测试探针制造技术

一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体，及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线。定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度，故所述尖端点至少有一侧与所述对象物接触时，相较于以较为尖锐的角度接触所述对象物而言，所述尖端点即便被磨耗，也会再形成其他类似型态的等效接触位置，因此能在确保接触稳定性之下延长测试探针的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
测试探针
本技术涉及一种电性检测的零件，特别是涉及一种测试探针。
技术介绍
参阅图1，为一种现有的探针2，包含一个基部21，及四个数组排列而自所述基部21延伸的接触部22，每一个接触部22都具有一个形成于相反于所述基部21的一端的尖端点221。通过平均分布的所述接触部22，所述探针2较能因应不同型态的接点，以执行电性测试。在执行电性测试时，为了确保所述探针2与电性接点间的稳定接触，不仅是单纯使所述接触部22碰触对应的电性接点，甚至会希望通过使每一个尖端点221嵌刺进所述电性接点一段微小距离，以求提高电性测试的稳定性。为了提高单位面积的压力而让所述尖端点221更容易嵌刺，所述尖端点221势必是呈现尖锐的型态，才有利于减少接触的单位面积，以在提供相同外力的情况下，增加所述尖端点221嵌刺于所述电性接点的压力。然而，呈尖锐状的所述尖端点221虽然具有较佳的嵌刺性能，但也因此影响到自身的结构强度。在接触面积小却又需要承受接触时外力的情况下，相当容易产生磨耗而让所述尖端点221钝化。参阅图2，频繁承受外力而被磨耗的所述尖端点221，因不再呈现如磨本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体；其特征在于：所述测试探针还包含连接于所述本体的接触单元，所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线，定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试探针，包含沿轴线延伸的本体；其特征在于：所述测试探针还包含连接于所述本体的接触单元，所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件，每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点，及至少一条通过所述尖端点的棱线，定义通过所述尖端点且垂直所述轴线的辅助面，所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度。


2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于：所述接触单元的所述至少三个结构件环绕所述轴线而呈...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖琦郎，
申请(专利权)人：颖崴科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71