【技术实现步骤摘要】
多功能组合探针
本技术涉及探针
,特别涉及多功能组合探针。
技术介绍
探针是用于测试PCBA的一种测试针,表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。探针根据电子测试用途可分为:光电路板测试探针:安装元器件前的电路板测试和开路、短路检测探针;在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;微电子测试探针:晶圆测试或芯片IC检测探针。探针主要采用的材质为W,ReW,弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般,A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。传统探针多是从单工位单向的检测,检测方向单一,检测效率低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供多功能,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:多功能组合探针,包括探针主体、第一探头和第二探头,所述第一探头与第二探头垂直,所述第一探头和第二探头分别与探针主体连接。优选的,所述探针主体的顶部设有第三连接件,所述探针主体还设有贯穿于探针主体的销针,所述探针主体的下方设有第一连接件,所述第一连接件的下方设有第二连接件。优选的,所述第一探头和第二探头设置在第二连接件上。优选的,所述第三连接件设有螺纹,能与外部设备连接。优选的,所述第二探头包括连接法兰、第四连接件和传感器,所述连接法兰与第四连接件相连,所述第四连接件与传感器相连。优选的,所述连接法兰与第二连接件相连。本技术的技术效果和优点: ...
【技术保护点】
1.多功能组合探针,其特征在于,包括探针主体(1)、第一探头(5)和第二探头(6),所述第一探头(5)与第二探头(6)垂直,所述第一探头(5)和第二探头(6)分别与探针主体(1)连接;/n所述探针主体(1)的顶部设有第三连接件(7),所述探针主体(1)还设有贯穿于探针主体(1)的销针(2),所述探针主体(1)的下方设有连接件,所述第一探头(5)和第二探头(6)设置在连接件上;/n所述连接件包括第一连接件(3)和设置在所述第一连接件(3)下方的第二连接件(4);/n所述第二探头(6)包括连接法兰(8)、第四连接件(9)和传感器(10),所述连接法兰(8)与第四连接件(9)相连,所述第四连接件(9)与传感器(10)相连。/n
【技术特征摘要】
1.多功能组合探针,其特征在于,包括探针主体(1)、第一探头(5)和第二探头(6),所述第一探头(5)与第二探头(6)垂直,所述第一探头(5)和第二探头(6)分别与探针主体(1)连接;
所述探针主体(1)的顶部设有第三连接件(7),所述探针主体(1)还设有贯穿于探针主体(1)的销针(2),所述探针主体(1)的下方设有连接件,所述第一探头(5)和第二探头(6)设置在连接件上;
所述连接件包括第一连接件(3)和设置在所述第一连...
【专利技术属性】
技术研发人员:曾奎,陈耀生,凡习稳,程瑞,
申请(专利权)人:东莞市欧比迪精密五金有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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