一种对谷物进行品质检测的方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种对谷物进行品质检测的方法及其装置，其中，检测方法首先是利用光谱技术对谷物进行光谱测量，接着利用计算机技术将检测到的光谱建立定标模型，同时，运用化学计量方法从复杂的背景与谱峰重叠的图谱中取得特定的信息，建立光谱特征与组分含量之间关系的模型；最后利用光谱技术对所需检测的谷物进行光谱测量，并用上述模型进行计算，得出检测结果。利用本发明专利技术中的检测方法与装置可以直接检测出谷物中的蛋白质、油脂、淀粉、水分和其他成份的含量与品质。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对谷物进行品质检测的方法及其装置。本专利技术中对谷物进行品质检测的方法，包括以下步骤(1)利用光谱技术对谷物进行光谱测量，获得光谱；(2)利用计算机技术将检测到的光谱建立定标模型；(3)运用化学计量方法从复杂的背景与谱峰重迭的图谱中取出特定的信息，并建立光谱特征与组分含量之间关系的模型；(4)利用光谱技术对所需检测的谷物进行光谱测量，将测得的光谱用上述模型进行计算，得出检测结果。其中，所述光谱技术是将波长在890纳米至1100纳米之间的近红外光穿过谷物，而谷物中的不同成份对该近红外光的吸收量不同。其中，所述计算机技术是利用谷物中含氢基团基频振动的合频和倍频信息用软件来分析。本专利技术中对谷物进行品质检测的装置，包括有一个外壳体；一个能够提供多种电压的电源；一个能够发出近红外光的光源体；一个能够接收光源体发出的光信号，并能将该光信号转化为电信号的光电检测器；一个能够带动光源体和光电检测器或检测仓作步进运动的驱动装置；一个能够对光电检测器所检测信号进行处理的单片机处理单元；一个用于显示由上述单片机处理单元计算结果的显示屏；一个能够将显示结构打印出来的打印机；一个能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对谷物进行品质检测的方法，包括以下步骤：（１）利用光谱技术对谷物进行光谱测量，获得光谱；（２）利用计算机技术将检测到的光谱建立定标模型；（３）运用化学计量方法从复杂的背景与谱峰重迭的图谱中取出特定的信息，并建立光谱特征与组分 含量之间关系的模型；（４）利用光谱技术对所需检测的谷物进行光谱测量，获得光谱，将该光谱用上述模型进行计算，得出检测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：单凯，
申请(专利权)人：单凯，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]