法维持测试稳定性的情况下也就必须汰换，使用寿命甚短。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种能延长可确保接触稳定性的使用寿命的测试探针。本技术测试探针，包含沿轴线延伸的本体，及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线。定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度。本技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。较佳地，所述接触单元的所述至少三个结构件环绕所述轴线而呈等角分布。较佳地，所述结构件是两两一组以所述轴线为中心而呈对称。较佳地，每一组的两个结构件的所述预设夹角相同。较佳地，所述结构件具有多个不同数值的预设夹角。较佳地，所述预设夹角为5至15度。本技术的有益的效果在于：因为构成每一个结构件的所述尖端点的棱线或曲度中，至少有一条棱线与所述对象物是以小于30度的预设夹角的模式接触，相较于传统以较尖锐的角度接触而嵌刺入所述对象物而言，所述尖端点即便被磨耗，也会再于周遭形成其他类似型态的等效接触位置，重新发挥相同的确保稳定接触的效果，因此能延长可确保接触稳定性的使用寿命。附图说明图1是一不完整的立体图，说明一现有的探针；图2是一局部放大的侧视示意图，说明所述现有的探针的缺点；图3是一不完整的立体图，说明本技术测试探针的一第一实施例；图4是一侧视图，配合图3说明所述第一实施例的一接触单元；图5是一示意图，说明使用所述第一实施例检测一球型接点的情况；图6是一示意图，配合图5说明所述第一实施例的功效；图7是一不完整的立体图，说明本技术测试探针的一第二实施例；图8是一侧视的示意图，说明所述第二实施例的所述接触单元；图9是一视角与图8不同的示意图，配合图8说明所述第二实施例的四个结构件；及图10是一示意图，说明所述第二实施例的功效。具体实施方式下面结合附图及实施例对本技术进行详细说明。参阅图3、4，本技术测试探针的一第一实施例，包含一沿一轴线L延伸的本体3，及一连接于所述本体3的接触单元4。要先说明的是，实际使用而执行测试时，会采用多个本第一实施例分别对应待测电子组件的多个电性接点，但后续为了明确呈现本技术测试探针的功效所在，皆是以单一个测试探针对应接触单一个电性接点的方式来说明。所述接触单元4包括四个环绕所述轴线L而自所述本体3延伸的结构件41，其中所述结构件41是呈等角分布，且每一个结构件41具有一适用于接触一对象物的尖端点P，及三条通过所述尖端点P的棱线411。定义一通过所述尖端点P且垂直所述轴线L的辅助面S，其中一条以朝向所述轴线L方向延伸的所述棱线411与所述辅助面S夹一预设夹角A，所述预设夹角为5至15度且较佳为10度。其中，与所述辅助面S夹所述预设夹角A的棱线411，较佳是朝向所述轴线L延伸的棱线411，而另外两条棱线411则是往相反两侧等角延伸，以让所述结构件41的型态以所述轴线L为基准而概呈对称，优化接触时的稳定性。参阅图5并配合图4，以本第一实施例接触一个球型接点9为例，通过四个平均分布的尖端点P同时顶抵所述球型接点9的连接方式(图5因绘示角度仅可见其中三个)，能使本第一实施例的所述结构件41确实接触所述球型接点9并形成稳定的电连接关系。接着同时参阅图5与图6，任一个结构件41的尖端点P长期使用下，难免会产生磨耗而失去原本的所述尖端点P，但在被磨耗消失的所述尖端点P周围，也会形成具体型态与所述尖端点P类似的其他再成点P’(图6中标示其中一个)。本第一实施例除了能发挥基本的稳定连接诉求，由于每一个结构件41都是借由至少一条呈现所述预设夹角A的棱线411所形成的所述尖端点P来接触，因此即便特定的所述尖端点P被磨耗，也能配合后续自然形成的再成点P’，取代被磨耗的所述尖端点P而产生类似的接触效果，延长本第一实施例得以稳定接触对象物的使用寿命。值得特别说明的是，本第一实施例是以四个结构件41为例而说明，但实际实施时，亦能采用三个、五个，或者其他数量的结构件41，只要所述结构件41均匀分布，亦能透过每一个结构件41至少有一条棱线411呈现特定数值的预设夹角A的方式，延长稳定接触对象物的使用寿命，并不以本第一实施例的型态为限。参阅图7，为本技术测试探针的一第二实施例，本第二实施例与所述第一实施例的差别在于：所述四个结构件41是两两一组以所述轴线L为中心而呈对称，且每一组的两个结构件41的所述预设夹角A相同，但如图8与图9所示地，两组结构件41的默认夹角A1、A2是分别呈现不同数值。也就是说，本第二实施例的四个结构件41中，具有两种不同的预设夹角A1、A2。同时参阅图8与图9，图8与图9所呈现的区隔，即是以所述轴线L为转轴而旋转90度所得。定义所述四个结构件41为两个呈现预设夹角A1的结构件41A，及两个呈现预设夹角A2的结构件41B。虽然所述四个尖端点P(图8与图9中皆仅标示其中三个)最初是呈现等高而理应会同时接触所述对象物，但因预设夹角A1、A2的不同，也会承受略有差异的受力，在受力有所差异的情况下，所述结构件41A、41B的磨耗程度也自然会有区隔。在长期使用而产生磨耗时，本第二实施例亦会如图10所示地再形成另一再成点P’，如同所述第一实施例利用磨耗而再形成的二次结构，达成维持接触稳定性的功效。除此以外，本第二实施例的所述结构件41A、41B的形态差异，会使得所述四个结构件41两两间不产生相同的磨耗，在所述结构件41两两以不同速度逐渐磨耗的情况下，所述结构件41则会两两陆续交替而承受相对较大的接触力本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体；其特征在于：所述测试探针还包含连接于所述本体的接触单元，所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线，定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体；其特征在于：所述测试探针还包含连接于所述本体的接触单元，所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线，定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度。


2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于：所述接触单元的所述至少三个结构件环绕所述轴线而呈...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖琦郎，
申请(专利权)人：颖崴科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71